轮廓测量方法技术

本发明专利技术公开了一种轮廓测量方法，其包括：Ｓ１、相机标定；Ｓ２、对条纹Ｍｉ分别进行相位－高度标定；Ｓ３、将Ｍ１投影在被测物上，根据相位－高度标定求得各观测点的高度坐标，再根据相机标定求得该各观测点的三维坐标；Ｓ４、利用前一步较宽频条纹的测量结果辅助下一步较窄频条纹解包裹获取相位，再利用标定数据，完成一次更为精确的测量；Ｓ５、循环执行步骤Ｓ４，直至对被测物的轮廓测量达到预定的精度。本发明专利技术能够对复杂外形被测物表面轮廓进行大范围且高精度的测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，特别是涉及一种基于多频率正弦条纹投影的三维 。
技术介绍
现有的三维多种多样，常用的例如反傅里叶法或多步相位移法等 等。但在这些方法中，被测物表面的剧烈变化往往会对相位分析产生干扰，在测量精度方面 也存在着不足，因此很难实现对复杂外形被测物表面轮廓的高精度测量。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中的精度不足的缺 陷，提供一种能够对复杂外形被测物表面轮廓进行大范围且高精度测量的。本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题的一种，其特点 在于，该方法采用一测量装置，该测量装置包括一相机以及一投影单元，该方法包括=S1、进 行该相机的标定；s2、利用该投影单元生成正弦条纹Mi, i = 1 η，η为大于1的正整数，该 些条纹的频率 F(Mi)满足 F (M1) = 1/2F(M2) = 1/22F(M3) = ... = 1/2 (『印(Mn)，利用校正 板对该些条纹Mi分别进行相位-高度标定；S3、将M1投影在被测物上，移动该测量装置使该 相机FOV覆盖的被测物表面上各点到该测量装置的距离均在M1的测量范围内，获取由该相 机观测到的各观测点本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种轮廓测量方法，其特征在于，该方法采用一测量装置，该测量装置包括一相机以及一投影单元，该方法包括：Ｓ↓［１］、进行该相机的标定；Ｓ↓［２］、利用该投影单元生成正弦条纹Ｍ↓［ｉ］，ｉ＝１～ｎ，ｎ为大于１的正整数，该些条纹的频率Ｆ（Ｍ↓［ｉ］）满足Ｆ（Ｍ↓［１］）＝１／２Ｆ（Ｍ↓［２］）＝１／２↑［２］Ｆ（Ｍ↓［３］）＝．．．＝１／２↑［（ｎ－１）］Ｆ（Ｍ↓［ｎ］），利用校正板对该些条纹Ｍ↓［ｉ］分别进行相位－高度标定；Ｓ↓［３］、将Ｍ↓［１］投影在被测物上，移动该测量装置使该相机ＦＯＶ覆盖的被测物表面上各点到该测量装置的距离均在Ｍ↓［１］的测量范围内，获取由该相机观测到的各观测点的相位并对其解...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐亦新，李强，盛鹏，张栋，黄豪，
申请(专利权)人：上海复蝶智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]