定位方法技术

本发明专利技术是有关于一种定位方法，用于定位一待定位元件的一特征中心点至一定位目标，该方法包括以下步骤：一撷取影像步骤；一影像处理步骤，将该画面进行影像处理；一搜寻特征中心点步骤，利用经影像处理后的画面进行画面特征中心点的搜寻；一计算特征中心点与定位目标的差异量步骤；一马达依据差异量进行自动定位步骤；一搜寻特征中心点，再次计算该特征中心点与定位目标的差异量；以及一判断差异量是否落在容许误差范围内步骤，若是则完成定位，若否则再次执行自动定位步骤，直到完成定位。本发明专利技术可以使探针中心精确地定位于目标位置，并且可以节省定位时间、降低成本，非常适于实用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，特别是涉及一种可以使探针中心精确地定位于目标位置，并且可以节省定位时间、降低成本的关于探针的。
技术介绍
芯片插座(IC Socket)的功用是为了将芯片(芯片即晶片，以下均称为芯片)突出的多数个端子(pin或lead)分别电性连接于电路板的多数个焊垫(pad)，以进4亍测试。根据各式各样的芯片，也对应有各种形式的芯片插座，请参阅图1A与图1B所示，图1A是现有习知技术的一种芯片插座的结构示意图，图1B是图1A的结构剖面图。芯片插座1具有一上表面10,上表面10包含一定位面11供容置一芯片(未图示)。定位面11凸出设有多数个探针l2，每一探针12具有一定位凹槽13与一下端14;芯片在面向定位面11的表面上具有多数个接点，例如锡球。当芯片被置放在定位面ll后，芯片的接点与探针12的定位凹槽13个别连接，再藉由探针12的下端14与电路板的焊垫电性连接，之后进行测试。由于芯片的尺寸愈做愈小，探针12的直径自然也愈来愈小，该探针12的制作难度因此提高，探针12的制作品质也将主宰芯片插座1的特性与芯片测试结果的可靠性。为了确保芯片测试结果的可靠性，验证该芯片插座l的品质是必须的，而验证过程通常是藉由测量探针12的特性来完成。请参阅图2所示，是显示一种测量探针12特性的现有习知的示意图。 一种测量探针12特性的现有习知的中，包括有一测试装置2，具有一接脚25，接脚25的中心必须对准探针U的定位凹槽13的中心，方能精准测量探针12的特性，例如电阻值。本例的探针12除了具有定位凹槽13与下端14，也具有弹簧15，这种结构型式的〗冢针称为pogopin揮:针，但是其他型式的探针12同样也需要测量特性。在现有习知的中，芯片插座1被置于一平台3，固定接脚25的位置，利用人工目视方式，移动平台3进行定位，但是由于探针12的尺寸很小，即使在放大倍率的镜头下定位，也可能发生如图所示的偏移情形。有数据显示，当偏移量到达0. 05mm时，探针112电阻值的测量，将因接触面积不足而无法获得正确的结果。此外， 一个芯片插座1具有多数个探针12,为确保测量的可靠性，每根探针U都必须测量特性。习知的以目视对准探针12中心的方式，花费大量的时间，因而提高了成本。由此可见，上述现有的在方法与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但是长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般又没有适切的方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题，故亟需提供一种，使探针中心精确地定位于目标位置，并节省定位时间、降低成本。因此如何能创设一种新的，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。有鉴于上述现有的存在的缺陷，本专利技术人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新的，能够改进一般现有的，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作及改进后，终于创设出确具实用价值的本专利技术。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，克服现有的存在的缺陷，而提供一种新的，所要解决的技术问题是使探针中心精确地定位于目标位置，并且可以节省定位时间、降低成本，非常适于实用。本专利技术的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本专利技术提出的一，用于定位一待定位元件的一特征中心点至一定位目标，该方法包括以下步骤 一撷取影^象步骤； 一影像处理步骤，将该画面进行影像处理； 一搜寻特征中心点步骤，利用经影像处理后的画面进行画面特征中心点的搜寻； 一计算特征中心点与定位目标的差异量步骤； 一马达依据差异量进行自动定位步骤； 一搜寻特征中心点，再次计算该特征中心点与定位目标的差异量；以及一判断差异量是否落在容许误差范围内步骤，若是则完成定位，若否则再次执行自动定位步骤，直到完成定位。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。前述的，其中所述的撷取影像步骤是利用一电荷耦合元件(CCD)感测器撷取一模拟(模拟即类比，本文均称为模拟)影像，其中该电荷耦合元件感测器传送该模拟影像至一影像撷取卡，该影像撷取卡通过取样与量化，将该模拟影像转换为一数字(数字即数位，本文均称为数字)影像。前述的，其中所述待定位元件是一芯片插座的一探针阵列，该依据该探针阵列的探针排放位置与探针间距，逐一进行定位，使探针阵列的每一探针的中心定位至该定位目标于容许的该误差范围内。前述的，其中所述定位步骤完成后，还包含有一测试方法，该测试方法是利用一测试装置，该测试装置包含一接脚，在该每一探针定位完成时，该接脚与该每一探针的定位凹槽相接触，进行一特性测量。前述的，其还包含一前处理步骤，该前处理步骤将该探针阵列一特定位置的探针移动到该电荷耦合元件感测器的一可视范围内，该前处理步骤包含一外形比对(pattern matching)方法，该外形比对定义所要寻求的外形，排除其他外形的影像。前述的，其中所述的影像处理步骤包含一二值化影像处理，将影像换成一二维灰阶值阵列函数f (x,y)，其中x与y为像点在影像平面上的座标，f为像点的灰阶函数值，当f-O代表黑点，f=l代表白点。前述的，其中所述的影像处理步骤包含影像的增强(Enhancement)和修复(Restorat ion)处理。前述的，其中所述搜寻特征中心点包含以边界侦测的方式，获得该特征中心点的座标位置，其中该边界侦测可以依照待定位元件的形状设定不同的目标区域(ROI, Region of Interest)的搜寻范围，搜寻范围包含直线、矩形、椭圆形、环形、多边形及其组合。前述的，其中所述的马达是利用一运动控制卡传送控制信号给该马达的一驱动器，该驱动器放大该控制信号并驱动该马达运转，其中该马达〃K载一运动平台，该待定位元件固定于该运动平台上，该马达驱动该运动平台，依据该差异量进行自动定位，其中该马达包含两马达，其中一马达驱动该运动平台的X方向运动，另一马达驱动该运动平台的Y方向运动。前述的，其中该定位完成后，大约可达到0.01毫米的精度。本专利技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上可知，为达到上述目的，本专利技术提供了一种，包含撷取影像；影像处理；搜寻特征中心点；计算特征中心点与定位目标的差异量；马达自动定位；再次搜寻特征中心点与计算差异量；判断差异量是否在误差范围内，如果是则定位完成，如果否则重复马达自动定位直到定位完成，上述撷取影像包含外形比对方法，上述影像处理包含二值化影像方法，上述搜寻特征中心点包含边界侦测的方法。借由上述技术方案，本专利技术至少具有下列优点及有益效果本专利技术可以使探针中心精确地定位于目标位置，并且可以节省定位时间、降低成本，非常适于实用。综上所述，本专利技术具有上述诸多优点及实用价值，其不论在方法或功能上皆有较大的改进，在技术上有显著的进步，并且产生了好用及实用的效果，且较现有的具有增进的突出功效，从而更加适于实用，诚为6一新颖、进步、实用的新设计。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。附图说明图1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一定位方法，是用于定位一待定位元件的一特征中心点至一定位目标，其特征在于该方法包括以下步骤：　一撷取影像步骤；　一影像处理步骤，将该画面进行影像处理；　一搜寻特征中心点步骤，利用经影像处理后的画面进行画面特征中心点的搜寻； 　一计算特征中心点与定位目标的差异量步骤；　一马达依据差异量进行自动定位步骤；　一搜寻特征中心点，再次计算该特征中心点与定位目标的差异量；以及　一判断差异量是否落在容许误差范围内步骤，若是则完成定位，若否则再次执行自 动定位步骤，直到完成定位。

【技术特征摘要】
1、一定位方法，是用于定位一待定位元件的一特征中心点至一定位目标，其特征在于该方法包括以下步骤一撷取影像步骤；一影像处理步骤，将该画面进行影像处理；一搜寻特征中心点步骤，利用经影像处理后的画面进行画面特征中心点的搜寻；一计算特征中心点与定位目标的差异量步骤；一马达依据差异量进行自动定位步骤；一搜寻特征中心点，再次计算该特征中心点与定位目标的差异量；以及一判断差异量是否落在容许误差范围内步骤，若是则完成定位，若否则再次执行自动定位步骤，直到完成定位。2、 根据权利要求1所述的定位方法，其特征在于其中所述的撷取影像步骤是利用 一电荷耦合元件感测器撷取一模拟影像，其中该电荷耦合元件感测器传送该模拟影像至一影像撷取卡，该影像撷取卡通过取样与量化，将该模拟影像转换为一数字影像。3、 根据权利要求1所述的定位方法，其特征在于其中所述的待定位元件是一芯片插座的一探针阵列，该定位方法依据该探针阵列的探针排放位置与探针间距，逐一进行定位，使探针阵列的每一探针的中心定位至该定位目标于容许的该误差范围内。4、 根据权利要求3所述的定位方法，其特征在于其中所述的定位步骤完成后，还包含有一测试方法，该测试方法是利用一测试装置，该测试装置包含一接脚，在该每一探针定位完成时，该接脚与该每一探针的定位凹槽相接触，进行一特性测量。5、 根据权利要求3所述的定位方法，其特征在于其还包含一前处理步骤，该前处理...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄兆中，
申请(专利权)人：京元电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]