【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，尤其涉及一种自动化集成芯片测试装置。
技术介绍
1、芯片是半导体元件产品的统称，也可以将其理解为集成电路，是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路。在组合完成后，需要对芯片进行一定的测试，对芯片的性能进行检测。
2、经检索，中国专利申请号为202221828281.6的专利，公开了一种自动化芯片测试装置，包括底座，所述底座的顶部固定安装有l形板，所述l形板上固定安装有液压缸，所述液压缸的输出轴上固定安装有测试探针，所述底座上转动安装有转动柱，所述底座的顶部转动安装有转盘，所述转动柱的顶端与所述转盘固定连接，所述转盘的顶部开设有多个放置孔。上述专利中的一种自动化芯片测试装置存在以下不足：该装置未设置有温控装置，无法在营造出高温环境进行芯片的测试，在芯片使用时，可能会在一些特殊领域使用，会面对较高的温度，导致芯片温度不断上升，需要在高温环境下进行检测，测试芯片在高温时的可靠性。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺...
【技术保护点】
1.一种自动化集成芯片测试装置，包括测试组件和循环组件，其特征在于，所述测试组件包括测试箱(9)，所述测试箱(9)一侧外壁通过螺栓固定设置有铰链(16)，铰链(16)平行设置有两组，铰链(16)一端安装有箱门(6)，箱门(6)与测试箱(9)相适配，箱门(6)一侧安装有拉环(7)，测试箱(9)底部内壁通过螺栓固定设置有测试座(12)，测试座(12)顶部开设有多组安装槽(20)，安装槽(20)内均匀设置有针脚(21)，测试箱(9)顶部内壁通过螺栓固定设置有加热管(4)，加热管(4)设置有多组。
2.根据权利要求1所述的一种自动化集成芯片测试装置，其特征在于，所...
【技术特征摘要】
1.一种自动化集成芯片测试装置，包括测试组件和循环组件，其特征在于，所述测试组件包括测试箱(9)，所述测试箱(9)一侧外壁通过螺栓固定设置有铰链(16)，铰链(16)平行设置有两组，铰链(16)一端安装有箱门(6)，箱门(6)与测试箱(9)相适配，箱门(6)一侧安装有拉环(7)，测试箱(9)底部内壁通过螺栓固定设置有测试座(12)，测试座(12)顶部开设有多组安装槽(20)，安装槽(20)内均匀设置有针脚(21)，测试箱(9)顶部内壁通过螺栓固定设置有加热管(4)，加热管(4)设置有多组。
2.根据权利要求1所述的一种自动化集成芯片测试装置，其特征在于，所述循环组件包括旋转电机(18)，所述旋转电机(18)通过螺栓固定于测试箱(9)一侧外壁，旋转电机(18)一端连接有旋转轴(2)，旋转轴(2)可转动连接于测试箱(9)内部，旋转轴(2)外壁通过顶丝固定设置有扇叶(3)。
3.根据权利要求1所述的一种自动化集成芯片测试装置，其特征在于，所述测试箱(9)一侧外壁通过螺栓固定设置有电动伸缩杆(5)，电动伸缩杆(5)设置有两组，分别安装于测试箱(9)两侧外壁，电动伸缩杆(5)输出端可滑动...
【专利技术属性】
技术研发人员：潘鸿举，徐济长，张黎斌，
申请(专利权)人：安徽佰亿微电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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