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本技术公开了一种自动化集成芯片测试装置，包括测试组件和循环组件，所述测试组件包括测试箱，所述测试箱一侧外壁通过螺栓固定设置有铰链，铰链平行设置有两组，铰链一端安装有箱门，箱门与测试箱相适配，箱门一侧安装有拉环，测试箱底部内壁通过螺栓固定设置...
该专利属于安徽佰亿微电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安徽佰亿微电子技术有限公司授权不得商用。

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