【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于力学，尤其是涉及一种应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法及系统。
技术介绍
1、太赫兹时域光谱技术可以用来探测介电材料的内部参数，如材料内部的折射率。而材料的应力影响的折射率变化，基于应力-折射率理论，可以通过材料折射率的变化量，计算材料所受的应力。应用太赫兹时域光谱表征应力，需要搭建偏振太赫兹时域光谱系统。2007年，日本学者shin-ichiroebara等人构建了偏振太赫兹时域光谱系统，并实验测得拉伸聚四氟乙烯材料产生的折射率变化。2011年，tsuguhiro takahashi等人改进的实验系统，通过太赫兹透射信号强度的变化提取材料内部应力信息。近年，天津大学王志勇等人利用太赫兹时域光谱技术进行力学测量。2014年，宋威等人对传统thz-tds系统改建，基于应力光学定律提出太赫兹波段下的实验光弹性测量原理，利用实验验证了在太赫兹波段的光弹性理论，并利用改进的实验系统测量了聚四氟乙烯材料的内部应力。2021年，康凯和王志勇等人提出基于太赫兹时域光谱的内部应力场测量方法，并在2022年结合ct算法实现内部应力的三维表征
2、本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法，其特征在于：对受力试件采用欠采样方法获取至少一组太赫兹时域欠采样光谱数据，对所述太赫兹时域欠采样光谱数据进行处理，获取用于描述应力调制导致的欠采样误差的误差函数，对所述误差函数进行处理，计算应力调制系数和太赫兹信号峰值位置变化量，根据所述应力调整系数和所述太赫兹时域光谱的峰值位置变化量计算试件应力。
2.根据权利要求1所述的应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法，其特征在于：所述太赫兹时域欠采样光谱数据为包含峰值和谷值的太赫兹时域光谱数据。
3.根据权利要求1或2所述的应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法，...
【技术特征摘要】
1.一种应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法，其特征在于：对受力试件采用欠采样方法获取至少一组太赫兹时域欠采样光谱数据，对所述太赫兹时域欠采样光谱数据进行处理，获取用于描述应力调制导致的欠采样误差的误差函数，对所述误差函数进行处理，计算应力调制系数和太赫兹信号峰值位置变化量，根据所述应力调整系数和所述太赫兹时域光谱的峰值位置变化量计算试件应力。
2.根据权利要求1所述的应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法，其特征在于：所述太赫兹时域欠采样光谱数据为包含峰值和谷值的太赫兹时域光谱数据。
3.根据权利要求1或2所述的应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法，其特征在于：对所述太赫兹时域欠采样光谱数据进行处理，获取用于描述应力调制导致的欠采样误差的误差函数时，包括：
4.根据权利要求3所述的应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法，其特征在于：建立所述误差函数步骤中，包括：
5.根据权利要求4所述的应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法，其特征在于：计算所述误差函数的局部极小值步骤中，采用线性搜索算法计算所述误差函数的局部极小值。
6.根据权利要求1-2和4-5任一项所述的应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法，其特征在于：计算试件应力时包括：
7.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：康凯，李文慧，吕欣烨，郝学敏，张倩，牛润禾，
申请(专利权)人：天津商业大学，
类型：发明
国别省市：
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