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本发明提供一种应力测量的太赫兹时域欠采样光谱方法及系统，对受力试件采用欠采样方法获取至少一组太赫兹时域欠采样光谱数据，对太赫兹时域欠采样光谱数据进行处理，获取用于描述应力调制导致的欠采样误差的误差函数，对误差函数进行处理，计算应力调制系数和...
该专利属于天津商业大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津商业大学授权不得商用。

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