用于三同轴屏蔽效能测试系统校准的标准样品和校准方法技术方案

技术编号:42378314 阅读:17 留言:0更新日期:2024-08-16 15:03
本发明专利技术公开了一种用于三同轴屏蔽效能测试系统校准的标准样品和校准方法,所述标准样品为三层结构,内层为芯线,采用铜作为信号传输介质,中间层为绝缘层,以空气作为绝缘介质,外层为屏蔽层,屏蔽层的材料为铜,形成刚性管状屏蔽层;所述标准样品的转移阻抗如下计算:,其中,Z<subgt;T</subgt;为单位长度的屏蔽层的转移阻抗,σ为屏蔽层的材料电导率,为屏蔽层的材料内径,d为屏蔽层的厚度;屏蔽层的厚度大于0.9mm且小于9mm,使转移阻抗大于1mΩ/m且小于100mΩ/m;芯线和屏蔽层之间设置有支撑环,用于使芯线位于标准样品的中心。本发明专利技术能够实现三同轴屏蔽效能测试系统的校准,保障屏蔽效能测试结果的质量和可靠性水平。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电磁计量领域,具体涉及一种用于三同轴屏蔽效能测试系统校准的标准样品和校准方法


技术介绍

1、随着通信、航天、新能源汽车等行业对信号传输研究的不断深入,线缆或连接器的电磁屏蔽特性越来越受到研究者们的关注,线缆或连接器的电磁屏蔽特性直接影响信号传输的效果,从而影响飞机、新能源汽车等装备的整机电磁兼容性,关系到整机的质量可靠性。近年来,通信、航天、新能源汽车等行业的设计、研制、生产保障单位均认识到线缆或连接器的电磁兼容问题会最终反映在零部件以及系统的电磁兼容性上,因此在设计、制造、测试验证全过程中,采用屏蔽效能测试系统对线缆或连接器开展屏蔽特性测试,已经成为电磁兼容性的关键测试项目。

2、线缆或连接器的屏蔽特性主要包含转移阻抗和屏蔽衰减等参数,在低频时测量其转移阻抗,在高频时则测量其屏蔽衰减参数,通过对线缆或连接器的屏蔽特性进行评定,保障整体电磁兼容特性。屏蔽效能测试作为目前的研究热点,目前已有多种测试系统用于屏蔽效能的测试中,主要包括线注入法、三同轴法、混响室法等,其中三同轴屏蔽效能测试系统因其原理简单、测量准确度高,成为iec(国本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于三同轴屏蔽效能测试系统校准的标准样品,其特征在于,所述标准样品为三层结构,内层为芯线,采用铜作为信号传输介质,中间层为绝缘层,以空气作为绝缘介质,外层为屏蔽层,屏蔽层的材料为铜,形成刚性管状屏蔽层;

2.如权利要求1所述的标准样品,其特征在于,所述标准样品的屏蔽衰减与转移阻抗具有如下关系:

3.如权利要求1或2所述的标准样品,其特征在于,采用POM作为支撑环的材料。

4.如权利要求1或2所述的标准样品,其特征在于,所述标准样品的两端,分别端接有连接器,通过该连接器进行标准样品与三同轴屏蔽效能测试系统之间的连接。

<p>5.一种三同轴屏...

【技术特征摘要】

1.一种用于三同轴屏蔽效能测试系统校准的标准样品,其特征在于,所述标准样品为三层结构,内层为芯线,采用铜作为信号传输介质,中间层为绝缘层,以空气作为绝缘介质,外层为屏蔽层,屏蔽层的材料为铜,形成刚性管状屏蔽层;

2.如权利要求1所述的标准样品,其特征在于,所述标准样品的屏蔽衰减与转移阻抗具有如下关系:

3.如权利要求1或2所述的标准样品,其特征在于,采用pom作为支撑环的材料。

4.如权利要求1或2所述的标准样品,其特征在于,所述标准样品的两端,分别端接有连接器...

【专利技术属性】
技术研发人员:谭艳清张成梁琼崇罗永斌强晓霄
申请(专利权)人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室
类型:发明
国别省市:

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