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本发明公开了一种用于三同轴屏蔽效能测试系统校准的标准样品和校准方法，所述标准样品为三层结构，内层为芯线，采用铜作为信号传输介质，中间层为绝缘层，以空气作为绝缘介质，外层为屏蔽层，屏蔽层的材料为铜，形成刚性管状屏蔽层；所述标准样品的转移阻抗如...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））授权不得商用。