【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于微电子,具体涉及一种锰钴镍氧薄膜忆阻器及其制备方法。该忆阻器采用了新型的热敏材料,能够实现在较小的电压刺激下打开,同时具有制备简单、薄膜应力小、灵敏度高、高低阻态稳定性好、与cmos工艺兼容等优点,非常适合工业化生产。
技术介绍
1、冯·诺依曼架构自1945年提出以来,为现代计算机体系提供了理论指导,二进制编码、顺序执行等优势使其成为计算机领域主导。然而,该架构中的存储模块与运算模块是分离的,数据的频繁调用造成了运算速度的瓶颈与功耗的浪费。随着大数据以及人工智能时代的到来,这种存算分离架构难以满足海量的数据处理、超快的计算速度、超低的功耗等新需求。因此,存算一体技术成为新的研究方向。
2、纳米忆阻器件的出现,为存算一体技术带来新的希望。忆阻器是一种新型纳米器件,其阻值与流经的电荷相关且具有非易失性,同时基于忆阻器的随机存储器的集成度、功耗以及读写速度都要比传统的随机存储器优越。凭借高密度、低延迟、非易失性等特性,忆阻器的运用涵盖信息存储、混沌电路、人工神经网络等众多方向,并由此实现视觉、触觉、嗅觉、语音识别等人
...【技术保护点】
1.一种基于锰钴镍氧的新型忆阻器及其制备方法,属于微电子技术领域。本专利技术特征在于:为三明治结构+蓝宝石基底的RRAM,从上到下依次为顶部电极、阻变层、底部电极、基底;采用溅射或者电子束蒸发制备金属顶电极,采用磁控溅射制备锰钴镍氧阻变层,采用磁控溅射沉积制备ITO底电极,采用蓝宝石(非晶Al2O3)作为基底。
2.根据权利要求1所述的锰钴镍氧薄膜忆阻器,其特征在于:顶电极材料采用金(Au)、铂(Pt)或镍铬合金(NiCr)材料,其厚度为10~50nm。
3.根据权利要求1所述的锰钴镍氧薄膜忆阻器,其特征在于:阻变层材料采用锰钴镍氧材料,且其化
...【技术特征摘要】
1.一种基于锰钴镍氧的新型忆阻器及其制备方法,属于微电子技术领域。本发明特征在于:为三明治结构+蓝宝石基底的rram,从上到下依次为顶部电极、阻变层、底部电极、基底;采用溅射或者电子束蒸发制备金属顶电极,采用磁控溅射制备锰钴镍氧阻变层,采用磁控溅射沉积制备ito底电极,采用蓝宝石(非晶al2o3)作为基底。
2.根据权利要求1所述的锰钴镍氧薄膜忆阻器,其特征在于:顶电极材料采用金(au)、铂(pt)或镍铬合金(nicr)材料,其厚度为10~50nm。
3.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:顾泓,梁逸雷,朱鹏,杨晓琴,陈翔翔,李圣贤,
申请(专利权)人:材料科学姑苏实验室,
类型:发明
国别省市:
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