【技术实现步骤摘要】
技术介绍
技术实现思路
【技术保护点】
1.一种用于对生物样本进行显微机械加工以产生用于在低温带电粒子显微镜(低温CPM)中进行分析的片层的方法，所述方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法，所述方法包括以下步骤：在所述显微机械加工步骤中的至少一个显微机械加工步骤中使用显微机械加工工具。
3.根据权利要求1或2所述的方法，所述方法包括以下步骤：在所执行的步骤中的至少一个或多个所执行的步骤期间使用带电粒子显微镜来对所述样本进行成像。
4.根据权利要求1-3所述的方法，所述方法包括以下步骤：通过处理单元识别所述感兴趣区与所述周围环境之间的分离边缘。
5.根...
【技术特征摘要】
1.一种用于对生物样本进行显微机械加工以产生用于在低温带电粒子显微镜(低温cpm)中进行分析的片层的方法，所述方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法，所述方法包括以下步骤：在所述显微机械加工步骤中的至少一个显微机械加工步骤中使用显微机械加工工具。
3.根据权利要求1或2所述的方法，所述方法包括以下步骤：在所执行的步骤中的至少一个或多个所执行的步骤期间使用带电粒子显微镜来对所述样本进行成像。
4.根据权利要求1-3所述的方法，所述方法包括以下步骤：通过处理单元识别所述感兴趣区与所述周围环境之间的分离边缘。
5.根据权利要求3和4所述的方法，其中所述识别步骤是对通过所述带电粒子显微镜获得的图像执行的。
6.根据权利要求1-5所述的方法，所述方法包括以下步骤：从一个显微机械加工步骤到下一个显微机械加工步骤改变所述样本载体的取向。
7.根据权利要求1-6所述的方法，所述方法包括以下步骤：为所述显微机械加工步骤中的至少一个显微机械加工步骤提供束，特别是聚焦离子束(fib)。
8.根据权利要求7所述的方法，所述方法包括以下步骤：在产生所述片层的所述步骤中，相对于由...
【专利技术属性】
技术研发人员：M·多尼克，V·弗尔博夫斯卡，R·克里兹，J·库巴，T·弗兰克，
申请(专利权)人：FEI公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。