【技术实现步骤摘要】
本申请涉及一种芯片测试机构，属于芯片测试。
技术介绍
1、随着人工智能技术的快速发展，促进了图像处理器市场的爆发增长，对图像的清晰度要求也越来越高，然而对应处理高清图像需要的芯片的addc转换的位数也越来越大。这些芯片在测试过程中对信号的稳定性要求越来越高，从而需要更高阶的测试机构满足这类芯片的测试要求。
2、近年来，新能源汽车、智能家居、储能市场的需求迅猛增长，我国电源管理芯片仍然保持强劲增长。车载电源管理芯片是电源管理芯片中应用增长最快的领域，汽车电源管理芯片供应缺口大，国产替代势头迅猛。电源类芯片在测试过程中，由于芯片本身的功耗比较大，芯片容易发热，从而导致芯片的引脚上的焊锡与测试机构的探针发生沾粘，从而导致测试参数不稳定，容易将良品判为不合格品。
3、对应这些领域的芯片测试，传统的探针都是上下运动，在测试过程中探针针尖容易与芯片引脚上的焊锡发生沾粘，从而使沾粘后的探针阻值增加，导致客户芯片的测试良率下降，客户在使用过程中清洁频次增加。最终导致客户的测试成本和周期拉长，导致芯片的成本增加，从而失去市场。因此...
【技术保护点】
1.一种芯片测试机构，包括测试插座和若干个测试探针，其特征在于：所述测试插座上设有放置芯片的凹槽，所述测试插座的内部设有用于安装测试探针的安装槽，且安装槽的一端与凹槽相联通，形成第一出口，另一端贯穿测试插座，形成第二出口；所述测试探针的针体安装于安装槽，且其一端朝第一出口延伸至第一出口外，构成弹性测试端，另一端朝第二出口延伸至第二出口外，构成连接端；所述测试插座安装在测试板上，测试探针的连接端与测试板相接触，芯片从凹槽上方放入，芯片针脚推动测试探针的弹性测试端发生形变而蓄能，弹性测试端在形变蓄能的作用下抵靠于芯片针脚，进行芯片测试工作。
2.根据权利要求1...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试机构，包括测试插座和若干个测试探针，其特征在于：所述测试插座上设有放置芯片的凹槽，所述测试插座的内部设有用于安装测试探针的安装槽，且安装槽的一端与凹槽相联通，形成第一出口，另一端贯穿测试插座，形成第二出口；所述测试探针的针体安装于安装槽，且其一端朝第一出口延伸至第一出口外，构成弹性测试端，另一端朝第二出口延伸至第二出口外，构成连接端；所述测试插座安装在测试板上，测试探针的连接端与测试板相接触，芯片从凹槽上方放入，芯片针脚推动测试探针的弹性测试端发生形变而蓄能，弹性测试端在形变蓄能的作用下抵靠于芯片针脚，进行芯片测试工作。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试机构，其特征在于：所述测试插座包括上盖和底座；所述上盖设有一上、下开口的通孔；所述底座上设有所述安装槽；所述上盖固定安装在底座上，所述通孔与底座之间形成所述凹槽；所述底座上的安装槽的一端沿水平方向朝凹槽方向延伸并与凹槽相联通，之间构成测试探针的弹性测试端的安装空腔，另一端沿径向朝下贯穿底座，之间构成测试探针的连接端的安装空腔。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试机构，其特征在于：所述底座的安装槽内固定安装有探针安装座，所述探针安装座沿径向设有两层安装层，每层安装层间隔设有若干个子安装槽，两层安装层的子安装槽沿径向构成若干组测试探针安装槽。
4.根据权利要求3所述的一种芯片测试机构，其特征在于：每个所述测试探针包括两个子测试探针，两个子测试探针构成一组子测试探针；若干个测试探针构成的若干组子测试探针一一对应的安装于若干组测试探针安装槽，且位于上层安装层的子测试探针定义...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴学军，蒋卫兵，
申请(专利权)人：苏州微缜电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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