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本发明涉及一种芯片测试机构，属于芯片测试技术领域。为解决现有测试机构在测试芯片时，存在接触阻抗变化大，信号失真的问题。本申请包括测试插座和若干个测试探针，测试插座上设有放置芯片的凹槽，测试插座的内部设有用于安装测试探针的安装槽，安装槽的一端...
该专利属于苏州微缜电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州微缜电子科技有限公司授权不得商用。

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