一种测试探针制造技术

本技术涉及芯片测试技术领域，提供一种测试探针，包括工作台和硅胶条，所述工作台内部的一侧设置有硅胶条，所述硅胶条的底端设置有针本体，所述针本体顶端的一侧设置有芯片，所述硅胶条顶端的拐角位置处均设置有固定结构。本技术通过设置有硅胶条和针本体，在工作时，硅胶条产生弹力压在针本体顶端的一侧，通过硅胶条和针本体中间支点旋转，针本体顶端远离硅胶条的一侧接触在芯片的底端，在弹力的作用下，针本体的顶端始终接触在芯片的底端，使该装置接触性良好，信号传递稳定可靠，实现了该装置具有信号传递稳定的功能，从而提高了该测试探针在使用时的适用性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片测试，特别涉及一种测试探针。

技术介绍

1、随着芯片信号传递速度越来越快，因此对芯片测试用的探针要求也越来越高，需要一种特殊结构的测试探针来实现更高频率的传输要求，其种类多种多样，而一种测试探针是其中重要部分；

2、现有的测试探针由于其信号传递不稳定，每个零件的加工尺寸差异以及组装尺寸的差异，以及探针自身的感抗，容抗比较高，无法实现对射频信号的传输要求，所以在传递信号方面就有很大的差异，导致其在使用时适用性低下。

技术实现思路

1、本技术的目的是提供一种测试探针，用以解决现有的测试探针信号传递不稳定的缺陷。

2、为了解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：一种测试探针，包括工作台和硅胶条；所述工作台内部的一侧设置有硅胶条，所述硅胶条的底端设置有针本体；所述针本体顶端的一侧设置有芯片；所述硅胶条顶端的拐角位置处均设置有固定结构。

3、使用该装置时，通过设置有硅胶条和针本体，实现了该装置具有信号传递稳定的功能，从而提高了该测试探针在使用时的适用性；通过设置有固定结构，实现了该装置便于更换硅胶条的功能，从而提高了该测试探针在使用时的便捷性。

4、优选的，所述硅胶条的底端呈弧形设计，所述硅胶条的底端与针本体的底部相接触。在工作时，硅胶条产生弹力压在针本体顶端的一侧，通过硅胶条和针本体中间支点旋转，针本体顶端远离硅胶条的一侧接触在芯片的底端。

5、优选的，所述针本体的顶端呈弧形设计，所述针本体的顶端与芯片的底端相接触。在弹力的作用下，针本体的顶端始终接触在芯片的底端，使该装置接触性良好，信号传递稳定可靠。

6、优选的，所述固定结构包括卡接槽、卡接块、预留槽以及连接块，所述卡接槽设置于工作台内部硅胶条顶端的拐角位置处，所述卡接槽的内部均设置有卡接块，所述卡接块的底端均固定有连接块，所述卡接块的内部均设置有预留槽。

7、优选的，所述卡接块和工作台通过卡接槽构成卡合结构，所述预留槽的一端延伸至连接块的内部。将硅胶条移至工作台的底端，使卡接块的一端与卡接槽的一端相抵触。

8、优选的，所述连接块的底端延伸至工作台的外部并与硅胶条的顶端固定连接，所述连接块在硅胶条顶端的两侧呈对称分布。推动硅胶条，在预留槽的作用下，硅胶条会通过连接块带动卡接块移至卡接槽的内部，使硅胶条和工作台相互固定。

9、本技术的有益效果：

10、（1）通过设置有硅胶条和针本体，在工作时，硅胶条产生弹力压在针本体顶端的一侧，通过硅胶条和针本体中间支点旋转，针本体顶端远离硅胶条的一侧接触在芯片的底端，在弹力的作用下，针本体的顶端始终接触在芯片的底端，使该装置接触性良好，信号传递稳定可靠，实现了该装置具有信号传递稳定的功能，从而提高了该测试探针在使用时的适用性；

11、（2）通过设置有固定结构，将硅胶条移至工作台的底端，使卡接块的一端与卡接槽的一端相抵触，推动硅胶条，在预留槽的作用下，硅胶条会通过连接块带动卡接块移至卡接槽的内部，使硅胶条和工作台相互固定，实现了该装置便于更换硅胶条的功能，从而提高了该测试探针在使用时的便捷性。

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【技术保护点】

1.一种测试探针，包括工作台（1）和硅胶条（2）；

2.根据权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述硅胶条（2）的底端呈弧形设计，所述硅胶条（2）的底端与针本体（3）的底部相接触。

3.根据权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述针本体（3）的顶端呈弧形设计，所述针本体（3）的顶端与芯片（4）的底端相接触。

4.根据权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述固定结构（5）包括卡接槽（501）、卡接块（502）、预留槽（503）以及连接块（504），所述卡接槽（501）设置于工作台（1）内部硅胶条（2）顶端的拐角位置处，所述卡接槽（501）的内部均设置有卡接块（502），所述卡接块（502）的底端均固定有连接块（504），所述卡接块（502）的内部均设置有预留槽（503）。

5.根据权利要求4所述的一种测试探针，其特征在于：所述卡接块（502）和工作台（1）通过卡接槽（501）构成卡合结构，所述预留槽（503）的一端延伸至连接块（504）的内部。

6.根据权利要求4所述的一种测试探针，其特征在于：所述连接块（504）的底端延伸至工作台（1）的外部并与硅胶条（2）的顶端固定连接，所述连接块（504）在硅胶条（2）顶端的两侧呈对称分布。

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【技术特征摘要】

1.一种测试探针，包括工作台（1）和硅胶条（2）；

2.根据权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述硅胶条（2）的底端呈弧形设计，所述硅胶条（2）的底端与针本体（3）的底部相接触。

3.根据权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述针本体（3）的顶端呈弧形设计，所述针本体（3）的顶端与芯片（4）的底端相接触。

4.根据权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述固定结构（5）包括卡接槽（501）、卡接块（502）、预留槽（503）以及连接块（504），所述卡接槽（501）设置于工作台（1）内部硅胶条（2）顶端...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋卫兵，吴学军，
申请(专利权)人：苏州微缜电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：