【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体芯片，具体而言，涉及一种芯片测试装置。
技术介绍
1、集成电路半导体芯片在生产、出厂或使用前需要进行芯片测试，即对芯片的各个功能进行测试，比如进行cp(即chip probe)测试和ft(即final test)测试。由于待测试芯片的数量巨大，通常都需要扩充同测数(即同时测试的芯片数量)，以节省芯片的测试时间，但是测试机的资源数量是有限的，在这种情况下，如何能够在保证具有较高同测数的前提下，尽可能节省对测试机的资源占用是亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本申请的实施例提供了一种芯片测试装置，可以在保证芯片测试时具有较高同测数的前提下，有效降低对测试机资源的占用。
2、本申请的其它特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本申请的实践而习得。
3、本申请实施例的提供了一种芯片测试装置，包括：测试机，所述测试机包含有电源输出端口和第一信号输出端口；开关芯片，所述开关芯片中集成有多路开关电路，每一路开关电路的一端连接至所述电源输出端口，且另...
【技术保护点】
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述开关芯片还包含有第二受控端口，所述测试机还包含有第二信号输出端口；
3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述开关芯片中集成的多路开关电路连接至所述测试机上的同一个电源输出端口。
4.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述开关芯片还包含有数据输出端口，所述数据输出端口用于输出对所述第一受控端口输入的控制信号进行移位处理后得到的同步信号；
5.根据权利要求4所述的芯片测试装置，其特征在于，所述开关芯片还包...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述开关芯片还包含有第二受控端口，所述测试机还包含有第二信号输出端口；
3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述开关芯片中集成的多路开关电路连接至所述测试机上的同一个电源输出端口。
4.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述开关芯片还包含有数据输出端口，所述数据输出端口用于输出对所述第一受控端口输入的控制信号进行移位处理后得到的同步信号；
5.根据权利要求4所述的芯片测试装置，其特征在于，所述开关芯片还包含有第二受控端口，所述测试机还包含有第二信号输出端口；
6.根据权利要求4所述的芯片测试装置，其特征在于，各个所述开关芯片中集成的多路开关电路连接至所述测试机上的同一个电源输出端口，不...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭浪，
申请(专利权)人：深圳市昇维旭技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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