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深圳市昇维旭技术有限公司
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芯片测试装置制造方法及图纸
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文档序号:41436232
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本申请的实施例提供了一种芯片测试装置。该芯片测试装置包括:测试机,所述测试机包含有电源输出端口和第一信号输出端口;开关芯片,所述开关芯片中集成有多路开关电路,每一路开关电路的一端连接至所述电源输出端口,且另一端用于连接待测试芯片;其中,所述...
该专利属于深圳市昇维旭技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市昇维旭技术有限公司授权不得商用。
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