【技术实现步骤摘要】
本专利技术是有关于触控面板的技术,且特别是有关于一种。
技术介绍
随着触控屏幕(touch screen)的蓬勃发展,目前已有二种内建式触控屏幕的触控感测结构被广泛地应用,其中一种为被动式触控感测结构,而另一种为主动式触控感测结构,分别如图1及图2所示。图1即为采用被动式触控感测结构的触控屏幕的示意图。请参照图1,此触控屏幕包括有数据驱动器110、触控面板120及触碰信号处理电路130。触控面板120包括有多个像素,每一像素由薄膜晶体管(thin-film transistor, TFT)、储存电容Cst及像素电容Clc所构成。此外,触控面板120还包括有多条数据线140、多条栅极线150、多条共同电位线160、多个感测单元170、多条触碰信号读取线180-1及多条触碰信号读取线180-2。这些感测单元170即是用来感测使用者在触控面板120上的触碰位置,且每一感测单元170皆通过触碰信号读取线180-1的其中之一及触碰信号读取线180-2的其中之一电性耦接触碰信号处理电路130,以便让触碰信号处理电路130能依据触碰信号读取线180-1及180-2所传送的信号来分别取得触碰位置的横轴坐标及纵轴坐标。由图1可知,这种触控屏幕的感测解析度取决于触控面板120内的感测单元170的分布密度。然而,由于每一感测单元170皆需通过触碰信号读取线180-1及180-2耦接触碰信号处理电路130,且感测单元170的分布密度往往受限于触碰信号处理电路130的通道数,导致触控屏幕的感测解析度经常被迫下降。而若是制造商不愿牺牲触控屏幕的感测解析度,就得采用通道数较高也较贵的 ...
【技术保护点】
一种触控面板的触控感测结构,其特征在于,所述的触控感测结构包括: 一第一导体;以及 多条平行设置的第一导线,每一所述这些第一导线的其中一端电性耦接所述第一导体,以将所述第一导体划分为多个第一线段,且每一所述这些第一导线的阻值小于 每一所述这些第一线段的阻值, 其中,当所述触控面板的一显示区域受一外力时,对应于所述外力所指位置的第一导线便得以电性耦接一参考电位。
【技术特征摘要】
1、一种触控面板的触控感测结构,其特征在于,所述的触控感测结构包括一第一导体;以及多条平行设置的第一导线,每一所述这些第一导线的其中一端电性耦接所述第一导体,以将所述第一导体划分为多个第一线段,且每一所述这些第一导线的阻值小于每一所述这些第一线段的阻值,其中,当所述触控面板的一显示区域受一外力时,对应于所述外力所指位置的第一导线便得以电性耦接一参考电位。2、 如权利要求1所述的触控感测结构,其特征在于,所述第一导体具有 多个连续弯折。3、 如权利要求1所述的触控感测结构,其特征在于,所述第一导体是由 一第一部件及一第二部件所组成,所述第一部件用以电性耦接部分的第一导 线,而所述第二部件用以电性耦接其余的第一导线,且所述第一部件与所述 第二部件实体分离。4、 如权利要求l所述的触控感测结构,其特征在于,所述的触控感测结构更包括一第二导体;以及多条平行设置的第二导线,每一所述这些第二导线的其中一端电性耦接 所述第二导体,以将所述第二导体划分为多个第二线段,且每一所述这些第 二导线的阻值小于每一所述这些第二线段的阻值,其中,当所述触控面板的所述显示区域受所述外力时,对应于所述外力 所指位置的第二导线便得以电性耦接所述参考电位。5、 如权利要求4所述的触控感测结构,其特征在于,所述第二导体是由 一第三部件及一第四部件所组成,所述第三部件用以电性耦接部分的第二导线,而所述第四部件用以电性耦接其余的第二导线,且所述第三部件与所述第四部件实体分离。6、 如权利要求4所述的触控感测结构,其特征在于,所述第二导体具有多个连续弯折。7、 如权利要求4所述的触控感测结构,其特征在于,所述的触控感测结构更包括一第三导体,电性耦接所述这些第一导线的另一端,并平行于所述第一导体;以及一第四导体,电性耦接所述这些第二导线的另一端,并平行于所述第二导体。8、 如权利要求4所述的触控感测结构,其特征在于,所述第一导体及所述第二导体二者呈现十字交错。9、 如权利要求1所述的触控感测结构,其特征在于,所述的触控感测结构更包括两条触碰信号读取线,用以分别电性耦接所述第一导体的两个端点。10、 一种触控面板的触碰感测方法,其特征在于,所述触控面板采用一触控感测结构,所述触控感测结构包括有一第一导体及多条平行设置的第一导线,其中,每一所述这些第一导线的其中一端电性耦接所述第一导体,以将所述第一导体划分为多个第一线段,且每一所述这些第一导线的阻值小于每一所述这些第一线段的阻值,而当所述触控面板的一显示区域受一外力时,对应于所述外力所指位置的第一导线便得以电性耦接一参考电位,所述方法包括判断是否有触碰行为发生;以及当有触碰行为发生时,依据从所述第一导体的二端所分别测得的两个等效电阻的阻值来计算触碰位置的坐标。11、 如权利要求10所述的触碰感测方法,其特征在于,计算触碰位置的坐标的步骤包括利用所述第一导体的二端所测得的两个等效电阻的阻值来计算出触碰位置所对应的第一导线中,由触碰位置开始至所述第一导体的线段的阻值;以及依据计算出的阻值来决定触碰位置的坐标。12、 如权利要求10所述的触碰感测方法,其特征在于,当所述触控感测结构更包括一第二导体及多条平行设置的第二导线,每一所述这些第二导线的其中一端电性耦接所述第二导体以将所述第二导体划分为多个第二线段,且每一所述这些第二导线的阻值小于每一所述这些第二线段的阻值的时候,所述触碰感测方法更包括从所述第二导体的二端分别测得两个等效电阻;利用从所述第二导体的二端所测得的两个等效电阻的阻值来计算出触碰位置所对应的第二导线中,由触碰位置开始至所述第二导体的线段的阻值;以及依据计算出的阻值来决定触碰位置的坐标。13、 如权利要求12所述的触碰感测方法,其特征在于,当有两个实际的触碰位置时,包括依据一第一运算式及一第二运算式来计算由上述两个触碰位置幵始至所述第二导体的两个线段的二笔阻值,所述第一运算式及所述第二运算式依序如下列式(1)及式(2)所示 及 <formula>formula see original document page 4</formula>……(1)<formula>f...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄功杰,黄宏基,李锡烈,
申请(专利权)人:友达光电股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[]
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