确定触控面板上触碰事件的触碰点的处理电路及相关方法技术

技术编号:5186128 阅读:180 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了一种用于确定触控面板上触碰事件的触碰点的处理电路及其处理方法。该触控面板的多个感测电极会依据该触碰事件而分别产生多个感测信号,并依据该多个感测信号之间的差量来分别产生多个感测输出。本发明专利技术的处理电路包括储存单元以及运算单元。该储存单元储存多个已知参数,其中该多个已知参数包括该多个感测电极中至少一个感测电极的硬件参数以及对应该多个感测输出中至少一个感测输出的信号参数。该运算单元则耦接于该储存单元,用于依据该多个感测输出与该多个已知参数来确定该触碰事件的触碰点。本发明专利技术的处理电路能够快速并且准确地确定触控面板上触碰事件的触碰点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及触控技术,特别涉及一种用于确定触控面板上的触碰点的处理电路 及其相关方法。
技术介绍
在现代化电子商品中,电容式触控面板由于简单易操作的特性而常被用来作为 使用者与机器的沟通界面,其中投射式电容(projective capacitive)因具有支持多点触控 (multi touch),较高的透光率以及省电等特性而被广泛地应用在手机、车用导航器等可携 式装置上。然而,投射式电容在用于触控面板的测量时,通常在横轴方向或纵轴方向仅 有几个到几十个感测电极(sensing electrode),而当其应用在尺寸较大的面板上时,便需 要使用处理速度较快的处理器与大量的内存容量。在现有技术中,触碰点的计算通常是 用内插的方式,经由感测电极所测量到的感测输出所确定的预估峰值,或者以测量到的 感测输出值与极值的比例来预估测量点与极值的距离,然而,上述已知的触碰点确定方 式不但在系统的计算量上有着极大的需求,而且在准确度上仍有待加强。
技术实现思路
因此,本专利技术提供了一种能快速且准确地确定触控面板上触碰事件的触碰点的 处理电路。该触控面板的多个感测电极会依据该触碰事件而分别产生多个感测信号,并 依据该多个感测信号之间的差量来分别产生多个感测输出。该处理电路包括储存单元以 及运算单元。该储存单元储存多个已知参数,其中该多个已知参数包括该多个感测电极 中至少一个感测电极的硬件参数(hardware parameters)以及对应该多个感测输出中至少一 个感测输出的信号参数。该运算单元则耦接于该储存单元,用于依据该多个感测输出与 该多个已知参数确定该触碰事件的触碰点。根据本专利技术的处理电路,其中,该至少一个感测电极的硬件参数包括该至少一 个感测电极的中心与相邻感测电极的中心间的距离。根据本专利技术的处理电路,其中,该至少一个感测输出的信号参数包括斜率参数。根据本专利技术的处理电路,其中,该运算单元从该多个感测输出中选取出第一感 测输出与第二感测输出,并依据该第一、第二感测输出与该多个已知参数来确定该触碰 事件的触碰点;该第一感测输出与该第二感测输出分别对应该多个感测电极中两个相邻 的第一感测电极与第二感测电极;以及该第一感测输出为该多个感测输出的极值。根据本专利技术的处理电路,其中,该至少一个感测电极的硬件参数包括该至少一 个感测电极的中心与相邻感测电极的中心间的距离;以及该至少一个感测输出的信号参 数包括斜率参数。根据本专利技术的处理电路,其中,该运算单元依据该至少一个感测电极的中心与 该相邻感测电极的中心间的距离计算出该第二感测电极的位置,并依据该第二感测电极的位置、该斜率参数以及该第二感测输出确定该触碰事件的触碰点。根据本专利技术的处理电路,其中,该极值为最大值;以及该斜率参数为该第二感 测输出所对应的负斜率。根据本专利技术的处理电路,其中,该极值为最小值,以及该斜率参数为该第二感 测输出所对应的负斜率。根据本专利技术的处理电路,其中,该极值为最大值,以及该斜率参数为该第二感 测输出所对应的正斜率。根据本专利技术的处理电路,其中,该极值为最小值,以及该斜率参数为该第二感 测输出所对应的正斜率。本专利技术还提供了一种用于确定触控面板上触碰事件的触碰点的处理方法,该触 控面板的多个感测电极依据该触碰事件而分别产生多个感测信号,并依据该多个感测信 号之间的差量分别产生多个感测输出。该处理方法包括将多个已知参数储存于储存单 元,其中该多个已知参数包括该多个感测电极中至少一个感测电极的硬件参数以及对应 该多个感测输出中至少一个感测输出的信号参数;以及依据该多个感测输出与该多个已 知参数确定该触碰事件的触碰点。根据本专利技术的处理方法,其中,该至少一个感测电极的硬件参数包括该至少一 个感测电极的中心与相邻感测电极的中心间的距离。根据本专利技术的处理方法,其中,该至少一个感测输出的信号参数包括斜率参 数。根据本专利技术的处理方法,其中,依据该多个感测输出与该多个已知参数确定该 触碰事件的触碰点的步骤包括从该多个感测输出中选取出第一感测输出与第二感测输 出;以及依据该第一、第二感测输出与该多个已知参数确定该触碰事件的触碰点;其中 该第一感测输出与该第二感测输出分别对应该多个感测电极中两个相邻的第一感测电极 与第二感测电极,以及该第一感测输出为该多个感测输出的极值。根据本专利技术的处理方法,其中,该至少一个感测电极的硬件参数包括该至少一 个感测电极的中心与相邻感测电极的中心间的距离;以及该至少一个感测输出的信号参 数包括斜率参数。根据本专利技术的处理方法,其中,依据该第一、第二感测输出与该多个已知参数 确定该触碰事件的触碰点的步骤包括依据该至少一个感测电极的中心与该相邻感测电 极的中心间的距离计算出该第二感测电极的位置;以及依据该第二感测电极的位置、该 斜率参数以及该第二感测输出确定该触碰事件的触碰点。根据本专利技术的处理方法,其中,该极值为最大值,以及该斜率参数为该第二感 测输出所对应的负斜率。根据本专利技术的处理方法,其中,该极值为最小值,以及该斜率参数为该第二感 测输出所对应的负斜率。根据本专利技术的处理方法,其中,该极值为最大值,以及该斜率参数为该第二感 测输出所对应的正斜率。根据本专利技术的处理方法,其中,该极值为最小值,以及该斜率参数为该第二感 测输出所对应的正斜率。附图说明图1为本专利技术用于处理触控面板的感测输出的处理电路的一个实施例的示意 图。图2为图1中的感测电极所产生的感测信号的特征曲线以及相对应的感测输出的 特征曲线的一个实施例的示意图。图3为图1中的感测电极所产生的感测信号的特征曲线以及相对应的感测输出的 特征曲线的另一个实施例的示意图。图4为依据本专利技术的一个实施例确定触控面板上触碰事件的触碰点的示意图。图5为依据本专利技术的另一个实施例确定触控面板上触碰事件的触碰点的示意 图。图6为依据本专利技术的一个实施例的触控面板。图7为依据本专利技术的一个实施例确定图6中的该触控面板上触碰事件的触碰点的 示意图。具体实施例方式请参照图1,图1为本专利技术用于处理触控面板的感测输出的处理电路的一个实施 例的示意图。触控面板100内包括(但不限于)多个感测电极,而在不影响本专利技术技术 披露之下,图1仅显示出五个感测电极101-105,其中感测电极101-105的中心分别位于 五个定位轴Yl Y5上,此外,每个感测电极的宽度均为dl,而两个相邻感测电极的距 离为d2。触控面板100内的各个感测电极依据触碰事件(在图1中以虚线圆形TE来表 示该触碰事件(例如使用者的手指触碰触控面板100)的触碰面积)而分别产生相对应的 感测信号,并依据这些感测信号之间的差量来分别产生多个感测输出。本实施例中,处 理电路200包括储存单元201以及运算单元202。储存单元201储存多个已知参数,其中 该多个已知参数包括感测电极Al A5中至少一个感测电极的硬件参数以及对应这些感 测输出中至少一个感测输出的信号参数。运算单元202耦接于储存单元201,用于依据这 些感测输出与这些已知参数确定该触碰事件的触碰点,也就是虚线圆形TE的中心点。 请参照图2,图2为触碰事件发生时,由感测电极A1-A5分别产生的感测信号 Sl S5的特征曲线以及相对应的感测输出Dl D4的特征曲线。在此实施例中,感测 输出Dl D4的特征曲线本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于确定触控面板上触碰事件的触碰点的处理电路,所述触控面板的多个感测电极依据所述触碰事件而分别产生多个感测信号,并依据所述多个感测信号之间的差量分别产生多个感测输出,所述处理电路包括:储存单元,用于储存多个已知参数,其中所述多个已知参数包括所述多个感测电极中至少一个感测电极的硬件参数以及对应所述多个感测输出中至少一个感测输出的信号参数;以及运算单元,耦接于所述储存单元,用于依据所述多个感测输出与所述多个已知参数来确定所述触碰事件的触碰点。

【技术特征摘要】
1.一种用于确定触控面板上触碰事件的触碰点的处理电路,所述触控面板的多个感 测电极依据所述触碰事件而分别产生多个感测信号,并依据所述多个感测信号之间的差 量分别产生多个感测输出,所述处理电路包括储存单元,用于储存多个已知参数,其中所述多个已知参数包括所述多个感测电极 中至少一个感测电极的硬件参数以及对应所述多个感测输出中至少一个感测输出的信号 参数;以及运算单元,耦接于所述储存单元,用于依据所述多个感测输出与所述多个已知参数 来确定所述触碰事件的触碰点。2.根据权利要求1所述的处理电路,其中,所述至少一个感测电极的硬件参数包括所 述至少一个感测电极的中心与相邻感测电极的中心间的距离。3.根据权利要求1所述的处理电路,其中,所述至少一个感测输出的信号参数包括斜 率参数。4.根据权利要求1所述的处理电路,其中,所述运算单元从所述多个感测输出中选取 出第一感测输出与第二感测输出,并依据所述第一、第二感测输出与所述多个已知参数 来确定所述触碰事件的触碰点;所述第一感测输出与所述第二感测输出分别对应所述多 个感测电极中两个相邻的第一感测电极与第二感测电极;并且所述第一感测输出为所述 多个感测输出的极值。5.根据权利要求4所述的处理电路,其中,所述至少一个感测电极的硬件参数包括 所述至少一个感测电极的中心与相邻感测电极的中心间的距离,所述运算单元依据所述 至少一个感测电极的中心与所述相邻感测电极的中心间的距离计算出所述第二感测电极 的位置;并且所述至少一个感测输出的信号参数包括斜率参数,所述运算单元依据所述 第二感测电极的位置、所述斜率参数以及所述第二感测输出来确定所述触碰事件的触碰 点ο6.一种用于确定触控面板上触碰事件的触碰点...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴东格
申请(专利权)人:瑞鼎科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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