一种滚珠头测试探针制造技术

本申请涉及测试探针技术领域，更具体地说，它涉及一种滚珠头测试探针，将该滚珠头测试探针安装于测试装置中，检测时，通过将滚珠头测试探针整个向测试PCBA移动，直至滚珠与测试PCBA表面抵接，此时，滚珠、顶针、弹簧以及第二针管依次受到挤压，并进行弹性收缩，最终第二针管与测试PCBA接触，以此实现测试PCBA与第二针管、第一针管的电流测试连通，加之顶针靠近所述滚珠一侧设置有倾斜面，即使出现卡簧的情况，滚珠在挤压收缩进第二针管内时，也能够更轻松的容纳进第二针管内，避免滚珠和测试PCBA的过度挤压，造成测试PCBA的挤压损坏。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及测试探针，更具体地说，它涉及一种滚珠头测试探针。

技术介绍

1、测试探针，应用于电子测试中测试pcba的测试连接电子元件。

2、现有的测试探针在测试pcba时，为避免对pcba剐蹭严重，利用滚珠头将传统的面接触改成点接触，以此减少与pcba板的接触面积，保护pcba板的完整性和良品率。

3、但是，现有滚珠头的设置在弹簧的挤压下，常出现卡簧的情况，即滚珠头无法下陷，导致弹簧无法压缩，测试探针一位下降，在pcba面上按压出很深的痕迹，甚至对pcba造成破坏。

技术实现思路

1、针对上述现有技术的不足，本申请的目的是提供一种滚珠头测试探针，具有更轻松的容纳滚珠，避免滚珠和测试pcba的过度挤压，造成测试pcba的挤压损坏的优点。

2、本申请的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种滚珠头测试探针，包括设有内腔的第一针管和套设于所述第一针管内的第二针管，所述第二针管与所述第一针管内部贯通，所述第二针管内嵌设有滚珠，所述第二针管内部和所述第一针管内部贯通的行程内滑动有本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种滚珠头测试探针，其特征是：包括设有内腔的第一针管和套设于所述第一针管内的第二针管，所述第二针管与所述第一针管内部贯通，所述第二针管内嵌设有滚珠，所述第二针管内部和所述第一针管内部贯通的行程内滑动有顶针，所述顶针一端与所述滚珠表面抵接，所述顶针另一端设置有弹簧，所述顶针靠近所述滚珠一侧设置有倾斜面，所述第一针管的端部和所述第二针管的端部分别设置有由上之下向中心轴方向收拢的第一收口和第二收口，所述第二针管外壁远离所述滚珠一侧设置有能够所述第一收口抵接的第一凸沿，所述第二针管内壁远离所述滚珠一侧设置有能够与所述顶针抵接的第二凸沿，限制顶针的活动空间。

2.根据权利要求1所述...

【技术特征摘要】

1.一种滚珠头测试探针，其特征是：包括设有内腔的第一针管和套设于所述第一针管内的第二针管，所述第二针管与所述第一针管内部贯通，所述第二针管内嵌设有滚珠，所述第二针管内部和所述第一针管内部贯通的行程内滑动有顶针，所述顶针一端与所述滚珠表面抵接，所述顶针另一端设置有弹簧，所述顶针靠近所述滚珠一侧设置有倾斜面，所述第一针管的端部和所述第二针管的端部分别设置有由上之下向中心轴方向收拢的第一收口和第二收口，所述第二针管外壁远离所述滚珠一侧设置有能够所述第一收口抵接的第一凸沿，所述第二针管内壁远离所述滚珠一侧设置有能够与...

【专利技术属性】
技术研发人员：涂炳超，
申请(专利权)人：东莞市台易电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：