【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光机装调，具体涉及一种测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法及系统。
技术介绍
1、激光远场光斑主要用于机载光电稳瞄系统对目标自动跟踪和精确打击能力，随着机载武器对精密测距和精准打击的需求升级，激光远场光斑的圆柱度和几何中心影响含激光等多个传感器产品多光轴一致性，而多光轴一致性是系统跟踪误差的主要误差源，直接影响跟踪精确，当稳定误差超过一定数值后，将导致稳定系统瞄准线完全脱离目标以及跟踪目标失败。
2、现有测试方法易受测量环节影响、耗时长、效率低、效果差等，该专利技术通用于含激光等多个传感器产品的激光质量评价，测试步骤简单、测量精度高，具有广阔的应用前景。
技术实现思路
1、针对现有技术中存在的上述问题，本专利技术的目的在于提供一种测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，该方法在可见光摄像机的基础上进行功能扩展，利用自准直平行光管、远场靶布、可见光摄像机以其偏差测量系统构建测试平台，代替实验室环境，实现对激光远场光斑进行测试和反馈。
2、为了实现上述目的，本申请提供了如下技术方案，提供一种测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，用于测试光电设备的远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差，所述光电设备包括激光传感器以及从红外传感器和可见光传感器中选出一种或多种传感器，所述方法包括如下步骤：
3、s1：配置可见光摄像机；
4、s2：布置测试靶布；
5、s3：调整所述光电设备的十字中心与所述测试靶布的十字中心重
6、s4：设置自准直平行光管，所述自准直平行光管的光轴与所述光电设备的光轴平行；
7、s5：调整s1中的可见光摄像机，使所述可见光摄像机的光轴与所述自准直平行光管平行；
8、s6：所述光电设备发射激光照射到测试靶布上，所述可见光摄像机观测测试靶布，获取所述测试靶布上的激光光斑的形状和位置；
9、s7：可见光摄像机上的偏差测量系统通过s6获取的激光光斑的形状和位置信息解析出激光光斑轮廓线和光斑几何中心坐标，根据激光光斑轮廓线解析出光斑的圆柱度，根据光斑几何中心坐标与可见光摄像机光轴的偏差计算出远场激光的光斑几何中心偏差。
10、本申请所提供的测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，还具有这样的特征，所述可见光摄像机用于响应激光的光谱和曝光时间，所述可见光摄像机包括采集卡，所述采集卡用于采集照射到测试靶布上的激光光斑及背景图像。
11、本申请所提供的测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，还具有这样的特征，所述测试靶布布置位置与所述光电设备的距离不小于4km，所述测试靶布上设有多个靶板，所述靶板的反射率不小于0.2，所述测试靶布上设有0.2m×0.2m的十字中心，且所述十字的中心在靶布的中心。
12、本申请所提供的测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，还具有这样的特征，所述s4中，自准直平行光管的光轴与所述光电设备的光轴平行精度不大于5″。
13、本申请所提供的测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，还具有这样的特征，所述s5中，所述可见光摄像机的光轴与所述自准直平行光管光轴的平行精度不大于5″。
14、本申请的另一目的在于，提供一种测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的系统，所述系统用于实现如前述任一项所述方法，所述系统包括测试靶布、平台、自准直平行光管以及可见光摄像机，
15、所述光电设备、所述自准直平行光管以及所述可见光摄像机均设置在所述平台上，
16、所述测试靶布与所述光电设备的距离不小于4km，
17、所述可见光摄像机设有偏差测量系统。
18、有益效果
19、本专利技术提供了一种测试远场激光的光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，实现对激光远场光斑进行测试和反馈，快捷地判断出含激光等多个传感器产品远场光斑圆柱度质量和几何中心。该申请在保证产品精度的前提下，提高了工作效率，降低了装配成本，具有广阔的应用前景。
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1.一种测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，用于测试光电设备的远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差，所述光电设备包括激光传感器以及从红外传感器和可见光传感器中选出一种或多种传感器，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，其特征在于，所述可见光摄像机用于响应激光的光谱和曝光时间，所述可见光摄像机包括采集卡，所述采集卡用于采集照射到测试靶布上的激光光斑及背景图像。
3.根据权利要求1所述的测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，其特征在于，所述测试靶布布置位置与所述光电设备的距离不小于4km，所述测试靶布上设有多个靶板，所述靶板的反射率不小于0.2，所述测试靶布上设有0.2m×0.2m的十字中心，且所述十字的中心在靶布的中心。
4.根据权利要求1所述的测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，其特征在于，所述S4中，自准直平行光管的光轴与所述光电设备的光轴平行精度不大于5″。
5.根据权利要求1所述的测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，其特征在于，所述S5
6.一种测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的系统，其特征在于，所述系统用于实现如权利要求1-5任一项所述方法，所述系统包括测试靶布、平台、自准直平行光管以及可见光摄像机，
...【技术特征摘要】
1.一种测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，用于测试光电设备的远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差，所述光电设备包括激光传感器以及从红外传感器和可见光传感器中选出一种或多种传感器，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，其特征在于，所述可见光摄像机用于响应激光的光谱和曝光时间，所述可见光摄像机包括采集卡，所述采集卡用于采集照射到测试靶布上的激光光斑及背景图像。
3.根据权利要求1所述的测试远场激光光斑圆柱度和几何中心偏差的方法，其特征在于，所述测试靶布布置位置与所述光电设备的距离不小于4km，所述测试靶布上设有多个靶板，所述靶板...
【专利技术属性】
技术研发人员：周景欢，王骏，胡红凯，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所，
类型：发明
国别省市：
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