【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于一种逻辑芯片的状态监测方法及装置，具体是涉及电测量。
技术介绍
1、随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高，基于物料选型后的物料验证等业务需求，通常需要评估所选择物料是否满足应用要求，故需要开展物料验证工作。目前，对于芯片而言，通常采用产品组合验证方式验证芯片是否符合应用要求，这种方式的优点是真实模拟元器件实际应用工况，但板卡成本较高，且试验板卡的样本量有限，不能有效评估元器件问题比例，且后续批次来料检验中涉及的功能检验无法开展。而目前尚未存在有效开展单体芯片功能验证方法手段。
技术实现思路
1、本专利技术要解决的技术问题是提供一种逻辑芯片的状态监测方法及装置，主要解决现有技术不能有效开展单体和批量逻辑芯片的状态监测工作的问题。
2、本专利技术的内容包括：
3、一方面，本专利技术提供了一种逻辑芯片的状态监测方法，所述方法包括：
4、s1、确定待监测的逻辑芯片的功能状态监测项点；
5、s2、根据所述功能状态监测项点确定所述逻辑芯片的输入值及其对应的正常输出值；
6、s3、根据所述逻辑芯片的输入值及其对应的正常输出值搭建所述逻辑芯片的状态监测电路；
7、s4、将所述逻辑芯片的输入值输入所述状态监测电路中，监测所述逻辑芯片的实际输出值；
8、s5、根据所述实际输出值和所述正常输出值的差异确定所述逻辑芯片的功能状态。
9、可选的，在所述s4之前，所述方法还包括：
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11、可选的，所述s4具体包括：
12、s41、确定所述逻辑芯片的验证条件；
13、s42、在所述验证条件下，将所述逻辑芯片的输入值输入所述状态监测电路中，监测所述逻辑芯片的实际输出值。
14、可选的，所述验证条件包括环境条件和验证时长。
15、可选的，当待监测的逻辑芯片为多个时，在所述s3之后，所述方法还包括：
16、s7、将所述状态监测电路复制成多个；所述状态监测电路与所述待监测的逻辑芯片一一对应。
17、可选的，所述方法还包括：
18、s8、每隔预设时长，重复执行所述s4和所述s5。
19、另一方面，本专利技术提供了一种应用于上述任一种所述方法的逻辑芯片的状态监测装置，所述装置包括：
20、环境箱，用于容置待监测的逻辑芯片；
21、状态监测电路；
22、试验板，用于连接所述逻辑芯片与所述状态监测电路；
23、所述状态监测电路用于接收所述逻辑芯片的输入值，并输出实际输出值。
24、可选的，所述实际输出值通过万用表定频测量。
25、可选的，所述实际输出值通过发光二极管显示反馈。
26、本专利技术的有益效果是：
27、本专利技术提供的逻辑芯片的状态监测方法及装置，通过对逻辑芯片的功能状态监测，为开展批量验证工作，搭建状态监测装置，根据实际需求，可高效进行逻辑芯片功能状态监测的验证工作，有效评估逻辑芯片产品的应用符合性，为物料选型工作做出强有力的支撑。
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1.一种逻辑芯片的状态监测方法，其特征是，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征是，在所述S4之前，所述方法还包括：
3.如权利要求1所述的方法，其特征是，所述S4具体包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征是，所述验证条件包括环境条件和验证时长。
5.如权利要求1所述的方法，其特征是，当待监测的逻辑芯片为多个时，在所述S3之后，所述方法还包括：
6.如权利要求1或5所述的方法，其特征是，所述方法还包括：
7.一种应用于权利要求1至6中任一项所述方法的逻辑芯片的状态监测装置，其特征是，所述装置包括：
8.如权利要求7所述的装置，其特征是，所述实际输出值通过万用表定频测量。
9.如权利要求7所述的装置，其特征是，所述实际输出值通过发光二极管显示反馈。
【技术特征摘要】
1.一种逻辑芯片的状态监测方法，其特征是，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征是，在所述s4之前，所述方法还包括：
3.如权利要求1所述的方法，其特征是，所述s4具体包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征是，所述验证条件包括环境条件和验证时长。
5.如权利要求1所述的方法，其特征是，当待监测的逻辑芯片为多个时，在所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪旭，吴楠，王磊，孔文涛，甘昊，魏晓慧，
申请(专利权)人：中车株洲电力机车研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：
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