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本发明公开了一种逻辑芯片的状态监测方法及装置，属于电测量技术领域，能够解决现有技术不能有效开展单体和批量逻辑芯片的状态监测工作的问题。所述方法包括：S1、确定待监测的逻辑芯片的功能状态监测项点；S2、根据功能状态监测项点确定逻辑芯片的输入值...
该专利属于中车株洲电力机车研究所有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中车株洲电力机车研究所有限公司授权不得商用。

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