【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于半导体材料光电子,涉及一种二维单晶gasxse1-x的纳米片的制备方法以及gasxse1-x的二维单晶近紫外光电探测器的制备方法和应用。
技术介绍
1、由于紫外光具有波长短、能量高、穿透能力强的特点,紫外光电探测器能够实现较高的分辨率和灵敏度,且不会受到环境热源的影响,具有更高的信噪比,在食品安全、环境监测、紫外通讯、生化分析、军事探测等领域都具有很好的应用价值。目前,商用型硅基紫外光电探测器虽然在一定程度上满足了探测需求,但硅材料1.12ev的禁带宽度导致在紫外波段光电转化能力较弱,工作时需要附加额外的滤光系统,较大的体积和较高的成本制约了其进一步发展。自石墨烯发现以来,二维层状材料得到了广泛关注和快速发展,由于其具有表面无悬挂键、层间通过范德瓦尔斯力连接、在构筑器件时无需考虑晶格失配等优点,成为高性能纳米电子器件和光电器件领域的重要候选材料,已经广泛应用于新型光电探测器的研制。现有的大多数二维材料的带隙宽度小于2ev,制作得到的探测器响应范围集中在可见光与近红外波段,难以实现对紫外波段的有效探测。因此,扩展具有紫外探测
...【技术保护点】
1.一种二维单晶GaSxSe1-x纳米片的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的二维单晶GaSxSe1-x纳米片的制备方法,其特征在于:所述步骤(1)中的GaS 和 GaSe 纳米粉末的摩尔比为1:(1~2);所述化学气相沉积CVD法中所用载气为氢气和氩气,其中氢气的流量为10~30sccm,氩气的流量为60~100sccm;所述化学气相沉积CVD法中反应的温度为900~1000℃,反应的时间为20~40min。
3.根据权利要求1所述的二维单晶GaSxSe1-x纳米片的制备方法,其特征在于:所述步骤(2)中二维单晶GaS
...【技术特征摘要】
1.一种二维单晶gasxse1-x纳米片的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的二维单晶gasxse1-x纳米片的制备方法,其特征在于:所述步骤(1)中的gas 和 gase 纳米粉末的摩尔比为1:(1~2);所述化学气相沉积cvd法中所用载气为氢气和氩气,其中氢气的流量为10~30sccm,氩气的流量为60~100sccm;所述化学气相沉积cvd法中反应的温度为900~1000℃,反应的时间为20~40min。
3.根据权利要求1所述的二维单晶gasxse1-x纳米片的制备方法,其特征在于:所述步骤(2)中二维单晶gasxse1-x纳米片结构采用vasp 模拟软件及合金工程调控合适的二维结构组分x=0.3~0.5。
4.根据权利要求1所述的二维单晶gasxse1-x纳米片的制备方法,其特征在于:所述步骤(3)中热退火硫化的气氛为体积分数50%~70%的h2s和体积分数为30%~50%的n2构成,热退火控制温度在200℃~250℃,热退火升温速率设定为40℃/min~60℃/min,保温时间在30min~90min。
5.根据权利要求1-4任一所述的制备方法制得的二维单晶gasxse1-x纳米片,其特征在于:所述二维单晶gasxse1-x纳米片中的金属ga还可以为in、sn或sb。
6.权利要求5所...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈鹏,张腊梅,乔方卿銮,商继敏,李子炯,
申请(专利权)人:郑州轻工业大学,
类型:发明
国别省市:
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