一种三维荧光的矫正方法技术

本发明专利技术公开了一种三维荧光检测矫正的方法，所述方法包括：设定三维荧光测定条件，测定样品的激发－发射矩阵光谱，得到光谱图和激发波长－发射波长－荧光强度的数据矩阵；用校正检测仪测定样品对相应波长光的吸收情况，得到透射率（Ｔ）或吸光度（Ａ）。用三维荧光矩阵中各发射波长对应的荧光强度（Ｉｆ）除以校正检测仪所测的该样品对应各波长的透光率（Ｔ），对三维荧光数据进行校正，即Ｉｆ／Ｔ，或用吸光度（Ａ）进行校正，校正方法为Ｉｆ／１０－Ａ。本校正方法特别适用于高浓度待测样品的检测。此外，本发明专利技术还公开了使用该方法的检测系统。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种三维荧光检测矫正的方法，以及使用该方法的三维荧光检测系统。
技术介绍
三维荧光光谱是20世纪80年代在荧光光谱分析的基础上发展起来的一种新的 分析技术，获取三维荧光数据的方法一般是在不同激发波长位置上连续扫描发射光谱，并 可利用各种绘图软件将其以等角三维荧光投影图(Ex-Em-If)或等高线光谱(Ex-Em)等形 式图像化表现。应用荧光光谱技术研究荧光类物质是基于其结构中含有大量带有各种官 能团的芳香环结构以及未饱和脂肪链(物质之所以具有荧光是由于其结构中具有低能量n — rT跃迁的芳香结构或共轭生色团)。相对红外、核磁共振等研究方法，荧光光谱法研究天然有机物结构特征具有灵敏度高(10—9数量级)、选择性好，不破坏样品结构、需要的样品量少(只需少量低浓度，通常〈20mg/L的水样)、样品不需特殊分离、快速而简便等优点， 被用于有机质或腐殖质结构和官能团的定性或定量描述，以及有机质的来源和水监测研究 中。 然而，在荧光检测中，通常由于溶液的内过滤作用和自吸收现象，而导致所测得的 荧光减弱，使得荧光强度和峰型都发生变化。特别随着样品浓度的增加，溶液的内过滤作用 和自吸本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种三维荧光检测的矫正方法，所述方法包括：　　　　Ａ、设定三维荧光测定条件，测定样品的激发－发射矩阵光谱，得到激发波长－发射波长－荧光强度的数据；　　　　Ｂ、用矫正检测仪测定样品对各波长光的吸收情况，得到透射率（Ｔ）或吸光度（Ａ）；Ｃ、用三维荧光矩阵中各发射波长对应的荧光强度（Ｉ↓［ｆ］）除以矫正检测仪所测的该样品对应波长的透光率（Ｔ），对三维荧光数据进行矫正，即Ｉ↓［ｆ］／Ｔ，或用吸光度（Ａ）进行矫正，矫正方法为Ｉ↓［ｆ］／１０↑［－Ａ］；　　　　其中，矫正检测仪用于检测样品对各波长光的透光率或吸光度，可用紫外／可见分光光度仪。

【技术特征摘要】
一种三维荧光检测的矫正方法，所述方法包括A、设定三维荧光测定条件，测定样品的激发-发射矩阵光谱，得到激发波长-发射波长-荧光强度的数据；B、用矫正检测仪测定样品对各波长光的吸收情况，得到透射率(T)或吸光度(A)；C、用三维荧光矩阵中各发射波长对应的荧光强度(If)除以矫正检测仪所测的该样品对应波长的透光率(T)，对三维荧光数据进行矫正，即If/T，或用吸光度(A)进行矫正，矫正方法为If/10-A；其中，矫正检测仪用于检测样品对各波长光的透光率或吸光度，可用紫外/可见分光光度仪。2. 如权利要求1所述矫正方法，步骤A、 C中所述数据为数据矩阵，根据步骤C矫...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘俐，李发生，颜增光，曹云者，
申请(专利权)人：中国环境科学研究院，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]