【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种单片机的测量值校准方法。
技术介绍
在检测系统中，被测物理量通过传感器转换成电信号，信号经过放大器再通过A/D 将物理量转换得到所对应的数字量。被测物理量转换成数字量后，还需要转换成操作人员 熟悉的工程量。因为A/D转换后得到的数码值不等于原来物理量的量纲，而仅仅表示数值 的大小。必须将A/D采样值转换成带有量纲的数值后才能运算、显示。 在整个测量通道的任何一个环节的信号转换偏差都会造成最终测量结果的误差。 因此，在整个检测系统中必须对最终显示结果进行校准，提供校准手段。目前所采用的校准 方法不外乎两大类 a、通过硬件方法实现 在A/D采样通道的硬件电路上增加可调器件(如电位器)来调整测量值。也就是 直接对A/D转换前的信号进行调整。 该方法实现校准只能对确定偏差的信号进行校准，有很大的局限性， 一方面增加 了设备硬件开销，另一方面由于可调器件的性能容易产生变化，因此会直接导致测量结果 的偏差。同时该方法无法实现检测值的自动校准。 b、软件方法实现 采用软件方法对测量值进行校准的方法就是对A/D转换得到的数字量通过复杂 的数学运算，得到最终...
【技术保护点】
一种应用于无乘法指令单片机的测量值校准方法，包括以下步骤： （１）、采用非线性分段方式对测量值所在的区域进行分段； （２）、在每个分段后的线性区进行测量值校准，即将多次ＡＤ采样值累加后右移ｎ次，参照下式，计算得到校准后的参数测量值： Ｙ＝＊Ｘ／２↑［ｎ］＋ｂ 其中： Ｙ：参数测量值； Ｘ：为Ａ／Ｄ采样值； Ｓ：校准系数，即连续采样的次数； ｎ：Ａ／Ｄ分辨率，即Ａ／Ｄ位数； ｂ：零位误差校准值； 所述的校准系数Ｓ用两个字节来保存，高字节定义为Ｓ↓［Ｈ］，低字节定义为Ｓ↓［Ｌ］，其中： Ｓ＝Ｓ↓［Ｈ］×２５６＋Ｓ...
【技术特征摘要】
一种应用于无乘法指令单片机的测量值校准方法，包括以下步骤(1)、采用非线性分段方式对测量值所在的区域进行分段；(2)、在每个分段后的线性区进行测量值校准，即将多次AD采样值累加后右移n次，参照下式，计算得到校准后的参数测量值 <mrow><mi>Y</mi><mo>=</mo><mfrac> <mrow><munderover> <mi>Σ</mi> <mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn> </mrow> <mi>S</mi></munderover><mi&g...
【专利技术属性】
技术研发人员：单晓杭，孙建辉，张利，丁力，
申请(专利权)人：浙江工业大学，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]
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