一种指纹特征整体处理方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:41177234 阅读:19 留言:0更新日期:2024-05-07 22:12
本发明专利技术实施例公开了一种指纹特征整体处理方法、装置、设备及介质,涉及指纹识别技术领域。所述方法包括:获取待测指纹图像,识别所述待测指纹图像的特征点;针对所述待测指纹图像的每一个所述特征点,获取所述特征点与所述待测指纹图像中所述特征点以外的其它特征点之间的关联特征向量;基于所述待测指纹图像所有的所述特征点的关联特征向量确定所述待测指纹图像的整体特征向量。本发明专利技术通过提取特征点之间的关联关系特征,得到待测指纹图像的整体特征向量,即通过一个向量即可表示待测指纹图像的所有特征,其数据量较少,在后续识别时只需要进行一次向量的相似计算即可确定比对结果,极大地提高了效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及指纹识别,尤其涉及一种指纹特征整体处理方法、装置、设备及介质


技术介绍

1、现有技术中,指纹的特征提取方法是,在获取指纹的特征点后,单独提取每个特征点的特征,在比对时也是逐一比对每个特征点的特征,每个点得到一个相似分数,最后得到一个总的相似分数。

2、上述特征提取以及比对识别的过程均十分复杂,从而导致指纹识别的过程耗时分长。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供了一种指纹特征整体处理方法、装置、设备及介质,旨在解决指纹识别耗时长的问题。

2、第一方面,本专利技术实施例提供了一种指纹特征整体处理方法,其包括:

3、获取待测指纹图像,识别所述待测指纹图像的特征点;

4、针对所述待测指纹图像的每一个所述特征点,获取所述特征点与所述待测指纹图像中所述特征点以外的其它特征点之间的关联特征向量;

5、基于所述待测指纹图像所有的所述特征点的关联特征向量确定所述待测指纹图像的整体特征向量。

6、其进一步的技术方案为,所述针对所述待测指纹本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种指纹特征整体处理方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1的所述指纹特征整体处理方法,其特征在于,所述针对所述待测指纹图像的每一个所述特征点,获取所述特征点与所述待测指纹图像中所述特征点以外的其它特征点之间的关联特征向量,包括:

3.根据权利要求2的所述指纹特征整体处理方法,其特征在于,所述从所述待测指纹图像中所述特征点以外的其它特征点中选取目标特征点,包括:

4.根据权利要求3的所述指纹特征整体处理方法,其特征在于,所述从所述待测指纹图像在所述角度范围内的所述其它特征点中选取至少一个所述目标特征点,包括:

5.根据权利要求2的所...

【技术特征摘要】

1.一种指纹特征整体处理方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1的所述指纹特征整体处理方法,其特征在于,所述针对所述待测指纹图像的每一个所述特征点,获取所述特征点与所述待测指纹图像中所述特征点以外的其它特征点之间的关联特征向量,包括:

3.根据权利要求2的所述指纹特征整体处理方法,其特征在于,所述从所述待测指纹图像中所述特征点以外的其它特征点中选取目标特征点,包括:

4.根据权利要求3的所述指纹特征整体处理方法,其特征在于,所述从所述待测指纹图像在所述角度范围内的所述其它特征点中选取至少一个所述目标特征点,包括:

5.根据权利要求2的所述指纹特征整体处理方法,其特征在于,所述获取所述特征点与对应的所述目标特征点之间的关联向量,包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:王玉坚邵宇刘振波
申请(专利权)人:深圳市亚略特科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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