一种图像校正点获取方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种图像校正点获取方法、装置、电子设备及介质，校正卡包括多个关键点，一部分的关键点为目标关键点，所述方法包括：接收校正卡待测图像，获取多个所述关键点在所述校正卡待测图像中的第一坐标；获取多个所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标；根据多个所述关键点在校正卡待测图像中的第一坐标以及多个所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标，获取转换矩阵；根据所述转换矩阵以及所述目标关键点在所述校正卡基准图像中的第二坐标，获取目标关键点在所述校正卡待测图像中的矫正坐标。本方案通过关键点与待测关键点来构建坐标系之间的转换矩阵，将误差分摊到所有的关键点中，可以有效提升图像校正点获取方法的精度。正点获取方法的精度。正点获取方法的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种图像校正点获取方法、装置、电子设备及介质


[0001]本专利技术涉及人工智能指纹识别领域，尤其涉及一种图像校正点获取方法、装置、电子设备及介质。

技术介绍

[0002]人工智能指纹识别的原理为比较不同指纹的细节特征点，是目前应用最广泛的生物识别技术。与其它尚处于探索阶段的识别路线相比，人工智能指纹识别的应用更成熟，算法更精准，已经成为大多数领域的行业首选。
[0003]现有技术中人工智能指纹识别的图像校正点获取方法，其方案依赖于待测图像中直接采集的关键点坐标，其精准度的提升在实际应用中存在技术瓶颈。例如针对具有梯形畸变的光学指纹仪，进行图像校正点获取方法时需要采集关键点坐标，若应用现有技术会受到获取精度的限制，存在误差较大的问题，从而导致图像校正点获取方法的效果不佳。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是：如何设计出一种图像校正点获取方法，可以有效提升现有图像校正点获取方法的精度。
[0005]为解决上述问题，本专利技术实施例提出一种图像校正点获取方法、装置、电子设备及介质，通过关键点与待测关键点来构建坐标系之间的转换矩阵，将误差分摊到所有的关键点中，可以有效提升图像校正点获取方法的精度。
[0006]第一方面，本专利技术提出一种图像校正点获取方法，校正卡包括多个关键点，多个所述关键点中有一部分的关键点为目标关键点，所述方法包括：接收校正卡待测图像，获取多个所述关键点在所述校正卡待测图像中的第一坐标；获取多个所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标；根据多个所述关键点在校正卡待测图像中的第一坐标以及多个所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标，获取所述校正卡待测图像的第一图像坐标系与所述校正卡基准图像的第二图像坐标系之间的转换矩阵；根据所述转换矩阵以及所述目标关键点在所述校正卡基准图像中的第二坐标，获取目标关键点在所述校正卡待测图像中的矫正坐标。
[0007]其进一步的技术方案为，所述获取多个所述关键点在所述校正卡待测图像中的第一坐标，包括：通过目标检测算法进行检测，获取多个所述关键点在所述校正卡待测图像中的第一坐标。
[0008]其进一步的技术方案为，所述根据多个所述关键点在校正卡待测图像中的第一坐标以及多个所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标，获取所述校正卡待测图像的第一图像坐标系与所述校正卡基准图像的第二图像坐标系之间的转换矩阵，包括：根据各所述关键点在校正卡待测图像中的第一坐标以及各所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标，建立以所述转换矩阵为未知数的方程组；对所述方程组进行求解，得到所述转换矩阵。
[0009]其进一步的技术方案为，所述根据所述转换矩阵以及所述目标关键点在所述校正卡基准图像中的第二坐标，获取目标关键点在所述校正卡待测图像中的矫正坐标，包括：将所述转换矩阵乘以所述目标关键点在所述校正卡基准图像中的第二坐标，所得结果为目标关键点在所述校正卡待测图像中的矫正坐标。
[0010]其进一步的技术方案为，所述校正卡为方形，所述目标关键点的数量为4，4个所述目标关键点分别位于所述校正卡的四个角处。
[0011]其进一步的技术方案为，所述获取多个所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标，包括：从预设的存储位置中读取所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标。
[0012]其进一步的技术方案为，所述获取目标关键点在所述校正卡待测图像中的矫正坐标之后，还包括：将所述矫正坐标存储到预设的Flash存储器当中。
[0013]第二方面，本专利技术提供了一种图像校正点获取装置，所述图像校正点获取装置包括用于执行如第一方面所述方法的单元。
[0014]第三方面，本专利技术提供了一种电子设备，包括：存储器，用于存放计算机程序；处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现如第一方面所述方法的步骤。
[0015]第四方面，本专利技术提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序当被处理器执行时可实现如第一方面所述的方法。
[0016]综上所述，本专利技术的有益效果为，本方案中的转换矩阵源自数量较多的关键点，数量较多意味着信息源稳定，单个点的误差不容易对整体精度造成影响，即通过关键点与待测关键点来构建坐标系之间的转换矩阵，将误差分摊到所有的关键点中，有效提升图像校正点获取方法的精度。
附图说明
[0017]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，展示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本专利技术实施例提供的一种图像校正点获取方法的流程示意图。
[0020]图2为本专利技术实施例提供的一种图像校正点获取方法的另一流程示意图。
[0021]图3为本专利技术实施例提供的一种图像校正点获取装置的框图。
[0022]图4为本专利技术实施例提供的一种电子设备的框图。
具体实施方式
[0023]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0024]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示
所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0025]还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0026]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0027]如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
[0028]实施例1
[0029]请参阅图1，图1为本专利技术实施例提供的一种图像校正点获取方法的流程示意图。本专利技术实施例提出一种图像校正点获取方法，该图像校正点获取方法的校正卡包括多个关键点，多个所述关键点中有一部分的关键点为目标关键点，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像校正点获取方法，其特征在于，校正卡包括多个关键点，多个所述关键点中有一部分的关键点为目标关键点，所述方法包括：接收校正卡待测图像，获取多个所述关键点在所述校正卡待测图像中的第一坐标；获取多个所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标；根据多个所述关键点在校正卡待测图像中的第一坐标以及多个所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标，获取所述校正卡待测图像的第一图像坐标系与所述校正卡基准图像的第二图像坐标系之间的转换矩阵；根据所述转换矩阵以及所述目标关键点在所述校正卡基准图像中的第二坐标，获取目标关键点在所述校正卡待测图像中的矫正坐标。2.根据权利要求1所述的图像校正点获取方法，其特征在于，所述获取多个所述关键点在所述校正卡待测图像中的第一坐标，包括：通过目标检测算法进行检测，获取多个所述关键点在所述校正卡待测图像中的第一坐标。3.根据权利要求1所述的图像校正点获取方法，其特征在于，所述根据多个所述关键点在校正卡待测图像中的第一坐标以及多个所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标，获取所述校正卡待测图像的第一图像坐标系与所述校正卡基准图像的第二图像坐标系之间的转换矩阵，包括：根据各所述关键点在校正卡待测图像中的第一坐标以及各所述关键点在预设的校正卡基准图像中的第二坐标，建立以所述转换矩阵为未知数的方程组；对所述方程组进行求解，得到所述转换矩阵。4.根据权利要求1所述的图像校正点获取方法，其特征在于，所述根据所述转...

【专利技术属性】
技术研发人员：温职先，
申请(专利权)人：深圳市亚略特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：