【技术实现步骤摘要】
本公开涉及半导体装置和半导体装置的扫描测试方法。
技术介绍
1、扫描测试被称为测试半导体装置的方法。通常，在执行扫描测试时，与半导体装置内部的相同扫描链连接的扫描触发器在捕获模式/移位模式下使用相同的扫描时钟来操作。
2、然而，随着最近半导体装置规模的扩大，要被扫描的触发器的数量也变得巨大。因此，如果多个触发器使用单个扫描时钟来操作，则扫描测试期间的瞬时功耗增加。为了降低瞬时功耗，半导体设备供应商在设计阶段花费大量时间进行功率分析。此外，由于瞬时功耗的增加，无法满足半导体装置的功率规格，存在无法测试的问题。此外，由于瞬时功耗的增加，半导体装置的用户还必须花费大量时间来优化其自身产品的设计并且分析功率。因此，对能够抑制瞬时功耗的扫描测试方法的需求日益增长。
3、为了满足这些需求，提出了降低扫描测试中的瞬时功耗的方法(专利文献1)。在该方法中，在半导体装置中配置了具有扫描触发器以及在扫描测试期间形成扫描链的组合电路的多个电路块。多个选择电路基于控制信号，在实际操作中使用的内部时钟信号以及扫描测试期间使用的扫描时钟信号之间切换提供给每个电路块的时钟信号。控制电路生成扫描时钟，扫描时钟在每个电路块中包括相同时序的移位时钟，在移位模式下将数据输入和输出到扫描链。此外，在组合电路的逻辑操作被测试的捕获模式期间，捕获时钟被生成，该捕获时钟在每个电路块处包括不同的定时的脉冲。
4、根据该技术，在扫描测试期间，特别是在捕获操作被执行时，提供给每个电路块的时钟可以以不同的定时提供，使得瞬时功耗被降低来执行测试。<...
【技术保护点】
1.一种半导体装置，包括：
2.根据权利要求1所述的半导体装置，
3.根据权利要求2所述的半导体装置，
4.根据权利要求3所述的半导体装置，还包括N-1个选择电路，
5.根据权利要求3所述的半导体装置，还包括N-1个选择电路，
6.根据权利要求5所述的半导体装置，
7.根据权利要求6所述的半导体装置，还包括用于存储由所述控制电路所使用的控制信息的存储器，
8.一种用于半导体装置的扫描测试方法，
【技术特征摘要】
1.一种半导体装置，包括：
2.根据权利要求1所述的半导体装置，
3.根据权利要求2所述的半导体装置，
4.根据权利要求3所述的半导体装置，还包括n-1个选择电路，
5.根据权利要求3所述的半...
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