【技术实现步骤摘要】
所属的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统的具体工作过程及有关说明，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。需要说明的是，上述实施例提供的ibis模型准确度确定系统系统，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，在实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块来完成，即将本专利技术实施例中的模块或者步骤再分解或者组合，例如，上述实施例的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。对于本专利技术实施例中涉及的模块、步骤的名称，仅仅是为了区分各个模块或者步骤，不视为对本专利技术的不当限定。附图中的流程图和框图，图示了按照本申请各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不是用于描述或表示特定的顺序或先后次序。术语“包括”或者任何其它类似用语旨在涵盖非排他性的包含，从而使得包括
技术介绍
1、随着电子电路技术的不断发展，电子系统规模逐渐变大，体积不断变小，速度也越来越高，电路板的布局和布线密度开始逐渐变大，时钟频率和数据传输速率也越来越快。在这种情况下，如果要使器件接收端的信号质量不受影响，就需要确保在进行高速pcb设计时，如走线、过孔一类的互连通路的属性没有任何变化。然而实际设计时，需要根据pcb板的各种情况对互连通路进行改变，正是这一改变使得原本安全合理的设计频繁出错，导致电路工程师遇到各种各样的信号完整性问题。在这种情况下，使用传统的分析方法已经不能有效解决高速pcb设计中的信号完整性问题，需要根据实际的设计情况进行仿真分析，可使用ibis模型器件或者无源网络进行表征，在使用ibis模型进行信号完整性仿真之前，还需要对得到的ibis模型进行检验，以达到仿真的要求。
2、传统对ibis模型进行检验方法是针对器件的待验证模型对应的引脚构建测电路板，激励该测试电路板，检测其输出的测试波形；在仿真工具中构建该待验证模型对应的引脚在所述测试电路板上的电路拓扑模型，进行仿真，得到仿真波形；比较所述仿真波形和所述测试波形，根据比较结果得到模型验证结果，这种方法虽然能够针对不同的ibis模型进行验证，但其不足之处是：评估模型的特征参数选取不全面，导致不能够全面的验证ibis模型的精度，另一方面，此方法较为粗糙，不能够客观地评价ibis模型的精度。
技术实现思路
1、为了解决现有技术中的上述问题，即统对ibis模型进行检验方法参数选取不全面，较为粗糙的问题，本专利技术提供了一种ibis模型准确度确定方法，所述方法包括：
2、构建待验证器件的ibis模型，选取对所述ibis模型精度具有影响的特征参数；
3、根据所述特征参数，基于模糊层次分析法构建所述ibis模型对应的验证系统，作为ibis模型验证系统；
4、在仿真工具中，基于所述ibis模型的引脚构建仿真电路并运行，得到所述ibis模型的仿真波形；
5、对所述待验证器件进行测试或对所述待验证器件进行spice仿真，得到对比波形；
6、对所述仿真波形和所述对比波形进行比较，得到二者的特征参数差异值；
7、将所述差异值输入到所述ibis模型验证系统，得到所述ibis模型的准确度。
8、在一种优选的实施方式中，所述特征参数是根据管脚是i/o类型管脚或者是input类型管脚进行选择的；
9、在一种优选的实施方式中，所述特征参数包括上升时间、下降时间、过冲、高电平、低电平、上升波形、下降波形、电源钳位、地钳位、单调性。
10、在一种优选的实施方式中，构建ibis模型验证系统，其方法为：
11、根据所述特征参数构建ibis模型评价指标体系；
12、对所述ibis模型的特征参数的重要性进行分级得到ibis评价等级集合；
13、根据所述ibis评价等级集合，构建因素比较判断矩阵；
14、根据所述因素比较判断矩阵，采用方根法得到ibis模型精度评价的权重指标；
15、根据所述权重指标计算所述ibis模型的精度；
16、基于所述ibis模型的精度，构建ibis评价模型隶属度函数，根据隶属度函数得出隶属度函数图像，完成ibis模型验证系统构建。
17、在一种优选的实施方式中，隶属度函数为：
18、
19、
20、
21、a1＝mean-std
22、b2＝mean-0.75std
23、a2＝mean-0.5std
24、b3＝mean-0.25std
25、a3＝mean+0.25std
26、b4＝mean+0.5std
27、a4＝mean+0.75std
28、b5＝mean+std
29、其中，ai(x)为隶属度函数，amean为多个ibis模型的精度的均值，std为多个ibis模型的精度的标准差，x为特征参数差异值，a1、a2、a3、a4、b2、b3、b4、b5均为隶属度函数参数。
30、在一种优选的实施方式中，所述特征参数差异值的确定方法为：
31、
32、其中，r为ibis模型中波形的采样点个数，ibis仿真值表示特征参数在仿真波形中的仿真值，对比值是特征参数在对比波形中的对比值
33、本专利技术的另一方面，提出了一种ibis模型准确度确定系统，所述系统包括：
34、参数选取模块，用于构建待验证器件的ibis模型，选取对所述ibis模型精度具有影响的特征参数；
35、系统构建模块，用于根据所述特征参数，基于模糊层次分析法构建所述ibis模型对应的验证系统，作为ibis模型验证系统；...
【技术保护点】
1.一种IBIS模型准确度确定方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的IBIS模型准确度确定方法，其特征在于，所述特征参数是根据管脚是I/O类型管脚或者是Input类型管脚进行选择的，所述特征参数包括上升时间、下降时间、过冲、高电平、低电平、上升波形、下降波形、电源钳位、地钳位、单调性。
3.根据权利要求2所述的IBIS模型准确度确定方法，其特征在于，构建IBIS模型验证系统，其方法为：
4.根据权利要求3所述的IBIS模型准确度确定方法，其特征在于，所述隶属度函数为：
5.根据权利要求1所述的IBIS模型准确度确定方法，其特征在于，所述特征参数差异值的确定方法为：
6.一种IBIS模型准确度确定系统，其特征在于，所述系统包括：
【技术特征摘要】
1.一种ibis模型准确度确定方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的ibis模型准确度确定方法，其特征在于，所述特征参数是根据管脚是i/o类型管脚或者是input类型管脚进行选择的，所述特征参数包括上升时间、下降时间、过冲、高电平、低电平、上升波形、下降波形、电源钳位、地钳位、单调性。
3.根据权利要求2所述的i...
【专利技术属性】
技术研发人员：王益男，侯国伟，张梅梅，薛翔宇，马梓宁，倪玮琳，禹莹，赵晋，李易昂，郝帅，王兴凤，张钦增，
申请(专利权)人：北京微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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