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本发明属于电路仿真领域，具体涉及了一种IBIS模型准确度确定方法及系统，旨在解决现有的IBIS模型准确度确定不够全面客观的问题。本发明包括：选取对IBIS模型精度具有影响的特征参数；根据特征参数，基于模糊层次分析法构建IBIS模型对应的验证...
该专利属于北京微电子技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京微电子技术研究所授权不得商用。

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