一种驱动芯片的测试装置制造方法及图纸

技术编号:41041568 阅读:2 留言:0更新日期:2024-04-23 21:39
本技术提供了一种驱动芯片的测试装置,所述测试装置包括:差分信号输入电路、单端信号输入电路、差分信号输出电路、单端信号输出电路和电源电路;通过差分信号输入电路和将单端输入信号转换成差分信号的单端信号输入电路分别实现外部差分信号输入设备和外部单端信号输入设备与驱动芯片的输入端相连;通过差分信号输出电路和将驱动芯片输出的差分输出信号转换成单端信号的单端信号输出电路,分别实现外部差分信号测试设备和外部单端信号测试设备接收驱动芯片的差分输出信号;因此,本技术可以任意选择差分设备或单端设备进行测试信号输入,还可以任意选择差分设备或单端设备进行输出信号的接收,降低了对驱动芯片测试环境的要求。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片测试,尤其涉及一种驱动芯片的测试装置


技术介绍

1、应用于电力线载波的线驱动器通常是差分线路驱动芯片,内含2个电流反馈型放大器,该驱动芯片为差分信号输入和差分信号输出的芯片,在对该驱动芯片进行功能测试时,需采用差分信号输入设备输出差分的测试信号到该芯片中,且需采用差分信号测试设备接收该驱动芯片输出的差分信号并对其输出的差分信号进行分析,从而得到驱动芯片的测试结果;由于测试信号的输入和输出信号的接收都需要采用差分设备,这样对驱动芯片的测试环境要求较高,不利于驱动芯片的推广。


技术实现思路

1、针对现有技术中所存在的不足,本技术提供了一种驱动芯片的测试装置,其解决了现有技术中对驱动芯片的测试信号的输入和输出信号的接收都需要采用差分设备,存在驱动芯片的测试环境要求较高的问题。

2、本技术提供一种驱动芯片的测试装置,所述测试装置包括:差分信号输入电路、单端信号输入电路、差分信号输出电路、单端信号输出电路和电源电路;所述差分信号输入电路的输入端与外部差分信号输入设备相连,所述差分信号输入电路的输出端与所述驱动芯片的输入端相连;所述单端信号输入电路的输入端与外部单端信号输入设备相连,所述单端信号输入电路的输出端与所述驱动芯片的输入端相连,用于将外部单端信号输入设备输出的单端输入信号转换成差分信号后输入到所述驱动芯片;所述差分信号输出电路的输入端与所述驱动芯片的输出端相连,所述差分信号输出电路的输出端与外部差分信号测试设备相连;所述单端信号输出电路的输入端与所述驱动芯片的输出端相连,所述单端信号输出电路的输出端与外部单端信号测试设备相连,用于将所述驱动芯片输出的差分信号转换成单端信号后输出到外部单端信号测试设备;所述电源电路的输入端与外部输入电源相连,用于为所述驱动芯片、差分信号输入电路、单端信号输入电路、差分信号输出电路和单端信号输出电路提供电能。

3、可选地,所述差分信号输入电路包括:第一rf同轴接口、第二rf同轴接口、第一电容和第二电容;所述第一rf同轴接口的第一端使用时与外部差分信号输入设备的第一输出端相连,所述第一rf同轴接口的第二端接地,所述第一rf同轴接口的第三端通过所述第一电容与所述驱动芯片的第一输入端相连;所述第二rf同轴接口的第二端使用时与外部差分信号输入设备的第二输出端相连,所述第二rf同轴接口的第二端接地,所述第二rf同轴接口的第三端通过所述第二电容与所述驱动芯片的第二输入端相连。

4、可选地,所述单端信号输入电路包括:第三rf同轴接口、第一变压器、第三电容、第四电容、第一电阻、第二电阻、第五电容、第三电阻和第四电阻;所述第三rf同轴接口的第一端使用时与外部单端信号输入设备相连,所述第三rf同轴接口的第二端接地,所述第三rf同轴接口的第三端与所述第一变压器的原边第一端相连,所述第一变压器的原边第二端接地,所述第一变压器的副边第一端通过所述第三电容与所述驱动芯片的第二输入端相连,所述第一变压器的副边第二端通过所述第四电容与所述驱动芯片的第一输入端相连;所述第一电阻的第一端与所述电源电路的输出端相连,所述第一电阻的第二端通过所述第二电阻接地,所述第一电阻的第二端还通过所述第一电容接地,所述第一电阻的第二端还通过所述第三电阻与所述驱动芯片的第二输入端相连,所述第一电阻的第二端还通过所述第四电阻与所述驱动芯片的第一输入端相连。

5、可选地,所述差分信号输出电路包括:第四rf同轴接口和第五rf同轴接口;所述第四rf同轴接口的第一端与所述驱动芯片的第一输出端相连,所述第四rf同轴接口的第二端接地,所述第四rf同轴接口的第三端与所述外部差分信号测试设备的第一输入端相连;所述第五rf同轴接口的第一端与所述驱动芯片的第二输出端相连,所述第五rf同轴接口的第二端接地,所述第五rf同轴接口的第三端与所述外部差分信号测试设备的第二输入端相连。

6、可选地,所述单端信号输出电路包括:整流滤波模块、第二变压器、负载调节模块、第五电阻和第六rf同轴接口;所述整流滤波模块的第一输入端与所述驱动芯片的第一输出端相连,所述整流滤波模块的第二输入端与所述驱动芯片的第二输出端相连,所述整流滤波模块的第一输出端与所述第二变压器的原边第一端相连,所述整流滤波模块的第二输出端与所述第二变压器的原边第二端相连,所述第二变压器的副边第一端与所述负载调节模块的第一端相连,所述第二变压器的副边第二端与所述负载调节模块的第二端相连,所述调节模块的第一端还通过所述第五电阻与所述第六rf同轴接口的第一端相连,所述第六rf同轴接口的第二端与所述负载调节模块的第二端相连,所述第六rf同轴接口的第三端与所述外部单端信号测试设备的输入端相连。

7、可选地,所述整流滤波模块包括:第六电阻、第七电阻、第六电容、第七电容、第一整流二极管和第二整流二极管;所述第六电阻的第一端与所述驱动芯片的第一输出端相连,所述第六电阻的第二端通过所述第六电容与所述第二变压器的原边第一端相连;所述第七电阻的第一端与所述驱动芯片的第二输出端相连,所述第七电阻的第二端通过所述第七电容与所述第二变压器的原边第二端相连;所述第一整流二极管的第一端接地,所述第一整流二极管的第二端与所述电源电路的输出端相连,所述第一整流二极管的第三端与所述第六电阻的第二端相连;所述第二整流二极管的第一端接地,所述第二整流二极管的第二端与所述电源电路的输出端相连,所述第二整流二极管的第三端与所述第七电阻的第二端相连。

8、可选地,所述负载调节模块包括:第八电阻、第九电阻、第十电阻、第一切换开关、第二切换开关和第三切换开关;所述第一切换开关的第一端与所述第二变压器的副边第一端相连,所述第一切换开关的第二端通过所述第八电阻与所述第二变压器的副边第二端相连;所述第二切换开关的第一端与所述第二变压器的副边第一端相连,所述第二切换开关的第二端通过所述第九电阻与所述第二变压器的副边第二端相连;所述第三切换开关的第一端与所述第二变压器的副边第一端相连,所述第三切换开关的第二端通过所述第十电阻与所述第二变压器的副边第二端相连。

9、可选地,所述测试装置还包括:偏置调整电路,与所述驱动芯片的偏置控制端相连,用于调整所述驱动芯片的偏置状态;反向输入电路,与所述驱动芯片的反向输入端相连,用于对驱动芯片进行反向输入。

10、可选地,所述偏置调整电路包括:第四切换开关、第五切换开关、第一可变电阻和第二可变电阻;所述第四切换开关的第一端通过所述第一可变电阻接地,所述第四切换开关的第二端接地,所述第四切换开关的第一端还与所述驱动芯片的第一偏置控制端相连;所述第五切换开关的第一端通过所述第二可变电阻接地,所述第五切换开关的第二端接地,所述第五切换开关的第一端还与所述驱动芯片的第二偏置控制端相连。

11、可选地,所述反向输入电路包括:第八电容、第十一电阻、第三可变电阻、第四可变电阻、第一可变电容和第二可变电容;所述第八电容的第一端与所述驱动芯片的第一反向输入端相连,所述第八电容的第二端通过所述第十一电阻与所述驱动本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:

2.如权利要求1所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述差分信号输入电路包括:

3.如权利要求2所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述单端信号输入电路包括:

4.如权利要求1所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述差分信号输出电路包括:

5.如权利要求1所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述单端信号输出电路包括:

6.如权利要求5所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述整流滤波模块包括:

7.如权利要求5所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述负载调节模块包括:

8.如权利要求1-7任一项所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括:

9.如权利要求8所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述偏置调整电路包括:

10.如权利要求8所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述反向输入电路包括:

【技术特征摘要】

1.一种驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:

2.如权利要求1所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述差分信号输入电路包括:

3.如权利要求2所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述单端信号输入电路包括:

4.如权利要求1所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述差分信号输出电路包括:

5.如权利要求1所述的驱动芯片的测试装置,其特征在于,所述单端信号输出电路包括:

...

【专利技术属性】
技术研发人员:曾繁勋
申请(专利权)人:重庆东微电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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