下载一种驱动芯片的测试装置的技术资料

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本技术提供了一种驱动芯片的测试装置,所述测试装置包括:差分信号输入电路、单端信号输入电路、差分信号输出电路、单端信号输出电路和电源电路;通过差分信号输入电路和将单端输入信号转换成差分信号的单端信号输入电路分别实现外部差分信号输入设备和外部单...
该专利属于重庆东微电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过重庆东微电子股份有限公司授权不得商用。

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