【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及镜头测试领域，尤其涉及一种镜头的测试设备及测试方法。
技术介绍
1、杂散光被定义为在光学系统中到达焦平面的不参与有效成像的有害光束。杂散光会降低图像对比度，增加系统噪声，使相机的成像质量下降，更严重的会遮蔽目标信号，从而使整个系统失效。
2、产生杂散光的主要原因有：强光照射下产生的孔径衍射、光线在不同镜片上发生的剩余反射，以及光线在镜筒等结构面发生的散射等。镜头杂散光主要分为光晕、鬼影、光刺等类型，不同类型的杂散光的引起原因也有差异。
3、目前镜头产线对镜头杂散光的测试方法主要是人工检测、人工判断，不仅效率低下，更会发生误判、漏判等现象。有鉴于此，非常有必要提出一种能够更快速、更准确识别镜头杂散光的设备与方法，以便准确追溯引起杂散光的具体原因。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种镜头的测试设备及测试方法，以提高镜头测试的自动化程度，更快速、更准确地识别镜头的杂散光类型，降低误判漏判的发生概率。
2、第一方面，本专利技术提供了一种镜头的测试设备，包括：多个圆弧支架、多个准直光源、第一移动模组、第二移动模组、成像芯片、图像采集系统以及控制系统；
3、多个圆弧支架共球心且等角度均匀固定于光学平台上；准直光源位于圆弧支架朝向球心一侧的表面上，位于同一个圆弧支架上的多个准直光源等角度均匀分布；控制系统用于控制准直光源的发光状态；发光状态包括发光亮度和点亮顺序中的至少一者；
4、第一移动模组包括至少两个镜头固定穴位；
5、成像芯片固定于第二移动模组上；控制系统还用于控制第二移动模组带动成像芯片沿目标测试镜头的光轴方向移动至目标位置；光轴方向垂直于光学平台所在平面；
6、控制系统还用于通过图像采集系统获取目标光源经目标测试镜头后在成像芯片上所成的测试图像，并根据测试图像确定目标测试镜头的杂散光类型；目标光源为所有准直光源中的至少一者。
7、可选地，位于同一个圆弧支架上的任意两个相邻的准直光源之间的角度可调。
8、可选地，圆弧支架的数量为偶数，任意两个相对设置的圆弧支架所对应的圆心角大于200°。
9、可选地，准直光源包括发光器件以及沿光的传播方向依次设置的第一透镜、第二透镜、光学小孔和第三透镜；发光器件发出的光线经第一透镜准直后，通过第二透镜聚焦于光学小孔上，部分光线通过光学小孔入射至第三透镜，经第三透镜准直后出射。
10、可选地，第一移动模组包括物料盘、第一移动组件和第二移动组件；
11、物料盘包括多个阵列排布的镜头固定穴位；控制系统用于控制第一移动组件带动物料盘沿第一方向移动，以及控制第二移动组件带动物料盘沿第二方向移动；第一方向和第二方向相交且均平行于光学平台所在平面。
12、可选地，测试设备还包括遮光箱；圆弧支架、准直光源、第一移动模组、第二移动模组、成像芯片以及图像采集系统均位于遮光箱内。
13、第二方面，基于同一专利技术构思，本专利技术提供了一种镜头的测试方法，采用本专利技术任一实施例提供的测试设备执行，测试方法包括：
14、控制第一移动模组带动目标测试镜头沿平行于光学平台所在平面的方向上移动，以将目标测试镜头移动至球心所在位置；
15、控制第二移动模组带动成像芯片沿目标测试镜头的光轴方向移动至目标位置；光轴方向垂直于光学平台所在平面；
16、控制所有准直光源中的目标光源发光，通过图像采集系统获取目标光源经目标测试镜头后在成像芯片上所成的测试图像，并根据测试图像确定目标测试镜头的杂散光类型；目标光源为所有准直光源中的至少一者。
17、可选地，控制第二移动模组带动成像芯片沿目标测试镜头的光轴方向移动至目标位置，包括：
18、控制中心准直光源发光；中心准直光源位于目标测试镜头的光轴上；
19、控制第二移动模组带动成像芯片沿目标测试镜头的光轴方向移动；
20、在第二移动模组的运动过程中，通过图像采集系统获取中心准直光源经目标测试镜头在成像芯片上所成的参考图像，根据参考图像的灰度信息确定最佳成像位置，将最佳成像位置确定为目标位置，并控制第二移动模组停止运动，以使成像芯片移动至目标位置。
21、可选地，控制所有准直光源中的目标光源发光，包括：
22、控制至少部分准直光源按照预设顺序依次发光；或者，控制至少部分准直光源同时发光。
23、可选地，根据测试图像确定目标测试镜头的杂散光类型，包括：
24、对测试图像进行光照补偿处理得到第一图像，以均匀图像背景灰度；
25、对第一图像进行去噪处理得到第二图像；
26、对第二图像进行二值化处理得到第三图像；
27、对第三图像进行图像增强处理得到第四图像；
28、对第四图像进行图像分割处理得到第五图像，以去除图像背景；
29、对第五图像进行图像算数运算得到第六图像；
30、对第六图像依次进行膨胀和腐蚀处理得到第七图像；
31、根据第七图像的图像特征确定目标测试镜头的杂散光类型；图像特征包括杂散光区域的面积、圆度、灰度及其与有效成像区域之间的距离。
32、本专利技术实施例的技术方案至少可以达到如下技术效果：
33、其一，采用准直光源作为杂散光测试光源，不仅可以提供均匀且明亮的光源，又可以避免光源本身产生眩光，减少干扰因素，提高测试结果的准确性，另外，控制系统可以根据测试需求控制准直光源的发光状态(例如发光亮度和点亮顺序)，控制方式更加灵活，实用性高；其二，第一移动模组可以同时承载多个待测试镜头，通过控制系统可以控制第一移动模组带动目标测试镜头沿平行于光学平台所在平面的方向上移动，将目标测试镜头移动至球心所在位置，即镜头的测试位置，如此，各个待测试镜头可以按照一定的顺序进行测试，在测试过程中无需移动光源或者镜头，从而可以提高镜头测试的自动化程度，提高测试效率；其三，通过将成像芯片固定于第二移动模组上，并通过控制系统控制第二移动模组带动成像芯片沿目标测试镜头的光轴方向移动，直至移动至成像最清晰的目标位置之后，再进行后续的杂散光测试，有利于保证测试结果的准确性，避免因图像不清晰而造成误判或漏判；其四，通过控制系统根据获取的测试图像确定目标测试镜头的杂散光类型，相比于人工判断而言，可以更快速、更准确地识别镜头的杂散光类型，提高测试结果的可靠性，降低误判和漏判的发生概率，更快速、更准确地追溯到引起镜头杂散光的原因。
34、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种镜头的测试设备，其特征在于，包括：多个圆弧支架、多个准直光源、第一移动模组、第二移动模组、成像芯片、图像采集系统以及控制系统；
2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，位于同一个所述圆弧支架上的任意两个相邻的所述准直光源之间的角度可调。
3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述圆弧支架的数量为偶数，任意两个相对设置的所述圆弧支架所对应的圆心角大于200°。
4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述准直光源包括发光器件以及沿光的传播方向依次设置的第一透镜、第二透镜、光学小孔和第三透镜；所述发光器件发出的光线经所述第一透镜准直后，通过所述第二透镜聚焦于所述光学小孔上，部分光线通过所述光学小孔入射至所述第三透镜，经所述第三透镜准直后出射。
5.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一移动模组包括物料盘、第一移动组件和第二移动组件；
6.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括遮光箱；所述圆弧支架、所述准直光源、所述第一移动模组、所述第二移动模组、所述成像芯片以及所
7.一种镜头的测试方法，采用权利要求1-6任一项所述的测试设备执行，其特征在于，所述测试方法包括：
8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，控制所述第二移动模组带动所述成像芯片沿所述目标测试镜头的光轴方向移动至目标位置，包括：
9.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，控制所有所述准直光源中的目标光源发光，包括：
10.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，根据所述测试图像确定所述目标测试镜头的杂散光类型，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种镜头的测试设备，其特征在于，包括：多个圆弧支架、多个准直光源、第一移动模组、第二移动模组、成像芯片、图像采集系统以及控制系统；
2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，位于同一个所述圆弧支架上的任意两个相邻的所述准直光源之间的角度可调。
3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述圆弧支架的数量为偶数，任意两个相对设置的所述圆弧支架所对应的圆心角大于200°。
4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述准直光源包括发光器件以及沿光的传播方向依次设置的第一透镜、第二透镜、光学小孔和第三透镜；所述发光器件发出的光线经所述第一透镜准直后，通过所述第二透镜聚焦于所述光学小孔上，部分光线通过所述光学小孔入射至所述第三透镜，经所述第三透镜准直后出射。
5.根据权利要求1所述的测试设...
【专利技术属性】
技术研发人员：何洪鑫，刘强伟，王宜时，汤晓伟，赵芳，
申请(专利权)人：苏州艾微视图像科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。