【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体制备,尤其是涉及一种基于氮化硼中间层远程外延生长二氧化钒的方法。
技术介绍
1、过渡金属氧化物是一类备受关注的材料,因其丰富的物理、化学和电子性质在多个科学领域引发了广泛兴趣。这些材料由过渡金属元素与氧元素组成,其特殊的电子结构和晶体结构赋予了它们多样化的功能,从而使其在能源、电子学、光电子学、催化等领域具备潜在的应用价值。过渡金属氧化物的电子结构是其独特性质的基础。过渡金属元素的d电子轨道与氧元素的p电子轨道相互作用,形成了复杂的能带结构。这种电子相互作用导致了多种可能的电荷状态和电子配对,从而导致了材料的多样性质。过渡金属氧化物的导电性、磁性、光学吸收、铁电性等特性都与其电子结构密切相关。
2、二氧化钒(vanadium dioxide,简称vo2)是一种引人注目的过渡金属氧化物材料,具有在室温下独特的金属-绝缘体相变特性。这种相变能够使其从绝缘体状态迅速转变为金属状态,导致电阻率急剧降低,同时伴随着晶格结构的变化。在室温下,单斜相vo2呈现绝缘体的电性质。然而,当温度升高到阈值(约68摄氏度)附近,
...【技术保护点】
1.一种基于氮化硼中间层远程外延生长二氧化钒的方法,其特征在于:包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤S1中,所述金属箔上生长h-BN二维原子晶体薄膜的具体过程包括以下步骤:先预处理金属箔,将金属箔置于IBSD腔室中,用还原性气体填充腔室,采用Ar+离子束溅射轰击纯h-BN靶,采用IBSD技术在金属箔上生长h-BN,以得到h-BN二维原子晶体薄膜。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤S2中,还包括采用干法转移或湿法转移方法将所述h-BN二维原子晶体薄膜转移到衬底上。
4.根据权利要求3所述的方法,
...【技术特征摘要】
1.一种基于氮化硼中间层远程外延生长二氧化钒的方法,其特征在于:包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤s1中,所述金属箔上生长h-bn二维原子晶体薄膜的具体过程包括以下步骤:先预处理金属箔,将金属箔置于ibsd腔室中,用还原性气体填充腔室,采用ar+离子束溅射轰击纯h-bn靶,采用ibsd技术在金属箔上生长h-bn,以得到h-bn二维原子晶体薄膜。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤s2中,还包括采用干法转移或湿法转移方法将所述h-bn二维原子晶体薄膜转移到衬底上。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于:所述干法转移包括热释放胶带转移方法或聚二甲基硅氧烷转移方法。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于:所述湿法转移包括基于聚甲基丙烯酸甲酯、松香或丙烯酸酯的湿...
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