【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电池极片，具体涉及一种电池极片削薄区的测量方法、系统以及存储介质。
技术介绍
1、电池的极片涂布工艺过程中，由于浆料的性质，涂层的边缘会出现削薄区。削薄区又直接参与电化学反应，因此其涂覆的均匀性和边界准确性对电池的性能和寿命至关重要。
2、在现有技术中，对于削薄区检测，多是先通过测量涂层的厚度或者面密度，然后通过分析涂层的厚度数据或者面密度数据，判断厚度数据或者面密度数据是否超过设定的阈值，以此确定削薄区的边界，再根据削薄区的边界提取对应的厚度数据或者面密度数据进行削薄区涂覆质量的分析。
3、而实际应用中，涂层的厚度在极片上可能会存在一定幅度上下波动，人为设定的阈值也会存在一定的偏差，可能导致出现削薄区边界误判的情况，产生严重的品质问题。
技术实现思路
1、本专利技术主要解决的技术问题是现有的电池极片削薄区的测量方法存在精度不足。
2、根据第一方面，一种实施例中提供一种电池极片削薄区的测量方法，包括：
3、获取标准片与待测极片的检测图像，获取标准片与待测极片的厚度数据；标准片的参考边缘与待测极片的待测边缘平行；检测图像至少包括标准片以及待测极片的待测边缘对应的图像；
4、根据标准片对应的厚度数据与检测图像，将检测图像与厚度数据对齐，得到检测图像与厚度数据的对应关系；
5、根据检测图像以及对应关系，得到厚度数据中待测极片的削薄区对应的厚度信息。
6、根据第二方面，一种实施例中提供一种电池
7、载物平台，被配置为放置待测极片与标准片；
8、图像探测器，被配置为采集标准片与待测极片的检测图像；
9、测厚模块，被配置为对标准片与待测极片进行厚度测量；
10、运动组件，被配置为驱动图像探测器与测厚模块沿预设方向进行运动；
11、处理模块，被配置为：
12、控制图像探测器获取标准片与待测极片的检测图像，控制测厚模块获取标准片与待测极片的厚度数据；标准片的参考边缘与待测极片的待测边缘平行；检测图像至少包括标准片以及待测极片的待测边缘对应的图像；
13、根据标准片对应的厚度数据与检测图像，将检测图像与厚度数据对齐，得到两者对应关系；
14、根据检测图像以及对应关系，得到厚度数据中待测极片的削薄区对应的厚度信息。
15、根据第三方面，一种实施例中提供一种计算机可读存储介质，介质上存储有程序，程序能够被处理器执行以实现如第一方面所描述的方法。
16、依据上述实施例的电池极片削薄区的测量方法、系统以及存储介质，通过引入标准片，通过获取标准片与待测极片的检测图像以及厚度数据，可以根据检测图像以及厚度数据对齐，根据检测图像可以得到待测极片的待测边缘的位置，从而确定在厚度数据中的位置，以此获得削薄区精确的厚度信息，从而可以对削薄区进行分析。
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1.一种电池极片削薄区的测量方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，根据所述标准片对应的厚度数据与检测图像，将所述检测图像与所述厚度数据对齐，得到所述检测图像与所述厚度数据对应关系，包括：
3.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，根据所述检测图像，得到所述标准片的中心点在所述检测图像中的第一图像坐标，包括：
4.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，根据所述标准片对应的厚度数据，得到所述标准片的中心点在所述厚度数据中的第一厚度坐标，包括：
5.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，根据所述第一厚度坐标与所述第一图像坐标，将所述厚度数据的厚度坐标与所述检测图像的图像坐标对齐，得到所述检测图像与所述厚度数据对应关系，包括：
6.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，根据所述检测图像以及所述对应关系，得到所述厚度数据中所述待测极片的削薄区对应的厚度信息，包括：
7.如权利要求6所述的测量方法，其特征在于，根据所述第二图像坐标以及所述对应关系，得到在所述厚度数据中所述待测极片的
8.如权利要求1-7中任一项所述的测量方法，其特征在于，获取标准片与待测极片的检测图像，获取所述标准片与所述待测极片的厚度数据，包括：
9.一种电池极片削薄区的测量系统，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述介质上存储有程序，所述程序能够被处理器执行以实现如权利要求1-8中任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种电池极片削薄区的测量方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，根据所述标准片对应的厚度数据与检测图像，将所述检测图像与所述厚度数据对齐，得到所述检测图像与所述厚度数据对应关系，包括：
3.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，根据所述检测图像，得到所述标准片的中心点在所述检测图像中的第一图像坐标，包括：
4.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，根据所述标准片对应的厚度数据，得到所述标准片的中心点在所述厚度数据中的第一厚度坐标，包括：
5.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，根据所述第一厚度坐标与所述第一图像坐标，将所述厚度数据的厚度坐标与所述检测图像的图像坐标对齐，得到所述检测图像与所述厚度数...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄哲宇，王越，周文涛，
申请(专利权)人：常州市大成真空技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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