【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及平整度测量领域，具体涉及降低膜材平整度测量误差的方法和测距设备。
技术介绍
1、在锂电池的生产制造过程中，需要用到大量的膜材，例如铜箔、铝箔、隔离膜等。这些膜材表面平整与否对于锂电池的生产制造是不容忽视的问题。此外，随着技术的进步，对于这些膜材的塌边情况、表面平整度等提出了更高的要求。
2、当前行业中对膜材平整度的测量原理主要为，在一定张力下，使用距离传感器测量膜材表面到传感器的距离，依据测量结果的最大值和最小值之间的差值来判断膜材平整度的优劣。然而在实际应用过程中，由于测量设备安装位置的偏差、膜材在托辊上的水平度偏差等原因，导致测量结果的最大值和最小值之间的差值与实际被测物在水平状态下的最大值和最小值之间的差值不一致，从而对被测物平整度优劣做出了错误的判断。
3、因此，需要提供能够更准确测量被测物的表面平整度的方法和设备。
技术实现思路
1、本申请为解决以上问题，提供了降低膜材平整度测量误差的方法和测距设备。
2、根据第一方面，一种实施例提供了一种降低膜材平整度测量误差的方法，包括：
3、第一步：将校验件水平安装在测距设备的测量行程内，通过所述测距设备测量所述校验件以获得第一组数据，并输出第一极差，所述第一极差为所述第一组数据的极差，将所述第一极差与所述校验件的真实极差进行比较，如果所述第一极差等于所述真实极差，则进入第二步；
4、第二步：将所述校验件旋转一定的角度，通过所述测距设备测量旋转后的所述校验件以
5、第三步：对所述测距设备导入补偿算法，其中，所述补偿算法包括先对整组数据进行回归分析得到回归方程，再根据回归方程对每个数据进行补偿，使得补偿后的整组数据满足回归方程y＝b且b为常数，最后计算补偿后的整组数据的极差；
6、第四步：对所述测距设备导入所述补偿算法后，利用所述补偿算法计算所述第二组数据的极差，得到第三极差；如果所述第三极差等于所述真实极差，则进入第五步；以及
7、第五步：使用所述测距设备测量所述膜材的表面平整度。
8、在一些实施例中，所述第一步还包括：
9、如果所述第一极差不等于所述真实极差，则对所述测距设备进行调整或者更换；以及使用经调整或更换的测距设备重新从所述第一步开始操作。
10、在一些实施例中，在将所述校验件旋转的情况下，在所述校验件中的第一位置x1处测量得到第一距离y1，在所述校验件中的第二位置x2处测量得到第二距离y2；
11、所述补偿算法包括：
12、对所述第二组数据进行线性回归以得到回归方程y＝kx+b，其中，x表示测量位置，y表示所测量距离；
13、选择所述第一位置x1处测量得到的第一距离y1作为基准点，使得补偿前的所述第一距离y1等于补偿后的第一距离y1’，然后用所述第二距离y2减去k*(x2-x1)以获得补偿后的第二距离y2’；
14、利用补偿后的距离计算极差以获得补偿后的整组数据的极差。
15、在一些实施例中，所述第四步还包括：
16、如果所述第三极差不等于所述真实极差，则补偿失败并且更换其他补偿算法；以及使用更换了补偿算法的测距设备重新从所述第四步开始操作。
17、在一些实施例中，所述测距设备利用固定步长对所述校验件或膜材进行测量以获得各组数据。
18、在一些实施例中，所述校验件包括检测板。
19、在一些实施例中，所述检测板包括曲面。
20、在一些实施例中，所述测距设备包括距离传感器，所述距离传感器用于对所述校验件或膜材进行扫描以采集距离测量数据。
21、根据第二方面，一种实施例提供了一种测距设备，包括：存储器，用于存储程序；处理器，用于通过执行所述存储器存储的程序以实现以上任一实施例所述的方法。
22、根据第三方面，一种实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述介质上存储有程序，所述程序能够被处理器执行以实现以上任一实施例所述的方法。
23、根据任一实施例所述的降低膜材平整度测量误差的方法，通过所述第一步，可以避免因测距设备本身的原因造成的即使是水平安装的校验件或膜材、然而其平整度测量结果也存在显著误差的情况，通过所述第二步，可以避免因被测物未被水平安装而测距设备又不具备自动补偿能力所导致的平整度测量结果存在显著误差的情况，通过所述第三步，可以对不具备补偿能力的测距设备导入补偿算法，通过第四步，可以对导入补偿算法后的测距设备再进行校验，最后使用经过各种校验的测距设备来测量膜材的表面平整度，从而可以确保获得膜材的准确的表面平整度测量结果。
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1.一种降低膜材平整度测量误差的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一步还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在将所述校验件旋转的情况下，在所述校验件中的第一位置x1处测量得到第一距离y1，在所述校验件中的第二位置x2处测量得到第二距离y2；
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第四步还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测距设备利用固定步长对所述校验件或膜材进行测量以获得各组数据。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述校验件包括检测板。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述检测板包括曲面。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测距设备包括距离传感器，所述距离传感器用于对所述校验件或膜材进行扫描以采集距离测量数据。
9.一种测距设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述介质上存储有程序，所述程序能够被处理器执行以实现根据权利要求1-8中
...【技术特征摘要】
1.一种降低膜材平整度测量误差的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一步还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在将所述校验件旋转的情况下，在所述校验件中的第一位置x1处测量得到第一距离y1，在所述校验件中的第二位置x2处测量得到第二距离y2；
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第四步还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测距设备利用固定步长对所述校验件或膜材进行测量以获得各...
【专利技术属性】
技术研发人员：周子杰，乔中涛，韩传松，
申请(专利权)人：常州市大成真空技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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