【技术实现步骤摘要】
本技术涉及老化测试领域，具体的说涉及到一种芯片老化板测试物料分料装置。
技术介绍
1、半导体行业中对老化板测试物料上料是很常见的一个步骤，在现有技术下为了实现管装自动进料，通常会采用人工将物料管送至上料位，并由上料机构将管内产品推出逐一单个分料；然而物料管的分料工作仍需人工协助完成，同时当测试设备需求多个同时测试时，由于人工在分料机构前逐一单个上料分料，极大影响了机器效率。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的不足，本技术提供一种芯片老化板测试物料分料装置，该装置能够对料管进行自动分料，可以提高分料的效率。
2、本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种芯片老化板测试物料分料装置，包括轨道组件、挡料组件、分料组件、辅助吹气组件、翻转组件以及顶升吹料组件；所述轨道组件上设置有进料口以及出料口，轨道组件上沿进料口往出料口方向上依次设置有挡料组件以及分料组件；所述翻转组件设置出料口的一侧，顶升吹料组件设置于轨道出料口的底部；所述分料组件包括挡料手指、压料块、挡料气缸以及挡料固定座；挡料固定座设置于上轨道板上，挡料固定座上设置有挡料气缸，挡料气缸上连接有挡料手指以及压料块。
3、在上述的结构中，所述轨道组件上设置有一个通孔，挡料手指以及压料块可以通过通孔伸入至轨道内，实现对料管的挡料以及分料。
4、在上述的结构中，所述挡料组件包括挡料片、挡料气缸以及挡料底座；所述挡料底座固定在轨道上，挡料底座上设置有用挡料气缸驱动的挡料片，挡料气缸驱动挡料片朝着进料口
5、在上述的结构中，所述挡料组件包括挡料片、挡料气缸以及挡料底座；所述挡料底座固定在轨道上，挡料底座上设置有用挡料气缸驱动的挡料片，挡料气缸驱动挡料片朝着进料口的方向移动或者远离。
6、在上述的结构中，所述翻转组件包括翻转轨道、翻转电机以及翻转底座；所述翻转轨道设置于机架上，翻转轨道上设置有翻转轨道以及翻转电机，翻转电机能够驱动翻转轨道进行旋转。
7、在上述的结构中，所述翻转组件还包括翻转吹气装置以及翻转吸气装置；所述翻转轨道的一侧设置有翻转吹气装置，翻转轨道的另一侧设置有翻转吸气装置。
8、在上述的结构中，所述顶升吹料组件包括吹气筒、顶升气缸以及气筒锁紧座；顶升气缸与吹气筒以及气筒锁紧座连接。
9、在上述的结构中，所述芯片老化板测试物料分料装置还包括翻管组件，翻管组价设置于轨道组件的一侧；所述翻管组件包括翻管底座、翻管转动轴、压管卡板以及翻管气缸；翻管转动轴的一端与翻管底座连接，翻管转动轴的另一端连接有通过翻管气缸驱动的压管卡板。
10、在上述的结构中，所述轨道组件的出料口处设置有感应组件。
11、本技术的有益效果是：该装置能够对料管进行分料，可以提高分料的效率。
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1.一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，包括轨道组件、挡料组件、分料组件、辅助吹气组件、翻转组件以及顶升吹料组件；
2.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，所述轨道组件上设置有一个通孔，挡料手指以及压料块可以通过通孔伸入至轨道内，实现对料管的挡料以及分料。
3.根据权利要求2所述的一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，所述挡料组件包括挡料片、挡料气缸以及挡料底座；
4.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，所述翻转组件包括翻转轨道、翻转电机以及翻转底座；
5.根据权利要求4所述的一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，所述翻转组件还包括翻转吹气装置以及翻转吸气装置；
6.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，所述顶升吹料组件包括吹气筒、顶升气缸以及气筒锁紧座；顶升气缸与吹气筒以及气筒锁紧座连接。
7.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，所述芯片老化板测试物料分料装置还包括翻管组件，翻管
8.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，所述轨道组件的出料口处设置有感应组件。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，包括轨道组件、挡料组件、分料组件、辅助吹气组件、翻转组件以及顶升吹料组件；
2.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，所述轨道组件上设置有一个通孔，挡料手指以及压料块可以通过通孔伸入至轨道内，实现对料管的挡料以及分料。
3.根据权利要求2所述的一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，所述挡料组件包括挡料片、挡料气缸以及挡料底座；
4.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料分料装置，其特征在于，所述翻转组件包括翻转轨道、翻转电机以及翻转底座；
...【专利技术属性】
技术研发人员：周秋香，任建新，万克壮，
申请(专利权)人：深圳市浦洛电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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