晶圆校准装置和方法制造方法及图纸

技术编号:40909400 阅读:32 留言:0更新日期:2024-04-18 14:38
本发明专利技术涉及一种晶圆校准装置和方法。该晶圆校准方法包括:对线扫工业相机进行校准,得到校准后的线扫工业相机;根据获取到的晶圆的尺寸和类型参数驱动三轴向控制模块组控制真空吸附载台上的晶圆旋转,并通过校准后的线扫工业相机对旋转的晶圆进行图像采集,得到晶圆的轮廓坐标;依据晶圆的轮廓坐标,从旋转的晶圆的图像中选取第一点集,依据第一点集的角度变化率确定第二点集;依据第二点集计算第二点集对应的圆心;依据第二点集的坐标确定定位所需的夹角;依据夹角和圆心生成位置调整参数,并依据位置调整参数通过三轴向控制模块调节晶圆的位置至目标位置进行定位。其优点在于有效节省了空间,提高了检测效率和定位精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片技术应用领域,尤其涉及一种晶圆校准装置和方法


技术介绍

1、晶圆预对准装置是晶圆处理系统的重要子系统,用于在晶圆被传送到加工工位之前,对晶圆进行定位处理,计算晶圆与标准位置的偏差,然后驱动运动平台使晶圆的圆心及缺口(或者切边)定位于特定的范围之内。晶圆预对准的目的有两个,目的一:确定晶圆圆心位置,目的二:确定晶圆缺口方向。由于操作前晶圆圆心在预对准系统上的位置是未知的,缺口方向也是随机的,因此预对准对于晶圆后续工艺十分重要。

2、在相关技术中,晶圆预对准包括两种方式:

3、方式一:机械式预对准装置是用复杂的机构直接接触晶圆,使其被动定位;主要应用于传输精度要求较低的微米级设备,机械式预对准装置通过定心爪的收缩将晶圆移到旋转中心;但是机械部件和晶圆的边缘接触,极易对晶圆造成污染,同时定位精度完全受机械结构精度的影响。

4、方式二:光学式预对准装置则采用光学测量元件对晶圆的边缘进行检测,通过一定的算法来实现硅晶圆的定心。但是根据所采用的探测器类型、个数以及安装位置的不同,圆心定位和缺口检测的算法也不尽相同本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种晶圆校准装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的晶圆校准装置,其特征在于,所述晶圆校准装置还包括:高分辨远心镜头(3),其中,所述高分辨远心镜头(3)与所述线扫工业相机(2)同轴对准,所述高分辨远心镜头(3)与所述真空吸附载台(4)之间设置预设距离,用于获取满足校准工艺的的所述晶圆的图像。

3.根据权利要求2所述的晶圆校准装置,其特征在于,所述高分辨远心镜头(3)包括:蓝光光源,用于提供满足所述校准工艺的分辨率和对比度。

4.根据权利要求1所述的晶圆校准装置,其特征在于,所述X轴向控制模块(6)包括:X轴移动模组、X轴集成式伺服电机、...

【技术特征摘要】

1.一种晶圆校准装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的晶圆校准装置,其特征在于,所述晶圆校准装置还包括:高分辨远心镜头(3),其中,所述高分辨远心镜头(3)与所述线扫工业相机(2)同轴对准,所述高分辨远心镜头(3)与所述真空吸附载台(4)之间设置预设距离,用于获取满足校准工艺的的所述晶圆的图像。

3.根据权利要求2所述的晶圆校准装置,其特征在于,所述高分辨远心镜头(3)包括:蓝光光源,用于提供满足所述校准工艺的分辨率和对比度。

4.根据权利要求1所述的晶圆校准装置,其特征在于,所述x轴向控制模块(6)包括:x轴移动模组、x轴集成式伺服电机、同步轮和同步带,其中,所述x轴移动模组通过所述同步轮和所述同步带与所述x轴集成式伺服电机连接。

5.根据权利要求1所述的晶圆校准装置,其特征在于,所述y轴向控制模块(7)包括:y轴移动模组、y轴集成式伺服电机、同步轮和同步带,其中,所述y轴移动模组通过所述同步轮和所述同步带与所述y轴集成式伺服电机连接,用于通过所述y轴集成式伺服电机驱动所述y轴移动模组和沿y轴向移动。

6.根据权利要求4或5所述的晶圆校准装置,其特征在于,所述晶圆校准装置还包括:转接板,其中,所述x轴向控制模块(6)通过所述转接板与所述y轴向控制模块(7)连接,所述x轴向控制模块(6)中的x轴移动模组与所述y轴向控制模块(7)中的y轴移动模组垂直连接,对应中心线与所述真空吸附载台(4)中心位置的轴线重合并固定于所述台面(1)...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱新亮胡文强吴冬冬
申请(专利权)人:上海玖蓥智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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