半导体封装制造技术

技术编号:40907736 阅读:18 留言:0更新日期:2024-04-18 14:37
一种半导体封装,包括:第一再分布结构;第一半导体器件,安装在第一再分布结构上;模制层,围绕第一半导体器件;第二再分布结构,设置在模制层和第一半导体器件上;多个竖直连接导体,在模制层中竖直地延伸,并将第一再分布图案电连接到第二再分布图案;第二半导体器件,安装在第二再分布结构上,第二半导体器件和第一半导体器件彼此竖直地部分重叠;散热焊盘结构,接触第一半导体器件的上表面;以及散热板,设置在散热焊盘结构上,并沿第一直线与第二半导体器件间隔开,该第一直线在与第一半导体器件的上表面平行的水平方向上延伸。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术构思涉及一种半导体封装


技术介绍

1、根据电子工业的快速发展和用户需求,电子设备正在变得小型化、多功能化和大容量化。因此,期望包括多个半导体芯片的半导体封装。例如,可以使用将多种类型的半导体芯片并排安装在一个封装衬底上、或者将半导体芯片和/或封装堆叠在一个封装衬底上的方法。


技术实现思路

1、本专利技术构思提供了一种包括多个半导体器件的半导体封装。

2、根据本专利技术构思的一个方面,一种半导体封装包括:第一再分布结构,包括第一再分布绝缘层和第一再分布图案;第一半导体器件,安装在第一再分布结构上;模制层,在第一再分布结构上围绕第一半导体器件;第二再分布结构,设置在模制层和第一半导体器件上,并且包括第二再分布绝缘层和第二再分布图案;多个竖直连接导体,在模制层中竖直地延伸,并将第一再分布图案电连接到第二再分布图案;第二半导体器件,安装在第二再分布图案上,其中,第二半导体器件和第一半导体器件彼此竖直地部分重叠;散热焊盘结构,接触第一半导体器件的上表面;以及散热板,设置在散热焊盘结构上,并沿第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体封装,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体封装,

3.根据权利要求1所述的半导体封装,

4.根据权利要求1所述的半导体封装,

5.根据权利要求1所述的半导体封装,还包括:

6.根据权利要求5所述的半导体封装,还包括:

7.根据权利要求5所述的半导体封装,

8.根据权利要求1所述的半导体封装,还包括:

9.根据权利要求1所述的半导体封装,

10.根据权利要求1所述的半导体封装,

11.根据权利要求1所述的半导体封装,

12.根据权利要求1所述的...

【技术特征摘要】

1.一种半导体封装,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体封装,

3.根据权利要求1所述的半导体封装,

4.根据权利要求1所述的半导体封装,

5.根据权利要求1所述的半导体封装,还包括:

6.根据权利要求5所述的半导体封装,还包括:

7.根据权利要求5所述的半导体封装,

8.根据权利要求1所述的半导体封装,还包括:

9.根据权利要求1所述的半导体封装,

10.根据权利要求1所述的半导体封装,

11.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:文炅墩徐祥熏金知晃白尚津黄贤瀞
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:

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