System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 发光二极管外延片及其制备方法、发光二极管技术_技高网

发光二极管外延片及其制备方法、发光二极管技术

技术编号:40875802 阅读:4 留言:0更新日期:2024-04-08 16:44
本发明专利技术公开了一种发光二极管外延片及其制备方法、发光二极管,涉及半导体光电器件领域。外延片依次包括衬底、缓冲层、非掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱层、电子阻挡层和P型GaN层;所述多量子阱层为量子阱层和量子垒层交替层叠形成的周期性结构;所述量子垒层包括依次层叠的Si<subgt;3</subgt;N<subgt;4</subgt;层、电场屏蔽层和InGaN层;所述电场屏蔽层为周期性结构,周期数为1~10,每个周期均包括依次层叠的本征GaN层和C、Si共掺AlN层。实施本发明专利技术,可提升发光二极管的发光效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体光电器件领域,尤其涉及一种发光二极管外延片及其制备方法、发光二极管


技术介绍

1、随着第三代半导体产业的蓬勃发展以及相关技术的不断突破,以氮化镓(gan)基发光二极管(light-emitting diodes,led)为主的新型固态照明产业在全球迅速崛起,成为各个国家竞相争夺的技术与产业制高点。近年来,各国针对gan基led照明产业的技术研究,相继推出了发展规划以及相应的发展鼓励政策等,使其产业逐渐走向成熟。基于gan基白光led的半导体照明除寿命长、体积小等特点外,其节能、环保的优势对全球资源的节约及社会的发展具有重要的战略意义。

2、有源层电子与空穴的复合效率与发光二极管的发光效率息息相关。有源层包含量子阱层与量子垒层。为了提高电子与空穴的波函数耦合度,减少电子溢流进p型层,提高电子与空穴在有源层的均匀分布,通常量子垒层采用algan材料。但algan量子垒层与ingan量子阱层存在较大极化效应,导致电子与空穴波函数分离。沉积的多量子阱层温度较低,晶体质量较差,导致缺陷影响其他量子阱的晶体质量,导致,led内量子效率下降,发光效率下降。


技术实现思路

1、本专利技术所要解决的技术问题在于,提供一种发光二极管外延片及其制备方法,其可提升发光二极管的发光效率。

2、为了解决上述问题,本专利技术公开了一种发光二极管外延片,其包括衬底,依次层叠于所述衬底上的缓冲层、非掺杂gan层、n型gan层、多量子阱层、电子阻挡层和p型gan层;所述多量子阱层为量子阱层和量子垒层交替层叠形成的周期性结构;

3、所述量子垒层包括依次层叠的si3n4层、电场屏蔽层和ingan层;所述电场屏蔽层为周期性结构,周期数为1~10,每个周期均包括依次层叠的本征gan层和c、si共掺aln层。

4、作为上述技术方案的改进,所述电场屏蔽层的周期数为3~10,所述本征gan层的厚度为1nm~10nm;

5、所述c、si共掺aln层的厚度为0.5nm~5nm,其c掺杂浓度为1×1016cm-3~1×1017cm-3,si掺杂浓度为1×1017cm-3~1×1018cm-3。

6、作为上述技术方案的改进,所述si3n4层的厚度为0.5nm~5nm;

7、所述ingan层的厚度为0.5nm~5nm,其in组分占比为0.01~0.2。

8、作为上述技术方案的改进,所述量子阱层为inxga1-xn层,x为0.15~0.3,其厚度为1nm~5nm。

9、作为上述技术方案的改进,沿外延片生长方向,所述ingan层中的in组分呈递增变化。

10、相应的,本专利技术还公开了一种发光二极管外延片的制备方法,用于制备上述的发光二极管外延片,其包括:

11、提供衬底,在所述衬底上依次生长缓冲层、非掺杂gan层、n型gan层、多量子阱层、电子阻挡层和p型gan层;所述多量子阱层为量子阱层和量子垒层交替层叠形成的周期性结构;

12、所述量子垒层包括依次层叠的si3n4层、电场屏蔽层和ingan层;所述电场屏蔽层为周期性结构,周期数为1~10,每个周期均包括依次层叠的本征gan层和c、si共掺aln层。

13、作为上述技术方案的改进,所述si3n4层的生长温度为800℃~900℃,生长压力为50torr~500torr,其生长气氛为n2和nh3的混合气体,且n2和nh3的体积比为5:1~10:1。

14、作为上述技术方案的改进,所述本征gan层的生长温度为800℃~1000℃,生长压力为50torr~500torr,其生长气氛为n2、nh3和h2的混合气体,且n2、nh3和h2的体积比为1:1:1~1:10:5;

15、所述c、si共掺aln层的生长温度为800℃~1000℃,生长压力为50torr~500torr,其生长气氛为n2、nh3和h2的混合气体,且n2、nh3和h2的体积比为1:1:1~1:5:10。

16、作为上述技术方案的改进,所述ingan层的生长温度为800℃~1000℃,生长压力为50torr~300torr,其生长气氛为n2和nh3的混合气体,且n2和nh3的体积比为5:1~10:1。

17、相应的,本专利技术还公开了一种发光二极管,其包括上述的发光二极管外延片。

18、实施本专利技术,具有如下有益效果:

19、本专利技术的发光二极管外延片中,量子垒层包括依次层叠的si3n4层、电场屏蔽层和ingan层;所述电场屏蔽层为周期性结构,周期数为1~10,每个周期均包括依次层叠的本征gan层和c、si共掺aln层。其中,si3n4层可减少量子阱层的ingan向垒层扩散,提高量子阱层量子限制效应,此外,si3n4层减少了缺陷延伸,提高晶体质量。本征gan层和c、si共掺aln层所形成的周期性结构一者势垒高,减少电子溢流至p型gan层,提升发光效率。二者,c、si共掺杂aln层可以屏蔽外延层缺陷,提高晶体质量,还可以调控c-si掺杂浓度屏蔽量子阱内的压电场作用,三者,电场屏蔽层还可以调控空穴的注入深度,改善载流子在有源区的均匀性,提高电子和空穴的波函数重叠,提高发光二极管的发光效率。ingan层则可缓冲量子垒层与量子阱层之间的晶格失配,提升多量子阱层的晶体质量,提升电子、空穴的辐射复合概率,提高发光二极管的发光效率。

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【技术保护点】

1.一种发光二极管外延片,其特征在于,包括衬底,依次层叠于所述衬底上的缓冲层、非掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱层、电子阻挡层和P型GaN层;所述多量子阱层为量子阱层和量子垒层交替层叠形成的周期性结构;

2.如权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述电场屏蔽层的周期数为3~10,所述本征GaN层的厚度为1nm~10nm;

3.如权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述Si3N4层的厚度为0.5nm~5nm;

4.如权利要求1~3任一项所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述量子阱层为InxGa1-xN层,x为0.15~0.3,其厚度为1nm~5nm。

5.如权利要求4所述的发光二极管外延片,其特征在于,沿外延片生长方向,所述InGaN层中的In组分呈递增变化。

6.一种发光二极管外延片的制备方法,用于制备如权利要求1~5任一项所述的发光二极管外延片,其特征在于,包括:

7.如权利要求6所述的发光二极管外延片的制备方法,其特征在于,所述Si3N4层的生长温度为800℃~900℃,生长压力为50torr~500torr,其生长气氛为N2和NH3的混合气体,且N2和NH3的体积比为5:1~10:1。

8.如权利要求1所述的发光二极管外延片的制备方法,其特征在于,所述本征GaN层的生长温度为800℃~1000℃,生长压力为50torr~500torr,其生长气氛为N2、NH3和H2的混合气体,且N2、NH3和H2的体积比为1:1:1~1:10:5;

9.如权利要求6所述的发光二极管外延片的制备方法,其特征在于,所述InGaN层的生长温度为800℃~1000℃,生长压力为50torr~300torr,其生长气氛为N2和NH3的混合气体,且N2和NH3的体积比为5:1~10:1。

10.一种发光二极管,其特征在于,包括如权利要求1~5任一项所述的发光二极管外延片。

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【技术特征摘要】

1.一种发光二极管外延片,其特征在于,包括衬底,依次层叠于所述衬底上的缓冲层、非掺杂gan层、n型gan层、多量子阱层、电子阻挡层和p型gan层;所述多量子阱层为量子阱层和量子垒层交替层叠形成的周期性结构;

2.如权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述电场屏蔽层的周期数为3~10,所述本征gan层的厚度为1nm~10nm;

3.如权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述si3n4层的厚度为0.5nm~5nm;

4.如权利要求1~3任一项所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述量子阱层为inxga1-xn层,x为0.15~0.3,其厚度为1nm~5nm。

5.如权利要求4所述的发光二极管外延片,其特征在于,沿外延片生长方向,所述ingan层中的in组分呈递增变化。

6.一种发光二极管外延片的制备方法,用于制备如权利要求1~5任一项所述的发光二极管外延片,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:程龙郑文杰高虹刘春杨胡加辉金从龙
申请(专利权)人:江西兆驰半导体有限公司
类型:发明
国别省市:

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