【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及固态硬盘，尤其涉及一种接口寿命检测电路、方法、设备及介质。
技术介绍
1、随着互联网技术的不断发展，涉及数据储存的固态硬盘也被广泛应用于军事、工控、监控、医疗、航空等
，m.2接口的固态硬盘是目前应用比较广泛的固态硬盘。一般的，在生产m.2接口固态硬盘的过程中会大批量、长时间地使用m.2接口的测试板对固态硬盘进行测试，由于m.2接口的插拔寿命比较短，当测试板的m.2接口插拔次数超过标定值一定次数后可能会导致测试板对固态硬盘识别异常或工作异常，从而影响生产及测试的准确性，现有技术采用的方式是定期更换接口或出现不良情况后更换。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供一种接口寿命检测电路、方法、设备及介质，旨在统计生产测试过程中测试板的m.2接口插拔次数，以提醒使用者按需更换，从而提升固态硬盘在生产测试中的安全性、准确性及数据可追溯性。
2、本专利技术提供如下技术方案：
3、第一方面，本专利技术提供一种接口寿命检测电路，所述电路包括在位检测模块及插拔计数管理模块；
4、所述在位检测模块的第一端与外部电源电连接，所述在位检测模块的第三端接地；
5、所述插拔计数管理模块包括微控制单元及存储单元；所述微控制单元的第一端与所述外部电源电连接，所述微控制单元的第二端与所述存储单元的第二端电连接，所述微控制单元的第三端与所述在位检测模块的第二端电连接，所述微控制单元的第四端接地；所述存储单元的第一端与所述外部电源电连接，所述存储
6、所述在位检测模块，用于检测固态硬盘的接入情况，并根据所述接入情况发送检测信号给所述插拔计数管理模块；
7、所述插拔计数管理模块，用于根据所述检测信号统计并存储插拔次数；当所述插拔次数大于预设寿命次数时，提供告警提示。
8、在一实施方式中，所述在位检测模块包括m.2连接器、第一上拉电阻、第二上拉电阻及mos管；
9、所述第一上拉电阻的第一端及所述第二上拉电阻的第一端与所述外部电源电连接；所述第一上拉电阻的第二端与所述mos管的漏极电连接；所述第二上拉电阻的第二端与所述mos管的栅极电连接；所述m.2连接器与所述mos管的栅极电连接；所述mos管的漏极与所述微控制单元的第三端电连接。
10、在一实施方式中，所述检测信号包括高电平信号及低电平信号，若所述固态硬盘接入所述m.2连接器，所述mos管关闭，所述在位检测模块，还用于向所述插拔计数管理模块发送所述高电平信号；若所述固态硬盘未接入所述m.2连接器，所述mos管导通，所述在位检测模块，还用于向所述插拔计数管理模块发送所述低电平信号。
11、在一实施方式中，所述微控制单元，用于若连续两次所述检测信号均为高电平信号，确定所述固态硬盘接入，若连续两次所述检测信号均为低电平，确定所述固态硬盘拔出，连续两次所述检测信号的间隔时间为预设间隔时间；当连续检测到一次所述固态硬盘接入和拔出所述m.2连接器时，读取所述存储单元存储的原插拔次数并写入新的插拔次数。
12、在一实施方式中，所述微控制单元还用于与人机交互设备电连接，并向所述人机交互设备发送所述插拔次数和/或告警提示。
13、第二方面，本专利技术提供一种接口寿命检测方法，应用于第一方面所述的接口寿命检测电路，所述方法包括：
14、在位检测模块检测固态硬盘的接入情况，并根据所述接入情况发送检测信号给插拔计数管理模块；
15、所述插拔计数管理模块根据所述检测信号统计并存储插拔次数，当所述插拔次数大于预设寿命次数时，提供告警提示。
16、在一实施方式中，所述检测信号包括高电平信号和低电平信号，所述根据所述接入情况发送检测信号给插拔计数管理模块，包括：
17、若所述固态硬盘接入m.2连接器，mos管关闭，所述在位检测模块向所述插拔计数管理模块发送所述高电平信号；
18、若所述固态硬盘未接入所述m.2连接器，所述mos管导通，所述在位检测模块向所述插拔计数管理模块发送所述低电平信号。
19、在一实施方式中，所述根据所述检测信号统计并存储插拔次数，包括：
20、若连续两次所述检测信号均为高电平信号，所述微控制单元确定所述固态硬盘接入，若连续两次所述检测信号均为低电平，所述微控制单元确定所述固态硬盘拔出，连续两次所述检测信号的间隔时间为预设间隔时间；
21、当连续检测到一次所述固态硬盘接入和拔出所述m.2连接器时，所述微控制单元读取所述存储单元存储的原插拔次数并写入新的插拔次数。
22、第三方面，本专利技术提供一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器及处理器存储有计算机程序，所述计算机程序在所述处理器上运行时执行第二方面所述的接口寿命检测方法。
23、第四方面，本专利技术提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第二方面所述的接口寿命检测方法。
24、本专利技术提供的接口寿命检测电路、方法、设备及介质，所述电路包括在位检测模块及插拔计数管理模块；所述在位检测模块的第一端与外部电源电连接，所述在位检测模块的第三端接地；所述插拔计数管理模块包括微控制单元及存储单元；所述微控制单元的第一端与所述外部电源电连接，所述微控制单元的第二端与所述存储单元的第二端电连接，所述微控制单元的第三端与所述在位检测模块的第二端电连接，所述微控制单元的第四端接地；所述存储单元的第一端与所述外部电源电连接，所述存储单元的第三端接地；所述在位检测模块，用于检测固态硬盘的接入情况，并根据所述接入情况发送检测信号给所述插拔计数管理模块；所述插拔计数管理模块，用于根据所述检测信号统计并存储插拔次数；当所述插拔次数大于预设寿命次数时，提供告警提示。本专利技术通过在位检测模块检测生产测试过程中固态硬盘接入和拔出m.2接口的情况，插拔计数管理模块统计插拔次数，通过设置预设寿命次数与统计到的插拔次数进行比较，以提示使用者提前按需更换接口，避免因为接口损坏影响生产及测试的准确性，从而提升生产测试良率，节省生产成本。此外，使用者还可通过人机交互设备随时查看接口的插拔次数，提升了固态硬盘在生产测试中的安全性、准确性及数据可追溯性。
25、为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显和易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，做详细说明如下。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种接口寿命检测电路，其特征在于，所述电路包括在位检测模块及插拔计数管理模块；
2.根据权利要求1所述的接口寿命检测电路，其特征在于，所述在位检测模块包括M.2连接器、第一上拉电阻、第二上拉电阻及MOS管；
3.根据权利要求2所述的接口寿命检测电路，其特征在于，所述检测信号包括高电平信号及低电平信号，若所述固态硬盘接入所述M.2连接器，所述MOS管关闭，所述在位检测模块，还用于向所述插拔计数管理模块发送所述高电平信号；
4.根据权利要求3所述的接口寿命检测电路，其特征在于，所述微控制单元，用于若连续两次所述检测信号均为高电平信号，确定所述固态硬盘接入，若连续两次所述检测信号均为低电平，确定所述固态硬盘拔出，连续两次所述检测信号的间隔时间为预设间隔时间；
5.根据权利要求1所述的接口寿命检测电路，其特征在于，所述微控制单元还用于与人机交互设备电连接，并向所述人机交互设备发送所述插拔次数和/或告警提示。
6.一种接口寿命检测方法，其特征在于，应用于权利要求1-5任一项所述的接口寿命检测电路，所述方法包括：
7
8.根据权利要求7所述的接口寿命检测方法，其特征在于，所述根据所述检测信号统计并存储插拔次数，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器及处理器，所述存储器及处理器存储有计算机程序，所述计算机程序在所述处理器上运行时执行权要6-8中任一项所述的接口寿命检测方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求6-8中任一项所述的接口寿命检测方法。
...【技术特征摘要】
1.一种接口寿命检测电路，其特征在于，所述电路包括在位检测模块及插拔计数管理模块；
2.根据权利要求1所述的接口寿命检测电路，其特征在于，所述在位检测模块包括m.2连接器、第一上拉电阻、第二上拉电阻及mos管；
3.根据权利要求2所述的接口寿命检测电路，其特征在于，所述检测信号包括高电平信号及低电平信号，若所述固态硬盘接入所述m.2连接器，所述mos管关闭，所述在位检测模块，还用于向所述插拔计数管理模块发送所述高电平信号；
4.根据权利要求3所述的接口寿命检测电路，其特征在于，所述微控制单元，用于若连续两次所述检测信号均为高电平信号，确定所述固态硬盘接入，若连续两次所述检测信号均为低电平，确定所述固态硬盘拔出，连续两次所述检测信号的间隔时间为预设间隔时间；
5.根据权利要求1所述的接口寿命检测电路，其特征在于，所述微控制单元还用于与人机交互设备电连...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐永刚，孙成思，何瀚，王灿，衡阳，柏艾林，郑潇，
申请(专利权)人：成都态坦测试科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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