【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数字电路设计和故障定位，特别是涉及一种存储体故障定位控制电路、存储体自测试系统和设备。
技术介绍
1、存储体故障定位是指在集成电路的存储体(如ram或rom等)中发生故障时，通过测试和分析的方法确定故障发生的位置。
2、传统的存储体故障定位是通过ate(automatic test equipment，自动测试设备)机台进行的。这些设备通过外部测试向量对存储体进行测试，并通过测试结果分析来定位故障。这种方法通常需要大量的外部测试设备和测试时间。此外，一些存储体可能提供外部调试接口，允许外部系统与存储体进行交互，以便获取更多的调试信息。
3、然而，上述传统的存储体故障定位方案存在测试效率低和测试成本高的技术问题。
技术实现思路
1、基于此，有必要提供一种存储体故障定位控制电路、一种存储体自测试系统、一种计算机设备和一种通信设备。
2、为了实现上述目的，本专利技术实施例采用以下技术方案：
3、一方面，提供一种存储体故障定位控制电路，包括：内部状态机、输出数据移位器模块、控制信号移位器模块和与门模块；
4、内部状态机的输入端分别用于接入数据移位使能信号、自测试时钟信号和自测试复位信号，内部状态机的输出端分别连接输出数据移位器模块和控制信号移位器模块的输入端，输出数据移位器模块的输入端分别用于接入数据输入信号和自测试复位信号，输出数据移位器模块的输出端用于输出数据移位输出信号，控制信号移位器模块的输入端用于接入自测试
5、内部状态机用于基于数据移位使能信号、自测试时钟信号和自测试复位信号的输入状态进行状态转换，输出相应的时钟信号和使能信号，输出数据移位器模块根据时钟信号、使能信号和自测试复位信号，将数据输入信号进行移位操作输出数据移位输出信号，控制信号移位器模块用于根据使能信号和自测试复位信号，通过内部逻辑处理输出自测试使能信号，与门模块用于根据数据移位输出信号和自测试使能信号进行逻辑与操作，输出观测结果信号；自测试使能信号用于控制自测试模式的启用或禁用，观测结果信号用于定位存储体故障。
6、另一方面，还提供一种存储体自测试系统，包括上述任一实施例的存储体故障定位控制电路。
7、又一方面，还提供一种计算机设备，包括上述的存储体自测试系统。
8、再一方面，还提供一种通信设备，存储体自测试系统。
9、本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
10、上述存储体故障定位控制电路，通过引入内部状态机、输出数据移位器模块、控制信号移位器模块和与门模块的组合，实现了对存储体故障定位的控制电路。这种设计有效地管理硬件资源，使其在自测试过程中能够高效而可控地运行，降低测试成本。控制信号移位器的引入进一步提高了对测试使能信号的控制能力，使测试范围更加灵活可调。此外，通过内部状态机进行状态切换减少复用的端口资源。对观测结果信号增加观测节点，使得在测试过程中可以实时监控和分析存储体的状态。此外，控制信号移位器模块的内部逻辑处理和与门模块的逻辑与操作，有助于对自测试使能信号进行灵活的配置，从而调整测试的粒度。这种配置的灵活性使得在不同的测试场景和需求下，能够更好地适应存储体故障定位的要求，提高了测试的效率和可靠性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种存储体故障定位控制电路，其特征在于，包括：内部状态机、输出数据移位器模块、控制信号移位器模块和与门模块；
2.根据权利要求1所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述输出数据移位器模块包括N个第一移位器，所述控制信号移位器模块包括N个第二移位器，所述与门模块包括N个与门；N为大于等于2的整数。
3.根据权利要求2所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述数据输入信号包括不同类型和不同格式的测试数据。
4.根据权利要求2所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述数据输入信号的测试数据类型和格式相同。
5.根据权利要求2所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述自测试时钟信号根据测试需求调整频率。
6.根据权利要求2所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述自测试时钟信号的频率固定。
7.根据权利要求2所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述观测结果信号由监控和分析设备进行实时监控和分析。
8.一种存储体自测试系统，其特征在于，包括根据权利要求1-7中任一项所述的存储
9.一种计算机设备，其特征在于，包括根据权利要求8中所述的存储体自测试系统。
10.一种通信设备，其特征在于，包括根据权利要求8中所述的存储体自测试系统。
...【技术特征摘要】
1.一种存储体故障定位控制电路，其特征在于，包括：内部状态机、输出数据移位器模块、控制信号移位器模块和与门模块；
2.根据权利要求1所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述输出数据移位器模块包括n个第一移位器，所述控制信号移位器模块包括n个第二移位器，所述与门模块包括n个与门；n为大于等于2的整数。
3.根据权利要求2所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述数据输入信号包括不同类型和不同格式的测试数据。
4.根据权利要求2所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述数据输入信号的测试数据类型和格式相同。
5.根据权利要求2所述的存...
【专利技术属性】
技术研发人员：龚国辉，胡佑焱，黄高翔，赵容，柯兴科，卢灵敏，
申请(专利权)人：湖南长城银河科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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