存储体故障定位控制电路、存储体自测试系统和设备技术方案

本申请涉及一种存储体故障定位控制电路、存储体自测试系统和设备。内部状态机基于数据移位使能信号、自测试时钟信号和自测试复位信号进行状态转换，输出时钟信号和使能信号。输出数据移位器根据时钟信号、使能信号和自测试复位信号，对数据输入信号进行移位操作。控制信号移位器根据使能信号和自测试复位信号，通过内部逻辑处理输出自测试使能信号。与门模块用于逻辑与操作，输出观测结果信号。自测试使能信号用于控制自测试模式的启用或禁用，观测结果信号用于定位存储体故障。实现了对存储体故障定位的控制电路，并且实现了对自测试使能信号进行灵活的配置，从而调整测试的粒度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及数字电路设计和故障定位，特别是涉及一种存储体故障定位控制电路、存储体自测试系统和设备。

技术介绍

1、存储体故障定位是指在集成电路的存储体(如ram或rom等)中发生故障时，通过测试和分析的方法确定故障发生的位置。

2、传统的存储体故障定位是通过ate(automatic test equipment，自动测试设备)机台进行的。这些设备通过外部测试向量对存储体进行测试，并通过测试结果分析来定位故障。这种方法通常需要大量的外部测试设备和测试时间。此外，一些存储体可能提供外部调试接口，允许外部系统与存储体进行交互，以便获取更多的调试信息。

3、然而，上述传统的存储体故障定位方案存在测试效率低和测试成本高的技术问题。

技术实现思路

1、基于此，有必要提供一种存储体故障定位控制电路、一种存储体自测试系统、一种计算机设备和一种通信设备。

2、为了实现上述目的，本专利技术实施例采用以下技术方案：

3、一方面，提供一种存储体故障定位控制电路，包括：内部状态机、输本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储体故障定位控制电路，其特征在于，包括：内部状态机、输出数据移位器模块、控制信号移位器模块和与门模块；

2.根据权利要求1所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述输出数据移位器模块包括N个第一移位器，所述控制信号移位器模块包括N个第二移位器，所述与门模块包括N个与门；N为大于等于2的整数。

3.根据权利要求2所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述数据输入信号包括不同类型和不同格式的测试数据。

4.根据权利要求2所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述数据输入信号的测试数据类型和格式相同。

5.根据权利要求2所述...

【技术特征摘要】

1.一种存储体故障定位控制电路，其特征在于，包括：内部状态机、输出数据移位器模块、控制信号移位器模块和与门模块；

2.根据权利要求1所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述输出数据移位器模块包括n个第一移位器，所述控制信号移位器模块包括n个第二移位器，所述与门模块包括n个与门；n为大于等于2的整数。

3.根据权利要求2所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述数据输入信号包括不同类型和不同格式的测试数据。

4.根据权利要求2所述的存储体故障定位控制电路，其特征在于，所述数据输入信号的测试数据类型和格式相同。

5.根据权利要求2所述的存...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚国辉，胡佑焱，黄高翔，赵容，柯兴科，卢灵敏，
申请(专利权)人：湖南长城银河科技有限公司，
类型：发明
国别省市：