System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 芯片封装结构和方法技术_技高网

芯片封装结构和方法技术

技术编号:40602392 阅读:3 留言:0更新日期:2024-03-12 22:07
本发明专利技术提供一种芯片封装结构和方法,该芯片封装结构包括:玻璃基板,玻璃基板上设置有多个通孔,通孔沿玻璃基板的厚度方向贯穿,通孔内填充有第一导电图形;芯片,芯片设置在玻璃基板的一侧,与第一导电图形一侧连接;重布线层,设置在玻璃基板的另一侧,与第一导电图形另一侧连接;重布线层包括绝缘层,设置于绝缘层的通孔内的第二导电图形,以及,设置于绝缘层的远离玻璃基板的一侧的第一衬垫。本发明专利技术通过增加玻璃基板,对于芯片正面朝下封装产品而言能够实现高密封装;对于对扇出型多芯片封装产品而言,通过增加玻璃基板,还能够取消底部填充材料和相关工序,有效降低成本,还能减少底部填充相关工序的异常带来芯片损失,增强良率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及芯片封装,尤其涉及一种芯片封装结构和方法


技术介绍

1、随着终端电子产品的多功能化、智能化以及小型化的发展,对于封装技术的要求也显著提升,现有技术中常用的封装技术包括芯片正面朝下封装(face down)和扇出型多芯片封装(fan-out multi chip modules,fomcm)。

2、倒装芯片技术是通过芯片上的凸点直接将元器件朝下互连到基板、载体或者电路板上,对于对芯片正面朝下封装(face down)产品而言,由于塑封层表面的平坦度较低,因此塑封层表面形成重布线层导致难以实现高密封装。对扇出型多芯片封装(fan-out multichip modules,fomcm)产品而言,底部填充材料和相关工序较多导致成本较高,并且底部填充相关工序的异常还会带来芯片损失。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供一种芯片封装结构和方法,以解决现有的难以形成高密封和封装成本较高的问题。

2、为了解决上述技术问题,本专利技术是这样实现的:

3、第一方面,本专利技术实施例提供了一种芯片封装结构,包括:

4、玻璃基板,所述玻璃基板上设置有多个通孔,所述通孔沿所述玻璃基板的厚度方向贯穿,所述通孔内填充有第一导电图形;

5、芯片,所述芯片设置在所述玻璃基板的一侧,与所述第一导电图形一侧连接;

6、重布线层,设置在所述玻璃基板的另一侧,与所述第一导电图形另一侧连接;所述重布线层包括绝缘层,设置于所述绝缘层的通孔内的第二导电图形,以及,设置于所述绝缘层的远离所述玻璃基板的一侧的第一衬垫。

7、可选的,还包括:

8、第二衬垫,设置在所述芯片靠近所述玻璃基板的一侧,通过所述第二衬垫连接所述芯片与所述第一导电图形。

9、可选的,还包括:

10、焊球,设置在所述第一衬垫上。

11、可选的,还包括:

12、半球体焊球,设置在所述第一衬垫上。

13、可选的,还包括:

14、塑封层,设在所述玻璃基板下方且包覆所述芯片的一部分。

15、第二方面,本专利技术实施例提供了一种芯片封装的方法,包括:

16、提供玻璃基板;

17、在所述玻璃基板内形成多个盲孔,在所述盲孔内形成第一导电图形;

18、研磨所述玻璃基板远离盲孔的一侧,使得所述第一导电图形露出;

19、在所述玻璃基板的一侧键合芯片,所述芯片与所述第一导电图形一侧连接;

20、在所述玻璃基板的另一侧形成重布线层,所述重布线层与所述第一导电图形另一侧连接;所述重布线层包括绝缘层,设置于所述绝缘层的通孔内的第二导电图形,以及,设置于所述绝缘层的远离所述玻璃基板的一侧的第一衬垫。

21、可选的,还包括:

22、在所述芯片靠近所述玻璃基板的一侧形成第二衬垫,通过所述第二衬垫连接所述芯片与所述第一导电图形。

23、可选的,还包括:

24、在所述第一衬垫上形成焊球。

25、可选的,还包括:

26、在所述第一衬垫上形成半球体焊球。

27、在本专利技术的芯片封装结构包括玻璃基板、芯片和重布线层,并且通过玻璃基板内的第一导电图形连接芯片和重布线层,玻璃基板的密度更高,对于对芯片正面朝下封装产品而言,相较于普通塑封层,玻璃基板的平坦度更高,因此在玻璃基板上形成重布线层能够实现高密封装;对于对扇出型多芯片封装产品而言,通过增加玻璃基板,能够取消底部填充材料和相关工序,有效降低成本,还能减少底部填充相关工序的异常带来芯片损失,增强良率。

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【技术保护点】

1.一种芯片封装结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,还包括:

6.一种芯片封装的方法,其特征在于,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,还包括:

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,还包括:

9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,还包括:

【技术特征摘要】

1.一种芯片封装结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕鹏
申请(专利权)人:成都奕成集成电路有限公司
类型:发明
国别省市:

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