显示面板亮灯检查方法及显示装置的制造方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种显示面板亮灯检查方法及显示装置的制造方法。本发明专利技术涉及一种能够减小与超小型发光二极管元件接合的像素电极的电阻的显示装置。根据一实施例的显示面板亮灯检查方法可以包括如下步骤：在第一基板上布置具有粘合性的导电层以形成供体基板；将布置在临时基板上的多个发光元件粘合到所述供体基板上，并从所述多个发光元件剥离所述临时基板；将所述供体基板上的所述多个发光元件接触并接合到电路基板上；以及将所述导电层与所述多个发光元件电连接并向所述多个发光元件施加测试电压来检查所述多个发光元件是否不良。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种显示面板亮灯检查方法及显示装置的制造方法。

技术介绍

1、随着信息化社会的发展，对用于显示图像的显示装置的需求以多样的形态增加。显示装置可以是诸如液晶显示装置(liquid crystal display)、场发射显示装置(fieldemission display)、发光显示装置(light emitting display)等的平板显示装置。

2、发光显示装置可以实现为包括有机发光二极管元件作为发光元件的有机发光显示装置、包括无机半导体元件作为发光元件的无机发光显示装置、或包括超小型发光二极管元件(或微型发光二极管元件(micro light emitting diode element))作为发光元件的超小型发光二极管显示装置。

3、在通过将超小型发光元件接合到显示面板的工艺而制造的显示装置中，在完成显示装置的工艺之后执行超小型发光元件的不良检查。在完成显示装置的工艺之后发现超小型发光元件的不良的情况下，不易将不良的超小型发光元件更换为良品的发光元件，因此，以往的亮灯检查方法存在工艺效率性降低的问题及由此导致本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种显示面板亮灯检查方法，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

3.根据权利要求1所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

4.根据权利要求1所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

5.根据权利要求4所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

6.根据权利要求1所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

7.根据权利要求6所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

8.根据权利要求6所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

9.根据权利要求6所述的显示面板亮灯检查方法，其中，</p>

10.一...

【技术特征摘要】

1.一种显示面板亮灯检查方法，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

3.根据权利要求1所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

4.根据权利要求1所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

5.根据权利要求4所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

6.根据权利要求1所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

7.根据权利要求6所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

8.根据权利要求6所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

9.根据权利要求6所述的显示面板亮灯检查方法，其中，

10.一种显示装置的制造方法，包括如下步骤：

11.根据权利要求10所述的显示装置的制造方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：金钟协，朴宰奭，朴俊河，安亨敏，李鎭坪，韩政洹，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：