【技术实现步骤摘要】
本公开涉及具有校验子产生器的半导体装置。
技术介绍
1、在例如dram(动态随机存取存储器)的半导体存储器装置的制造过程中，存在执行操作测试以确定每一地址是否可正常存取的情况。在操作测试中，测试读取数据被压缩在半导体存储器装置内以减少测试时间。然而，当提供专用总线或处理电路来传送通过测试读取数据的压缩产生的故障数据时，芯片大小变得更大。
技术实现思路
1、一方面，本公开提供一种设备，其包括：存储器单元阵列；i/o端子，其在正常操作中经供应有原始写入数据；压缩逻辑电路，其经配置以基于从所述存储器单元阵列读取的测试读取数据而在测试操作中产生经压缩测试数据；及校验子产生器，其经配置以基于所述正常操作中的所述原始写入数据来产生第一校验子，且基于所述测试操作中的所述经压缩测试数据来产生第二校验子。
2、另一方面，本公开提供一种设备，其包括：存储器单元阵列；第一电路，其包含经配置以产生校验子的校验子产生器；第二电路，其包含经配置以产生经压缩测试数据的压缩逻辑电路；数据总线，其耦合在所述第一...
【技术保护点】
1.一种设备，其包括：
2.根据权利要求1所述的设备，其中在对应于写入操作的所述正常操作中，将通过使用所述第一校验子来校正所述原始写入数据而获得的经校正写入数据写入在所述存储器单元阵列中。
3.根据权利要求1所述的设备，其中在所述测试操作中从所述I/O端子输出所述第二校验子。
4.根据权利要求2所述的设备，其进一步包括数据总线，
5.根据权利要求4所述的设备，其中在所述测试操作中，所述测试读取数据经由所述数据总线从所述存储器单元阵列传送到所述压缩逻辑电路。
6.根据权利要求5所述的设备，其中在所述测试操作中，...
【技术特征摘要】
1.一种设备，其包括：
2.根据权利要求1所述的设备，其中在对应于写入操作的所述正常操作中，将通过使用所述第一校验子来校正所述原始写入数据而获得的经校正写入数据写入在所述存储器单元阵列中。
3.根据权利要求1所述的设备，其中在所述测试操作中从所述i/o端子输出所述第二校验子。
4.根据权利要求2所述的设备，其进一步包括数据总线，
5.根据权利要求4所述的设备，其中在所述测试操作中，所述测试读取数据经由所述数据总线从所述存储器单元阵列传送到所述压缩逻辑电路。
6.根据权利要求5所述的设备，其中在所述测试操作中，所述经压缩测试数据经由所述数据总线从所述压缩逻辑电路传送到所述校验子产生器。
7.根据权利要求6所述的设备，其中在对应于读取操作的所述正常操作中，从所述存储器单元阵列读取的读取数据经由所述数据总线从所述存储器单元阵列传送到所述i/o端子。
8.根据权利要求6所述的设备，
9.根据权利要求8所述的设备，其中在所述测试操作中，所述测试读取数据...
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