【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片半导体领域,尤其涉及一种存储颗粒的电流自动测量电路及方法。
技术介绍
1、nand闪存(not and闪存)是一种非易失存储器,具有存储容量大、数据吞吐量大等优点,被广泛应用于各类电子产品。目前,在nand颗粒性能质量筛选过程中,会涉及到各种功耗场景的电流测试,而在不同的功耗场景下,其测量量程之间存在很大差异,如read、program、erase等颗粒在act i ve模式下,功耗约在百毫安级别的;但在idle和iddq等模式下,功耗约为毫安和微安级别。现有技术中,为了保证电流测试精度,需要多次手动切换不同的测量量程进行测试。
2、因此,现有的存储颗粒在电流测试时存在自动化程度低的问题。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种存储颗粒的电流自动测量电路及方法,旨在解决现有的存储颗粒在电流测试时存在自动化程度低的问题。
2、第一方面,本专利技术实施例提供了一种存储颗粒的电流自动测量电路及方法,其包括:电流检测电路、保护电路、电源端、rs电路、电流采
...【技术保护点】
1.一种存储颗粒的电流自动测量电路,其特征在于,其包括:电流检测电路、保护电路、电源端、RS电路、电流采样电路、NAND闪存及MCU控制器;
2.根据权利要求1所述的存储颗粒的电流自动测量电路,其特征在于,所述电流检测电路包括第一模数转换器、基准Vref单元及运算放大器;
3.根据权利要求2所述的存储颗粒的电流自动测量电路,其特征在于,所述保护电路包括第一电容、第六电阻及第七电阻;
4.根据权利要求1所述的存储颗粒的电流自动测量电路,其特征在于,所述RS电路包括多个电阻测量电路;
5.根据权利要求4所述的存储颗粒的电流自
...【技术特征摘要】
1.一种存储颗粒的电流自动测量电路,其特征在于,其包括:电流检测电路、保护电路、电源端、rs电路、电流采样电路、nand闪存及mcu控制器;
2.根据权利要求1所述的存储颗粒的电流自动测量电路,其特征在于,所述电流检测电路包括第一模数转换器、基准vref单元及运算放大器;
3.根据权利要求2所述的存储颗粒的电流自动测量电路,其特征在于,所述保护电路包括第一电容、第六电阻及第七电阻;
4.根据权利要求1所述的存储颗粒的电流自动测量电路,其特征在于,所述rs电路包括多个电阻测量电路;
5.根据权利要求4所述的存储颗粒的电流自动测量电路,其特征在于,所述电阻测量电路由相串联的一个电阻与一个开关串联组成;
6.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员:王伟,唐海峰,罗海全,
申请(专利权)人:成都芯忆联信息技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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