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本公开涉及具有校验子产生器的半导体装置。一种设备，其包含：存储器单元阵列；I/O端子，其在正常操作中经供应有原始写入数据；压缩逻辑电路，其经配置以基于从所述存储器单元阵列读取的测试读取数据而在测试操作中产生经压缩测试数据；及校验子产生器，其...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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