【技术实现步骤摘要】
本申请涉及光学，特别是一种涉及传感器自校正方法及其应用。
技术介绍
1、tof测距系统（time-of-flight ranging system）是一种通过测量光或其他电磁波从发射到目标并返回所需的时间来计算距离的技术。这种技术常用于激光雷达、飞行时间摄影机和其他测距设备中。tof测距系统的基本原理是：发射器产生短脉冲的光（通常是激光光束）并将其瞄准目标，光脉冲传播到目标并被目标表面反射，接收器探测到反射的光脉冲。系统记录发射和接收之间的时间差，即光的往返时间，通过使用光速和往返时间，可以计算目标与传感器之间的距离。
2、目前的tof测距系统通常包括主机、多通道tdc和环境传感器，但是这种技术存在一个主要缺陷，即tdc等电路会随着温度、湿度、光照、电压等因素的变化而产生误差，对使用环境要求较高。
3、因此，亟待一种新的传感器自校正方法及其应用，以解决现有技术存在的问题，能够避免环境因素对系统的影响，提高适用性和精度。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了传感器自校正方法及其应用，针对目前技术存在的对使用环境要求较高等问题。
2、本专利技术核心技术主要是通过在系统初始化阶段发送自校正向量，测量时间误差，并在真实信号到来时应用校正量，实现了对tof测距系统中的自校正。
3、第一方面，本申请提供了传感器自校正方法，所述方法包括以下步骤：
4、s00、在tdc的开始信号到来前发送m次自校正向量至n个tdc通道；
5、
6、其中，该时间误差为需要校正的量；
7、s20、通过tdc测量每个tdc通道的第一直方图信息，同时在tdc下一次的开始信号到来时延时t1发送m次自校正向量；
8、其中，该第一直方图信息包括第一bin值信息和事件数m；
9、s30、通过tdc测量每个tdc通道的第二直方图信息并计算每个tdc通道的时间分辨率；
10、其中，该第二直方图信息包括第二bin值信息和事件数m；
11、s40、基于时间分辨率和第一bin值信息计算得到每个tdc通道的校正量；
12、s50、在真实信号到来时，每个tdc通道的数据加每个通道对应的校正量再输出以实现自校正。
13、进一步地，s30步骤中，时间分辨率通过延时t1除以第二bin值信息得到。
14、进一步地，s30步骤中，时间分辨率lsbx：
15、lsbx=t1/dx1
16、其中x为1~n，dx1为第二bin值信息。
17、进一步地，s40步骤中，校正量tx0：
18、tx0=dx0*lsbx=dx0*t1/dx1
19、其中，x为1~n，dx0第一bin值信息。
20、进一步地，s20步骤中，通过系统时钟延时t1。
21、进一步地，s00~s50步骤中，通过tof测距系统的主机发送自校正向量。
22、进一步地，s00~s50步骤中，通过tof测距系统的主机计算时间分辨率和校正量。
23、第二方面，本申请提供了一种传感器自校正装置，包括：
24、主机模块，在tdc的开始信号到来前发送m次自校正向量至n个tdc通道；取开始信号到达tdc通道的时间与每个tdc通道的自校正向量到达时间的时间差作为时间误差；在tdc下一次的开始信号到来时利用系统时钟延时t1发送m次自校正向量；其中，该时间误差为需要校正的量；基于时间分辨率和第一bin值信息计算得到每个tdc通道的校正量；
25、多通道tdc，tdc测量每个tdc通道的第一直方图信息；测量每个tdc通道的第二直方图信息并利用主机模块计算每个tdc通道的时间分辨率；其中，该第一直方图信息包括第一bin值信息和事件数m；其中，该第二直方图信息包括第二bin值信息和事件数m；
26、自校正模块，在真实信号到来时，每个tdc通道的数据加每个通道对应的校正量再输出以实现自校正。
27、第三方面，本申请提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，处理器被设置为运行计算机程序以执行上述的传感器自校正方法。
28、第四方面，本申请提供了一种可读存储介质，可读存储介质中存储有计算机程序，计算机程序包括用于控制过程以执行过程的程序代码，过程包括根据上述的传感器自校正方法。
29、本专利技术的主要贡献和创新点如下：1、与现有技术相比，本申请利用两次发送自校正向量，并在第二次时用固定的延时t1来发送，从而可以精准地计算出校正量，实现了传感器的自校正，避免了温度、电压、寿命等因素对系统造成的影响，可以适用于各种环境，提高了系统的适用性、可靠性和稳定性；
30、2、与现有技术相比，本申请可解决现有主机发送自校正向量会存在实际误差的情况，而且这个实际误差是未知的，不一定是相同的，而且不需要对tof系统的结构进行改进，只需要对tof系统进行系统升级即可，改造成本低。
31、本申请的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本申请的其他特征、目的和优点更加简明易懂。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.传感器自校正方法，用于对TOF测距系统中的TDC进行校正，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的传感器自校正方法，其特征在于，S30步骤中，所述时间分辨率通过延时t1除以第二bin值信息得到。
3.如权利要求2所述的传感器自校正方法，其特征在于，S30步骤中，所述时间分辨率LSBx：
4.如权利要求3所述的传感器自校正方法，其特征在于，S40步骤中，所述校正量tx0：
5.如权利要求1-4任意一项所述的传感器自校正方法，其特征在于，S20步骤中，通过系统时钟延时t1。
6.如权利要求5所述的传感器自校正方法，其特征在于，S00~S50步骤中，通过所述TOF测距系统的主机发送自校正向量。
7.如权利要求5所述的传感器自校正方法，其特征在于，S00~S50步骤中，通过所述TOF测距系统的主机计算时间分辨率和校正量。
8.一种传感器自校正装置，其特征在于，包括：
9.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程
10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序包括用于控制过程以执行过程的程序代码，所述过程包括根据权利要求1至7任一项所述的传感器自校正方法。
...【技术特征摘要】
1.传感器自校正方法，用于对tof测距系统中的tdc进行校正，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的传感器自校正方法，其特征在于，s30步骤中，所述时间分辨率通过延时t1除以第二bin值信息得到。
3.如权利要求2所述的传感器自校正方法，其特征在于，s30步骤中，所述时间分辨率lsbx：
4.如权利要求3所述的传感器自校正方法，其特征在于，s40步骤中，所述校正量tx0：
5.如权利要求1-4任意一项所述的传感器自校正方法，其特征在于，s20步骤中，通过系统时钟延时t1。
6.如权利要求5所述的传感器自校正方法，其特征在于，s00~s50步骤中...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓忠旭，陈慧卿，姚晨旭，许鹤松，梅健，
申请(专利权)人：杭州宇称电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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