一种非接触测量厚度的测量装置制造方法及图纸

本技术公开了一种非接触测量厚度的测量装置包括平板、设置在平板上方左侧的左支架、设置在平板上方右侧的右支架、设置在所述左支架上的左激光发射器和左激光接收器、设置在所述右支架上的右激光发射器和右激光接收器，左激光发射器和右激光发射器位于同一水平高度且位于同一水平轴线上，左激光接收器和右激光接收器位于同一水平高度且位于同一水平轴线上，左激光发射器、右激光发射器和平板之间的区域为工件厚度检测区，待检测测量工件位于工件厚度检测区。通过采用上述结构，与传统的高度规测量方式相比：由于采用激光测量，无接触误差，也无平台磨损导致的精度不准，提高了测量效率，减少了测量误差。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种非接触测量厚度的测量装置，尤其涉及一种可快速测量、使用方便、测量效率高的非接触测量厚度的测量装置。

技术介绍

1、对于研磨后的工件厚度测量，常规做法是，利用带大理石基座的高度规测量工件的厚度，由于工件在大理石基座上经常移动，导致大理石基座的平面度很快变差，从而使得高度规测量的数据不能反应真实的工件厚度。为解决上述问题，本技术亟待解决上述问题。

技术实现思路

1、本技术所要解决的技术问题是提供一种非接触测量厚度的测量装置，具有可快速测量、使用方便、测量效率高的特点。

2、为解决上述技术问题，本技术的技术方案为：一种非接触测量厚度的测量装置，其创新点在于：所述非接触测量厚度的测量装置包括平板、设置在平板上方左侧的左支架、设置在平板上方右侧的右支架、设置在所述左支架上的左激光发射器和与所述左激光发射器信号反馈的左激光接收器、设置在所述右支架上的右激光发射器和与所述右激光发射器信号反馈的右激光接收器，所述左激光发射器和所述右激光发射器位于同一水平高度且位于同一水平轴线上，所述左激光接收器和所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种非接触测量厚度的测量装置，其特征在于：所述非接触测量厚度的测量装置包括平板、设置在平板上方左侧的左支架、设置在平板上方右侧的右支架、设置在所述左支架上的左激光发射器和与所述左激光发射器信号反馈的左激光接收器、设置在所述右支架上的右激光发射器和与所述右激光发射器信号反馈的右激光接收器，所述左激光发射器和所述右激光发射器位于同一水平高度且位于同一水平轴线上，所述左激光接收器和所述右激光接收器位于同一水平高度且位于同一水平轴线上，所述左激光发射器、所述右激光发射器和所述平板之间的区域为工件厚度检测区，待检测测量工件位于所述工件厚度检测区。

2.如权利要求1所述的一种非接触测...

【技术特征摘要】

1.一种非接触测量厚度的测量装置，其特征在于：所述非接触测量厚度的测量装置包括平板、设置在平板上方左侧的左支架、设置在平板上方右侧的右支架、设置在所述左支架上的左激光发射器和与所述左激光发射器信号反馈的左激光接收器、设置在所述右支架上的右激光发射器和与所述右激光发射器信号反馈的右激光接收器，所述左激光发射器和所述右激光发射器位于同一水平高度且位于同一水平轴线上，所述左激光接收器和所述右激光接收器位于同一水平高度且位于同一水平轴线上，所述左激光发射器、所述右激光发射器和所述平板之间的区域为工件厚度检测区，待检测测量工件位于所述工件厚度检测区。

2.如权利要求1所述的一种非接触测量厚度的测量装置，其特征在于：所述平板上设置有供所述左支架和所述右支架绕待检测测量工件整圈转动的环状导轨。

3.如权利要求2所述的一种非接触测量厚度的测量装置，其特征在于：所述左支架和所述右支架上分别设置有位于左支架底部和右支架底部的左导轮和右导轮，所述左导轮和所述右导轮滑配在所述环状导轨内。

4.如权利要求2所述的一种非接触测量厚度的测量装置，其特征在于：所述平板上设置有左支架初始定位结构和右支架初始定位结构，初始状态时，所述左支架和所述右支架平行设置且所述左支架和所述右支架对称分布在平板左侧和平板右侧。

5.如权利要求4所述的一种非接触测量厚度的测量装置，其特征在于：所述左支架初始定位结构包括分别设置在左支架前面和左支架后...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕弘杲，
申请(专利权)人：厦门市海鼎盛科技有限公司，
类型：新型
国别省市：