【技术实现步骤摘要】
本申请涉及预警检测，尤其涉及硫化氢腐蚀程度检测方法及系统、主控单元及存储介质。
技术介绍
1、在工业生产环境中，pcba(printed circuit board assembly，装配印制电路板)经常会暴露在硫化氢气体中，尤其是化工、橡胶制品、污水处理和垃圾焚烧等行业和场所。在硫化氢和环境湿度的作用下，pcba上的焊点、过孔、走线、器件等会被硫化氢腐蚀，造成电路短路或开路，导致产品发生故障，严重影响生产效率。
2、目前，相关技术中主要通过在pcb上增加特殊金属材质的检测电阻，通过电阻被腐蚀引起的阻抗变化来提前预警。
3、但是，这种金属检测电阻需要花费较高的成本进行定制，且其无法区分引起阻抗变化的腐蚀源头是否是硫化氢气体，容易由于其他污染物引起误告警，因此实用性不高。
技术实现思路
1、本申请的主要目的在于提供一种硫化氢腐蚀程度检测方法及系统、主控单元及存储介质，旨在解决如何精准获知硫化氢气体对装配印制电路板的腐蚀程度并进行预警的技术问题。
2、为实现上述目的，本申请提供一种硫化氢腐蚀程度检测方法，所述硫化氢腐蚀程度检测方法应用于硫化氢腐蚀程度检测系统，所述硫化氢腐蚀程度检测系统用于检测待测电路板的硫化氢腐蚀程度，包括：设置在所述待测电路板的指定位置且接入电源的被测对象、用于对所述被测对象进行信号检测的检测电路以及与所述检测电路连接的主控单元，其中，所述被测对象的表面覆有一层能够隔离粉尘且吸附硫化氢的涂料，所述硫化氢腐蚀程度检测方法包括所述主控
3、基于所述检测电路对所述被测对象进行信号检测以确定预警信号；
4、根据所述被测对象的属性以及所述预警信号的变化情况确定所述待测电路板的硫化氢腐蚀程度；
5、根据所述硫化氢腐蚀程度输出预警信息。
6、可选地，所述基于所述检测电路对所述被测对象进行信号检测以确定预警信号的步骤，包括：
7、基于所述检测电路检测所述被测对象的开关量信号，根据所述开关量信号的变化确定预警信号；或，
8、基于所述检测电路检测与所述被测对象串联的电阻的串联阻值，根据所述串联阻值的变化确定预警信号。
9、可选地，所述待测电路板上设置有多个所述被测对象，所述基于所述检测电路对所述被测对象进行信号检测以确定预警信号的步骤，包括：
10、基于所述检测电路分别检测各所述被测对象的开关量信号，根据各所述开关量信号的变化确定预警信号；或，
11、基于所述检测电路检测各所述被测对象的串联电阻并联之后的并联阻值，根据所述并联阻值的变化确定预警信号。
12、可选地，所述根据所述被测对象的属性以及所述预警信号的变化情况确定所述待测电路板的硫化氢腐蚀程度的步骤，包括：
13、在根据所述预警信号的变化情况确定所述被测对象被腐蚀开路的情况下，根据所述被测对象的厚度或宽度确定所述待测电路板受硫化氢腐蚀的腐蚀时长；
14、根据所述腐蚀时长确定所述待测电路板的硫化氢腐蚀程度。
15、可选地，所述根据所述硫化氢腐蚀程度输出预警信息的步骤，包括：
16、在所述硫化氢腐蚀程度为轻度腐蚀的情况下，输出轻度预警信息；
17、在所述硫化氢腐蚀程度为中度腐蚀的情况下，输出中度预警信息；
18、在所述硫化氢腐蚀程度为严重腐蚀的情况下，输出严重预警信息。
19、可选地，所述被测对象包括金属走线或金属过孔。
20、可选地，所述涂料为硅胶。
21、此外，为实现上述目的，本申请还提供一种主控单元，所述主控单元包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上所述的硫化氢腐蚀程度检测方法的步骤。
22、此外，为实现上述目的，本申请还提供一种硫化氢腐蚀程度检测系统，所述硫化氢腐蚀程度检测系统包括：待测电路板、设置在所述待测电路板的指定位置且接入电源的被测对象、用于对所述被测对象进行信号检测的检测电路以及与所述检测电路连接的如上所述的主控单元，其中，所述被测对象的表面覆有一层能够隔离粉尘且吸附硫化氢的涂料。
23、此外，为实现上述目的，本申请还提供一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的硫化氢腐蚀程度检测方法的步骤。
24、本申请提出一种硫化氢腐蚀程度检测方法及系统、主控单元及存储介质，所述硫化氢腐蚀程度检测方法应用于硫化氢腐蚀程度检测系统，所述硫化氢腐蚀程度检测系统用于检测待测电路板的硫化氢腐蚀程度，包括：设置在所述待测电路板的指定位置且接入电源的被测对象、用于对所述被测对象进行信号检测的检测电路以及与所述检测电路连接的主控单元，其中，所述被测对象的表面覆有一层能够隔离粉尘且吸附硫化氢的涂料，所述硫化氢腐蚀程度检测方法包括所述主控单元执行的以下步骤：基于所述检测电路对所述被测对象进行信号检测以确定预警信号；根据所述被测对象的属性以及所述预警信号的变化情况确定所述待测电路板的硫化氢腐蚀程度；根据所述硫化氢腐蚀程度输出预警信息。本申请通过在待测电路板的指定位置上设置表面被能够隔离粉尘且吸附硫化氢的涂料覆盖的被测对象，能够精准获知硫化氢气体对被测对象的腐蚀程度，通过检测电路基于被测对象进行信号检测，进而以预警信号的形式将被测对象的腐蚀程度反馈给主控单元，通过主控单元对被测对象的属性和腐蚀程度之间的关系进行比对，进而准确获知硫化氢气体对装配印制待测电路板的腐蚀程度并进行预警，克服了相关技术中的硫化氢腐蚀检测方案实用性不高的技术缺陷。
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1.一种硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所述硫化氢腐蚀程度检测方法应用于硫化氢腐蚀程度检测系统，所述硫化氢腐蚀程度检测系统用于检测待测电路板的硫化氢腐蚀程度，包括：设置在所述待测电路板的指定位置且接入电源的被测对象、用于对所述被测对象进行信号检测的检测电路以及与所述检测电路连接的主控单元，其中，所述被测对象的表面覆有一层能够隔离粉尘且吸附硫化氢的涂料，所述硫化氢腐蚀程度检测方法包括所述主控单元执行的以下步骤：
2.如权利要求1所述的硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所述基于所述检测电路对所述被测对象进行信号检测以确定预警信号的步骤，包括：
3.如权利要求1所述的硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所述待测电路板上设置有多个所述被测对象，所述基于所述检测电路对所述被测对象进行信号检测以确定预警信号的步骤，包括：
4.如权利要求1所述的硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所述根据所述被测对象的属性以及所述预警信号的变化情况确定所述待测电路板的硫化氢腐蚀程度的步骤，包括：
5.如权利要求1所述的硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所
6.如权利要求1所述的硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所述被测对象包括金属走线或金属过孔。
7.如权利要求1所述的硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所述涂料为硅胶。
8.一种主控单元，其特征在于，所述主控单元包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的硫化氢腐蚀程度检测方法的步骤。
9.一种硫化氢腐蚀程度检测系统，其特征在于，所述硫化氢腐蚀程度检测系统用于检测待测电路板的硫化氢腐蚀程度，包括：设置在所述待测电路板的指定位置且接入电源的被测对象、用于对所述被测对象进行信号检测的检测电路以及与所述检测电路连接的如权利要求8所述的主控单元，其中，所述被测对象的表面覆有一层能够隔离粉尘且吸附硫化氢的涂料。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的硫化氢腐蚀程度检测方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所述硫化氢腐蚀程度检测方法应用于硫化氢腐蚀程度检测系统，所述硫化氢腐蚀程度检测系统用于检测待测电路板的硫化氢腐蚀程度，包括：设置在所述待测电路板的指定位置且接入电源的被测对象、用于对所述被测对象进行信号检测的检测电路以及与所述检测电路连接的主控单元，其中，所述被测对象的表面覆有一层能够隔离粉尘且吸附硫化氢的涂料，所述硫化氢腐蚀程度检测方法包括所述主控单元执行的以下步骤：
2.如权利要求1所述的硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所述基于所述检测电路对所述被测对象进行信号检测以确定预警信号的步骤，包括：
3.如权利要求1所述的硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所述待测电路板上设置有多个所述被测对象，所述基于所述检测电路对所述被测对象进行信号检测以确定预警信号的步骤，包括：
4.如权利要求1所述的硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所述根据所述被测对象的属性以及所述预警信号的变化情况确定所述待测电路板的硫化氢腐蚀程度的步骤，包括：
5.如权利要求1所述的硫化氢腐蚀程度检测方法，其特征在于，所述根据所述硫化...
【专利技术属性】
技术研发人员：张兆来，
申请(专利权)人：深圳市汇川技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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