光拾取器和光信息记录再现装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光拾取器和光信息记录再现装置。以使来自光盘的反射光分割.衍射的衍射光学元件中的区域，将反射光分割为多个不同衍射级数的光并受光，利用受光信号进行反馈控制，由此使衍射光学元件、光检测器的位置关系对齐。在对透过衍射光学元件的中央区域的光束进行检测而生成ＲＦ信号的光检测器的附近配置副光检测器，接收来自非对象层的反射杂散光并进行运算，由此计算ＲＦ信号检测器接收的反射杂散光成分，仅检测来自对象层的反射光信号成分。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光拾取器和光信息记录再现装置，例如涉及进行具有多个记录层的多 层光盘的记录或再现的光拾取器和搭载有该光拾取器的光信息记录再现装置。
技术介绍
光信息记录再现装置，具有对光盘记录音乐、影像、各种数据等信息和对信息进行 再现的功能。近年来，光盘实现了使用蓝色半导体激光和高NA物镜的Blu-rayDiSC(BD，蓝光光 盘)的商品化，但光学系统的分辨率已几乎达到了极限。因此，为了进一步大容量化，实现 光盘中的信息记录层的多层化得到了重视。但是，存在下述层间串扰的问题，即，多层光盘 中来自记录再现的对象层以外的非对象层的反射杂散光会漏入检测器，对伺服信号造成影 响。光盘装置将来自光盘的反射光用例如全息光学元件(HOE ^olographic Optical Elements)等衍射光学元件分割·衍射为多个光束，用光检测器受光，根据与受光量相应 的检测信号生成再现RF信号(RFS :Eadio Frequency Signal，射频信号)、聚焦误差信号 (FES =Focus Error Signal)、跟踪误差信号(TESJracking Error Signal) 在 TES 检测 中，BD-R(Blu-ray 2isc_Eecordable，可记录蓝光光盘)和 BD-RE (EEwritable，可重写) 等记录型盘片用推挽(PP =Push-Pull)法，BD-ROM(Read Only Memory，只读存储器)用 Differential Phase Detection (DPD，差分相位检测)法，根据记录介质的种类切换信号检 测或信号处理。例如，专利文献1中，双层光盘的聚焦误差信号检测采用刀刃法，按照来自非对象 层的反射杂散光不会入射到检测伺服信号的光检测器的方式配置光检测器。此时作为主要 生成RFS的衍射光，因为使来自非对象层的反射杂散光尽量不漏入伺服信号用光检测器， 所以检测的是衍射级数为1级或-1级衍射的光。此外，例如，专利文献2中，公开了除去漏入光检测器的杂散光成分的方法。专利 文献2中，检测来自光盘的反射光，在生成RFS、TES、FES的主光检测器的旁边，仅检测来自 非对象层的反射杂散光的光检测器配置在主光检测器的旁边，计算与主检测器接收的反射 杂散光相同程度的杂散光信号，从检测信号求取差值。由此，检测出不包含杂散光信号成分 的来自对象层的稳定的TES。专利文献2中，聚焦误差信号检测采用光斑尺寸检测法(SSD Spot Size detection)，SSD用的光检测器按照来自非对象层的反射杂散光不会漏入的方 式离开RFS、TES用光检测器配置。但是，专利文献1中记载的方法中，因为检测不到透过HOE的O级光的光，所以存 在光拾取器的初始组装时HOE与光检测器的对位较为困难这一问题点。这样，因为光检测 器的配置调整比较困难，所以用专利文献1的方法不能应对比双层更多层的光盘。此外，专利文献2中，因为主要生成RFS的光检测器中来自对象层的信号反射光 和来自非对象层的反射杂散光在相同光轴上传播，所以存在RFS内包含杂散光成分这一问题。另外，专利文献2中记载的方法中，需要另外准备HOE用于SSD。因为SSD用的HOE造 成光路长度变长，所以也存在光拾取器变得大型这一问题点。专利文献1 日本特愿2006-283248号公报=日本特开2008-102998 = US2008/0094948专利文献2 日本特愿2007-289894号公报=日本特开2008-287851 = US无
技术实现思路
本专利技术鉴于这样的状况完成，提供一种例如即使在对3层以上的多层光盘进行信 息记录再现的情况下也适合的光拾取器和具备它的光信息记录再现装置。(1)为了解决上述课题，本专利技术中提供一种光拾取器，其具有调整·记录再现兼用 HOE或者按组装调整用和记录再现用、因TES检测中的DPD法/推挽法而不同的Η0Ε，在具 有多个HOE的情况下具备切换功能。光拾取器具备主(RFS/TES检测用)光检测器和虚拟 (dummy)(组装调整用)光检测器。该主光检测器，相对于来自光盘的反射光中透过HOE中 生成RFS的一部分的区域的第一反射光成分，配置在生成RFS的一部分的衍射级数为0级 以外的第一衍射光所到达的位置。此外，虚拟光检测器配置在具有与第一衍射光不同的衍 射级数的第二衍射光所到达的位置。光信息记录再现装置通过使用与主光检测器和虚拟光 检测器的光检测量相应的主检测信号和虚拟检测信号，进行对于HOE和光检测器的位置关 系的反馈控制。(2)此外，本专利技术的光拾取器，在主要生成RFS的RF用主光检测器的附近具备用于 检测来自非对象层的反射杂散光的副光检测器。光信息记录再现装置，对该副光检测器检 测出的杂散光信号乘以对应于RF用主光检测器与该副光检测器的面积比和位置关系的适 当的系数，计算出RF用主光检测器检测出的杂散光成分，将其从RF用主光检测器检测出的 检测信号中减去，从而检测出对象层的再现RFS。(3)换言之，一方式(图4和图5)的光信息记录再现装置中，光拾取器的光检测 器，具备第一(主)和第二(虚拟)光检测部。第一光检测部检测由衍射光学元件生成的 衍射光中、作为反射光的中央区域的衍射光的第一衍射光。第二检测部检测反射光的中央 区域的衍射光中级数与第一衍射光不同的第二衍射光。光检测器输出与第二衍射光的检测 量相应的信号即用于生成组装调整用的信号的第一检测信号，和与第一衍射光的检测量相 应的信号即用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号的第二检测信号。另一方面，信号 处理电路基于第一检测信号生成用于调整衍射光学元件与光检测器的位置关系的位置调 整用控制信号，基于第二检测信号生成信息记录再现信号和伺服信号。而且，驱动控制部基 于位置调整用控制信号和伺服信号调整光拾取器内的衍射光学元件和光检测器的位置，基 于伺服信号执行聚焦控制和跟踪控制。另外，也可以在光检测器中设置检测来自具有多个信息记录层的光记录介质的非 对象层的反射杂散光的第三(副)光检测部。通过该第三光检测部检测用于计算杂散光成 分的第三检测信号。另一方面，信号处理电路基于第三检测信号计算杂散光成分，从信息记 录再现信号中减去杂散光成分，由此生成仅起因于光记录介质的对象层的信息记录再现信号。其他方式(图9)也可以如以下所述，在光拾取器中，衍射光学元件具有第一功能9(组装调整用/DPD用Η0Ε)和第二功能(PP用Η0Ε)，具备用于在衍射光学元件的第一和第 二功能之间切换功能的切换元件。在选择了第一功能的情况下，光检测器输出与第二衍射 光的检测量相应的信号即用于生成组装调整用的信号的第一检测信号，在选择了第二功能 的情况下，光检测器输出与第一衍射光的检测量相应的信号即用于生成信息记录再现和反 馈控制用的信号的第二检测信号。信号处理电路和驱动控制部执行与上述相同的动作。此外，其他方式(图10和11)如以下所述，在光拾取器中，衍射光学元件具有第一 功能(组装调整用/DPD用Η0Ε)和第二功能(PP用Η0Ε)，设置有用于在衍射光学元件的第 一和第二功能之间切换功能的切换元件，光检测器具备检测由衍射光学元件生成的衍射光 中、作为反射光的中央区域的衍射光的第一衍射光(+本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光拾取器，其特征在于，包括：物镜，其用于使来自光源的光照射到光记录介质的信息记录层；衍射光学元件，其将来自所述光记录介质的反射光分割为多个光束并使其衍射；和光检测器，其接收被所述衍射光学元件衍射的光束，所述光检测器具备：第一光检测部，其检测由所述衍射光学元件生成的衍射光中、作为所述反射光的中央区域的衍射光的第一衍射光；和第二光检测部，其检测所述反射光的中央区域的衍射光中、级数与所述第一衍射光不同的第二衍射光，所述光检测器输出第一检测信号和第二检测信号，其中，该第一检测信号是与所述第二衍射光的检测量相应的信号，用于生成组装调整用的信号，该第二检测信号是与所述第一衍射光的检测量相应的信号，用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：达永里子，井手达朗，木村茂治，山崎和良，
申请(专利权)人：日立视听媒介电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]